[實用新型]基于SOI和壓電薄膜的聲表面波高溫應(yīng)變傳感器芯片及其應(yīng)用結(jié)構(gòu)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721158538.0 | 申請日: | 2017-09-11 |
| 公開(公告)號: | CN207622713U | 公開(公告)日: | 2018-07-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 牟笑靜;竇韶旭;齊夢珂 | 申請(專利權(quán))人: | 重慶大學(xué) |
| 主分類號: | G01B17/04 | 分類號: | G01B17/04;H03H9/25 |
| 代理公司: | 重慶市前沿專利事務(wù)所(普通合伙) 50211 | 代理人: | 顧曉玲 |
| 地址: | 400030 *** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 壓電薄膜 應(yīng)變傳感器芯片 基底 叉指換能器 絕緣保護(hù)層 基底底面 聲表面波 應(yīng)用結(jié)構(gòu) 反射柵 通孔 本實用新型 第二表面 第一表面 高溫環(huán)境 航空航天 基底側(cè)壁 石油化工 應(yīng)變參數(shù) 底電極 隔離層 體積小 應(yīng)變腔 重量輕 核工業(yè) 腔室 開口 測量 延伸 應(yīng)用 | ||
1.一種基于SOI和壓電薄膜的聲表面波高溫應(yīng)變傳感器芯片,其特征在于,包括:
SOI芯片基底,所述SOI芯片基底具有第一表面和第二表面,在所述SOI芯片基底上形成有壓電薄膜,在所述壓電薄膜之上形成有叉指換能器和反射柵。
2.如權(quán)利要求1所述的基于SOI和壓電薄膜的聲表面波高溫應(yīng)變傳感器芯片,其特征在于,在SOI芯片基底內(nèi)從SOI芯片基底底面延伸至SOI隔離層形成有應(yīng)變腔室,所述腔室在SOI芯片基底底面和SOI芯片基底側(cè)壁均有開口。
3.如權(quán)利要求1或2所述的基于SOI和壓電薄膜的聲表面波高溫應(yīng)變傳感器芯片,其特征在于,SOI器件層的電阻率≥5kΩ;
和/或所述壓電薄膜為晶粒呈c軸取向的純AlN壓電薄膜或含鈧的AlN壓電薄膜。
4.如權(quán)利要求1所述的基于SOI和壓電薄膜的聲表面波高溫應(yīng)變傳感器芯片,其特征在于,叉指換能器和反射柵在壓電薄膜上方呈平行設(shè)置,所述叉指換能器和反射柵材料為同一種材料。
5.如權(quán)利要求1或4所述的基于SOI和壓電薄膜的聲表面波高溫應(yīng)變傳感器芯片,其特征在于,所述叉指換能器和反射柵的材料為鋁、金、鉬、鉑、銥或其合金。
6.如權(quán)利要求1所述的基于SOI和壓電薄膜的聲表面波高溫應(yīng)變傳感器芯片,其特征在于,在SOI芯片基底與壓電薄膜之間形成有底電極,所述底電極可引出并接地,也可不引出。
7.如權(quán)利要求1或6所述的基于SOI和壓電薄膜的聲表面波高溫應(yīng)變傳感器芯片,其特征在于,在SOI芯片基底與底電極之間形成有二氧化硅平鋪層,或者在SOI芯片基底與底電極之間形成有二氧化硅立體結(jié)構(gòu)與多晶硅立體結(jié)構(gòu)交叉分布的周期性陣列平鋪層;或者在SOI芯片基底與壓電薄膜之間形成有二氧化硅平鋪層,或者在SOI芯片基底與壓電薄膜之間形成有二氧化硅立體結(jié)構(gòu)與多晶硅立體結(jié)構(gòu)交叉分布的周期性陣列平鋪層;
和/或在叉指換能器和反射柵之上形成有絕緣保護(hù)層,在壓電薄膜和絕緣保護(hù)層上有貫通至底電極和叉指換能器的通孔,在絕緣保護(hù)層上的通孔處形成有信號引出盤。
8.一種權(quán)利要求1所述基于SOI和壓電薄膜的聲表面波高溫應(yīng)變傳感器芯片的應(yīng)用結(jié)構(gòu),其特征在于,同時使用兩個諧振器或兩個延遲線形式的雙通道補償方式補償?shù)窒h(huán)境溫度的變化導(dǎo)致的應(yīng)變測量誤差,所述兩個諧振器或兩個延遲線由于位置不同或結(jié)構(gòu)參數(shù)不同而具有不同的溫度敏感性能和/或應(yīng)變敏感性能。
9.一種權(quán)利要求1所述基于SOI和壓電薄膜的聲表面波高溫應(yīng)變傳感器芯片的應(yīng)用結(jié)構(gòu),其特征在于,如所述芯片中存在兩種或兩種以上的對溫度和應(yīng)變敏感的聲波模態(tài),同時使用兩種聲波模態(tài)信號補償方式補償?shù)窒h(huán)境溫度的變化導(dǎo)致的應(yīng)變測量誤差,所述兩種聲波模態(tài)具有不同的溫度敏感性能和/或應(yīng)變敏感性能。
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