[實(shí)用新型]背投影式光電探測(cè)清紗裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201721141686.1 | 申請(qǐng)日: | 2017-09-07 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN207502423U | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-06-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 彭和建;吳作良;徐一凡 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海科華光電技術(shù)研究所 |
| 主分類號(hào): | G01N21/95 | 分類號(hào): | G01N21/95;G01N21/64;G01N21/27;G01N21/01 |
| 代理公司: | 北京東方匯眾知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11296 | 代理人: | 張淑賢 |
| 地址: | 20000*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 清紗裝置 紗線 檢測(cè) 探測(cè)器 本實(shí)用新型 背投影式 光電探測(cè) 異色纖維 異質(zhì)纖維 發(fā)光管 光電流 光電式 光敏面 檢測(cè)法 紫外增強(qiáng)型硅光電二極管 反射鏡反射 光線照射 檢測(cè)結(jié)果 齊平設(shè)置 雜光信號(hào) 光波 捕獲率 濾光片 信噪比 波段 減小 同質(zhì) 反射 過(guò)濾 照射 采集 響應(yīng) | ||
本實(shí)用新型涉及背投影式光電探測(cè)清紗裝置以解決現(xiàn)有技術(shù)中使用光電式檢測(cè)法的清紗裝置不能檢測(cè)出異質(zhì)纖維和同質(zhì)異色纖維的技術(shù)問(wèn)題。發(fā)光管的前端與探測(cè)器的光敏面齊平設(shè)置使得發(fā)光管發(fā)出的光不會(huì)直接進(jìn)入探測(cè)器中,而是會(huì)經(jīng)濾光片過(guò)濾并照射待檢測(cè)紗線后再由待檢測(cè)紗線反射或是由反射鏡反射回探測(cè)器的光敏面,有利于減小雜光信號(hào)對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響,提高采集到信號(hào)的信噪比。而PIN型紫外增強(qiáng)型硅光電二極管使得其能在較低的波段開(kāi)始響應(yīng),且在接收到一定功率光線照射后能產(chǎn)生的光電流強(qiáng)度較大,所以本實(shí)用新型具有極大的光波捕獲率及光電流轉(zhuǎn)化率,因而可以僅使用光電式檢測(cè)法檢測(cè)出待檢測(cè)紗線中的同質(zhì)異色纖維和同色異質(zhì)纖維。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及背投影式光電探測(cè)清紗裝置。
背景技術(shù)
為提高紡織品的質(zhì)量,需要檢測(cè)出異質(zhì)纖維以及同質(zhì)纖維的不同雜色,這一過(guò)程統(tǒng)稱為清紗。當(dāng)今世界上廣泛應(yīng)用的清紗方法有光電式檢測(cè)法、電容式檢測(cè)法以及兩者相結(jié)合的檢測(cè)法。
光電式檢測(cè)法的原理如圖1所示,包括前后依次布置的發(fā)光管1、紗線2及探測(cè)器3,用發(fā)光管直接照射待檢測(cè)紗線,紗線檔去發(fā)光管發(fā)射出來(lái)的部分光線,探測(cè)器探測(cè)出被遮去的光通量的變化量而對(duì)紗線品質(zhì)進(jìn)行檢測(cè)。本方法使用被紗線遮去的光通量的變化量作為評(píng)價(jià)變量,因此一般只能檢測(cè)出紗線上的結(jié)頭、毛粒、短粗、長(zhǎng)粗、長(zhǎng)細(xì)等會(huì)影響紗線截面積的品質(zhì)問(wèn)題,卻不能檢測(cè)出異質(zhì)纖維和同質(zhì)異色纖維。
而國(guó)外有一些電子清紗器釆用光電式和電容式檢測(cè)相結(jié)合的方法,雖能檢測(cè)出異質(zhì)纖維和同色纖維,卻存在設(shè)計(jì)復(fù)雜、造價(jià)高的缺點(diǎn)。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于提供一種背投影式光電探測(cè)清紗裝置以解決現(xiàn)有技術(shù)中使用光電式檢測(cè)法的清紗裝置不能檢測(cè)出異質(zhì)纖維和同質(zhì)異色纖維的技術(shù)問(wèn)題。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型的背投影式光電探測(cè)清紗裝置采用以下技術(shù)方案:
背投影式光電探測(cè)清紗裝置,包括設(shè)置于待檢測(cè)紗線后方的發(fā)光管和探測(cè)器,還包括設(shè)置于待檢測(cè)紗線前方的反射鏡,發(fā)光管的前端面與探測(cè)器的光敏面齊平設(shè)置,發(fā)光管與探測(cè)器的前方還設(shè)置有用于選取330nm~470nm的波段光線的濾光片,所述反射鏡的反光面與探測(cè)器的光敏面平行,所述發(fā)光管包括紫外發(fā)光二極管,所述探測(cè)器包括PIN型紫外增強(qiáng)型硅光電二極管。
所述發(fā)光管對(duì)稱分列在探測(cè)器的左右兩側(cè),每側(cè)發(fā)光管的數(shù)量至少為兩只,每側(cè)的發(fā)光管均沿上下方向間隔均布。
發(fā)光管的殼體包括可發(fā)散光線的磨砂面。
所述探測(cè)器上連接有信號(hào)處理系統(tǒng),信號(hào)處理系統(tǒng)包括依次布置的信號(hào)接收模塊、放大模塊、濾波模塊、整形模塊和比較輸出模塊。
本實(shí)用新型的有益效果如下:本實(shí)用新型的背投影式光電探測(cè)清紗裝置中,發(fā)光管的前端與探測(cè)器的光敏面齊平設(shè)置使得發(fā)光管發(fā)出的光不會(huì)直接進(jìn)入探測(cè)器中,而是會(huì)經(jīng)濾光片過(guò)濾并照射待檢測(cè)紗線后再由待檢測(cè)紗線反射或是由反射鏡反射回探測(cè)器的光敏面,有利于減小雜光信號(hào)對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響,提高采集信號(hào)的信噪比。而PIN型紫外增強(qiáng)型硅光電二極管使得其能在較低的波段開(kāi)始響應(yīng),且在接收到一定功率光線照射后能產(chǎn)生的光電流強(qiáng)度較大,所以本實(shí)用新型具有極大的光波捕獲率及光電流轉(zhuǎn)化率,因而可以僅使用光電式檢測(cè)法檢測(cè)出待檢測(cè)紗線中的同質(zhì)異色纖維和同色異質(zhì)纖維。
進(jìn)一步地,發(fā)光管的殼體包括磨砂面的設(shè)置形式使得發(fā)光管發(fā)出的光線會(huì)被磨砂面發(fā)散之后再均勻地通過(guò)濾光片照射待檢測(cè)砂線,有利于提高待檢測(cè)砂線各部分接收光強(qiáng)的均勻程度,增大判斷出同質(zhì)異色纖維和同色異質(zhì)纖維的概率。
附圖說(shuō)明
圖1為光電式檢測(cè)法清紗的原理圖;
圖2為本實(shí)用新型的背投影式光電探測(cè)清紗裝置的一個(gè)實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖3為本實(shí)用新型的紫外增強(qiáng)型硅光電二極管的響應(yīng)曲線。
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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