[實用新型]一種測試探針

有效

• 申請號: 201721103046.1
• 申請日: 2017-08-30
• 公開（公告）號: CN207096289U
• 公開（公告）日: 2018-03-13
• 發明（設計）人: 蔣衛兵
• 申請（專利權）人: 上海捷策創電子科技有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司11332
• 代理人: 胡彬

技術領域

本實用新型涉及芯片測試領域，尤其涉及一種測試探針。

背景技術

近年來，大數據越來越普及，芯片作為數據傳輸處理的載體，其性能往往影響整個電子設備的執行能力，為確保芯片的正常運行，在芯片安裝之前必須采用測試探針對芯片進行檢測。

隨著芯片信號傳遞速度越來越快，對芯片測試用的探針要求也越來越高，對探針的各項指標敏感性要求越來越高，如阻抗穩定性要求越來越高，傳統測試探針結構已經不能滿足更高頻率的傳輸要求?，F有的測試探針由套筒、上探針頭、下探頭以及彈簧組成，各部分之間通過鉚接或卷邊組成一個探針。

由于每個零件的加工尺寸差異以及組裝尺寸的誤差，現有探針在傳遞信號方面有很大差異。且由于采用鉚接或卷邊安裝時，各部分在檢測過程中容易相對松動，降低阻抗穩定性，從而降低檢測的可靠性。

實用新型內容

本實用新型提供了一種測試探針，以提高阻抗穩定性，增加檢測可靠性。

為實現上述目的，本實用新型采用下述技術方案：

一種測試探針，包括筒狀針保持體、彈簧和下探針頭；

所述筒狀針保持體的上端一體成型有上探針頭部，所述筒狀針保持體的內部中空以形成下端開口的容納腔；

所述下探針頭的上端與所述容納腔的下端開口配合，且能夠沿所述容納腔上下移動；

所述彈簧位于所述容納腔內，且所述彈簧的外徑與所述容納腔的腔體直徑相配合；所述彈簧一端抵接于所述容納腔的上端壁，另一端抵接于所述下探針頭。

在上述技術方案中，由于上探針頭與筒狀保持體在加工時一體成型，避免傳統測試探針中，上探針頭采用卷邊或鉚接安裝到筒狀保持體時，可能因尺寸誤差或裝配誤差產生的松動，有效保證了測試探針阻抗的穩定性，提高了信號傳遞的穩定性和測試的可靠性。

優選地，所述下探針頭通過擠壓的方式安裝在所述筒狀針保持體的一端，該種安裝方式可簡化測試探針結構，避免測試探針增加額外的裝配誤差，對測試穩定性造成影響。

優選地，所述上探針頭部為與所述筒狀針保持體同心的圓柱體，且直徑小于所述筒狀針保持體的直徑，以在保持筒狀保持體直徑的同時，根據被測元件選擇合適的探針頭部直徑，以使上探針頭部和下探針頭均可用于檢測。

優選地，所述上探針頭部的上端的直徑逐漸減小形成圓球面，以保證上探針頭與被檢測焊點保持點對點接觸。

優選地，所述下探針頭包括本體和頭部，所述本體的外徑大于所述頭部的外徑，且所述本體位于容納腔內，該種下探針頭結構在便于安裝的同時，可以根據被檢測元件選擇合適的下探針頭頭部直徑。

所述筒狀針保持體連接所述下探針頭的一端設置有一圈用以縮小筒狀針保持體口徑的卷邊，所述卷邊能供所述頭部通過。卷邊的設置可以防止使用過程中下探針頭掉出筒狀針保持體，保證了測試的可靠性。

優選地，所述頭部遠離所述本體的一端的端面為圓球面形、鋸齒形、齒冠形或單點形，根據測試點的形狀進行合理選擇。

優選地，所述筒狀針保持體由磷青銅制成，具備較高的耐磨性、良好的導電性能以及很強的抗疲勞性。

優選地，所述下探針頭由鈹青銅制成，具備高導電性、高強度和高耐磨性，且能防止金屬渣屑粘附，易于清理。

優選地，所述彈簧由鋼琴絲制成，彈性好，疲勞極限高，使用壽命長。

本實用新型的有益效果為：由于采用了上探針頭與筒狀保持體一體式結構，簡化了測試探針結構，降低了安裝誤差，保證了測試時的阻抗穩定性，提高了測試可靠性。同時避免了傳統測試探針由于上探針頭與筒狀針保持體的尺寸誤差較大而無法使用，提高了成品率，降低了成本。

附圖說明

圖1是本實用新型的測試探針的結構示意圖。

圖中標記如下：

1-筒狀針保持體；11-上探針頭部；12-容納腔；2-彈簧；3-下探針頭；31-本體；32-頭部。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例對本實用新型作進一步的詳細說明。可以理解的是，此處所描述的具體實施例僅僅用于解釋本實用新型，而非對本實用新型的限定。另外還需要說明的是，為了便于描述，附圖中僅示出了與本實用新型相關的部分而非全部結構。