[實(shí)用新型]一種基于電致發(fā)光的電荷行為實(shí)時(shí)觀測(cè)評(píng)估設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201721122381.6
• 申請(qǐng)日: 2017-09-04
• 公開（公告）號(hào): CN207114435U
• 公開（公告）日: 2018-03-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 何順;楊漢松;楊明昆;呂歡
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 云南電網(wǎng)有限責(zé)任公司電力科學(xué)研究院
• 主分類號(hào): G01N21/66
• 分類號(hào): G01N21/66
• 代理公司: 北京弘權(quán)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)11363
• 代理人: 逯長(zhǎng)明,許偉群

1.一種基于電致發(fā)光的電荷行為實(shí)時(shí)觀測(cè)評(píng)估設(shè)備，其特征在于，所述設(shè)備包括：

暗室(1)、真空系統(tǒng)(2)、電極系統(tǒng)(3)、單色儀(4)、光電計(jì)算器(5)、PD傳感器(6)、高壓電源(7)、示波器(8)、計(jì)算機(jī)(9)、樣品室(10)以及石英玻璃觀察窗(11)；

所述真空系統(tǒng)(2)、所述單色儀(4)、所述光電計(jì)算器(5)、所述PD傳感器(6)以及所述樣品室(10)設(shè)置于所述暗室(1)的內(nèi)部；所述高壓電源(7)、所述示波器(8)以及所述計(jì)算機(jī)(9)設(shè)置于所述暗室(1)的外部；

所述電極系統(tǒng)(3)設(shè)置于所述樣品室(10)內(nèi)部，所述真空系統(tǒng)(2)與所述樣品室(10)連通，所述電極系統(tǒng)(3)上設(shè)置有用于放置樣品(100)的試樣槽(31)；

所述石英玻璃觀察窗(11)設(shè)置于所述樣品室(10)的側(cè)壁，所述單色儀(4)設(shè)置于所述樣品室(10)的一側(cè)，所述單色儀(4)與所述石英玻璃觀察窗(11)相對(duì)設(shè)置；

所述光電計(jì)算器(5)的一端與所述單色儀(4)連接，所述光電計(jì)算器(5)的另一端與所述計(jì)算機(jī)(9)連接；

所述PD傳感器(6)的一端與所述樣品室(10)的連接，所述PD傳感器(6)的另一端與所述示波器(8)連接，所述示波器(8)與所述計(jì)算機(jī)(9)連接；

所述樣品室(10)內(nèi)設(shè)置有高壓引線(14)，所述高壓引線(14)一端與所述電極系統(tǒng)(3)連接，另一端伸出于所述樣品室(10)的外部與所述高壓電源(7)連接。

2.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其特征在于，所述真空系統(tǒng)(2)的真空度為1×10-5Pa～1×10-3Pa。

3.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其特征在于，所述光電計(jì)算器(5)包括光電倍增管和光子計(jì)數(shù)器。

4.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其特征在于，所述樣品(100)與所述樣品室(10)內(nèi)壁之間的距離小于3cm。

5.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其特征在于，所述單色儀(4)的測(cè)量范圍與所述光電計(jì)算器(5)相適應(yīng)，所述單色儀(4)的測(cè)量范圍為300nm～800nm，所述單色儀(4)的分辨率小于5nm，所述單色儀(4)的重復(fù)誤差小于1nm。

6.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其特征在于，所述光電計(jì)算器(5)的暗噪聲均值小于20cps，最小測(cè)量值小于3×10-17W。

7.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其特征在于，所述高壓引線(14)伸出于所述樣品室(10)的部分外圍設(shè)置有高壓套管(13)。

8.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其特征在于，所述高壓引線(14)與所述高壓電源(7)之間串接有保護(hù)電阻(12)。

9.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其特征在于，所述PD傳感器(6)為光電集成電場(chǎng)傳感器。

10.如權(quán)利要求1所述的設(shè)備，其特征在于，所述樣品室(10)的耐受極限真空度為10-5Pa，工作真空度為1×10-4Pa。