[實(shí)用新型]一種能夠測(cè)量自身溫度的電路板有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201721131018.0 | 申請(qǐng)日: | 2017-09-05 |
| 公開(公告)號(hào): | CN207150946U | 公開(公告)日: | 2018-03-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陰衛(wèi)華;周好;王建江;孫振;石宇 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 安徽晶格爾電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | H05K1/02 | 分類號(hào): | H05K1/02;G01K7/16 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 233000 安徽省蚌埠*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 能夠 測(cè)量 自身 溫度 電路板 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及熱電阻技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種能夠測(cè)量自身溫度的電路板。
背景技術(shù)
電路板是帶有連通導(dǎo)體的絕緣板,把電子元器件固定其上且聯(lián)成電路。電路板在使用過(guò)程中,電子元器件在工作電流的影響下容易發(fā)熱,當(dāng)電流過(guò)載時(shí),會(huì)損壞電路板上的電子元器件,造成電路板報(bào)廢。雖然電路板上都采取了相應(yīng)的保護(hù)措施,但是電路板因過(guò)載損壞仍然頻頻發(fā)生,因此時(shí)刻檢測(cè)電路板的溫度是非常有必要的。
檢測(cè)電路板溫度的方法一般有兩種:一種是通過(guò)溫度感應(yīng)器手動(dòng)測(cè)量,這種測(cè)量方法即時(shí)性差,不能有效地監(jiān)測(cè)電路板的溫度;另一種是在電路板上安裝貼片電阻,貼片電阻能夠測(cè)量一條線路的電阻,通常一個(gè)電路板需要采用很多貼片電阻,這樣非常占用電路板空間,使電路板整體面積變大。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺點(diǎn),而提出的一種能夠測(cè)量自身溫度的電路板。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采用了如下技術(shù)方案:
一種能夠測(cè)量自身溫度的電路板,其特征在于:包括電路板,電路板的正極通過(guò)導(dǎo)電銀漿熱壓連接測(cè)溫芯片一側(cè),測(cè)溫芯片另一側(cè)通過(guò)導(dǎo)線焊接連接電路板的負(fù)極,金線通過(guò)邦定膠覆蓋連接在電路板上側(cè),在測(cè)溫芯片外側(cè)還設(shè)有封裝層。
優(yōu)選地,所述測(cè)溫芯片為測(cè)溫電阻芯片。
優(yōu)選地,所述導(dǎo)電銀漿為銀粉和導(dǎo)電膠混合而成。
優(yōu)選地,所述封裝層為高溫環(huán)氧樹脂層。
優(yōu)選地,所述導(dǎo)線為金線。
本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于:本實(shí)用新型能夠時(shí)刻監(jiān)測(cè)電路板的溫度,使電路板不會(huì)因?yàn)檫^(guò)載使用而損壞,芯片直接熱壓連接在電路板正極上,通過(guò)金線焊接連接電路板負(fù)極,大大節(jié)省了安裝空間,縮小了電路板的尺寸,而且芯片外側(cè)設(shè)置封裝層,絕緣性好、安全性高。
附圖說(shuō)明
圖1是本實(shí)用新型所提供的一種能夠測(cè)量自身溫度的電路板的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2是芯片與電路板的連接示意圖。
具體實(shí)施方式
為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白,以下結(jié)合附圖及實(shí)施例,對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解,此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型,并不用于限定本實(shí)用新型。
如圖1和圖2所示,本實(shí)用新型提供的一種能夠測(cè)量自身溫度的電路板,其特征在于:包括電路板1,電路板1的正極3通過(guò)導(dǎo)電銀漿6熱壓連接測(cè)溫芯片2一側(cè),測(cè)溫芯片2為測(cè)溫電阻芯片,導(dǎo)電銀漿6為銀粉和導(dǎo)電膠混合而成,熱壓連接后,測(cè)溫芯片2與正極3能夠通電連接。
測(cè)溫芯片2另一側(cè)通過(guò)導(dǎo)線5焊接連接電路板1的負(fù)極4,導(dǎo)線5為金線,負(fù)極4、測(cè)溫芯片2與金線的焊接方式均采用現(xiàn)有技術(shù),均采用球和壓環(huán)的方式連接,導(dǎo)線5通過(guò)邦定膠覆蓋連接在電路板1上側(cè),在測(cè)溫芯片2外側(cè)還設(shè)有封裝層7,封裝層7為高溫環(huán)氧樹脂層。
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