[實用新型]一種CT層析系統(tǒng)探測器位姿調(diào)整裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721099999.5 | 申請日: | 2017-08-30 |
| 公開(公告)號: | CN207114458U | 公開(公告)日: | 2018-03-16 |
| 發(fā)明(設計)人: | 梁麗紅;代淮北;張暴暴;趙泓 | 申請(專利權)人: | 中國特種設備檢測研究院 |
| 主分類號: | G01N23/046 | 分類號: | G01N23/046 |
| 代理公司: | 北京市盛峰律師事務所11337 | 代理人: | 梁艷 |
| 地址: | 100013 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 ct 層析 系統(tǒng) 探測器 調(diào)整 裝置 | ||
技術領域
本實用新型涉及CT層析設備技術領域,尤其涉及一種CT層析系統(tǒng)探測器位姿調(diào)整裝置。
背景技術
CT是一種新型的非接觸式無損檢測技術,廣泛用于航空、航天、特種設備、兵器、核能、汽車、電子等領域的產(chǎn)品及其材料內(nèi)部質(zhì)量診斷與無損評估。該種檢測技術的應用貫穿于產(chǎn)品的整個生命周期,對提高產(chǎn)品使用的安全性、可靠性,以及降低生產(chǎn)成本,有著非常重要的作用。
CT層析系統(tǒng)采用高頻X-射線源、數(shù)字探測器和多自由度精密運動平臺,將高分辨率射線數(shù)字成像和三維計算機層析技術集成在一套系統(tǒng)中,實現(xiàn)對不同尺寸、不同結構復雜程度的工件內(nèi)部結構質(zhì)量狀態(tài)的高精度層析與結構逆求。該類型CT系統(tǒng)的掃描原理如圖1所示,高頻超高壓X-射線源1發(fā)出的錐束射線2對多自由度轉臺3上的被檢測物體4進行透照,物體4在轉臺3的帶動下繞軸線旋轉,探測器5采集物體在不同視角下的DR投影,利用這些二維投影序列進行三維重建。本系統(tǒng)所涉及的三維重建算法是在射線源和探測器構造的坐標系XYZ中進行,探測器5的成像坐標系為XdOdZd,重建算法理論上要求兩個坐標系的關系為:OdZd軸平行于O Z軸,OdXd軸平行于O X軸,平面XdOdZd垂直于OY軸。然而在實際的系統(tǒng)安裝中,由于機械安裝誤差的存在,導致探測器5的位姿參數(shù)不可避免地存在誤差,導致OdZd軸不平行于O Z軸,OdXd軸不平行于O X軸,平面XdOdZd不垂直于OY軸,相當于探測器的成像平面XdOdZd分別繞X、Y、Z軸產(chǎn)生了一定的轉角。該轉角的存在會造成重建圖像質(zhì)量的下降,導致偽影的產(chǎn)生,從而影響圖像的分辨力和細節(jié)的有效檢出。
在實際的應用中,如果探測器的位姿沒有調(diào)整到位,則會給圖像重建帶來誤差,使得重建圖像上產(chǎn)生幾何形變的偽影。如圖2所示,圖2a為探測器位姿調(diào)整準確時的重建圖像,圖2b為探測器位姿未調(diào)整準確時的重建圖像,可以看出,探測器位姿的誤差會傳遞到圖像重建中投影地址的計算中,最終導致重建圖像產(chǎn)生幾何偽影,如圖2b中圖像邊緣存在重影,給信息的判讀和特征測量帶來誤差。
目前,對于探測器位姿的調(diào)整,還沒有系統(tǒng)的調(diào)整方法,在已公開的實用新型專利ZL201010241980.6中,楊民等人實用新型了一種適用于錐束XCT系統(tǒng)的探測器扭轉角的標定方法,該標定采用了球狀目標體在錐束射線場中繞z軸旋轉一周,其在成像坐標系xdodzd中的投影質(zhì)心軌跡為一近似橢圓,利用最小二乘擬合法將投影質(zhì)心的軌跡擬合為一橢圓方程xd2+azd2+bxdzd+cxd+ezd+f=0,橢圓的長軸與xd軸的夾角即為探測器扭轉角ξ。該方法存才以下不足:
1)只校正了探測器的成像平面XdOdZd繞Y軸產(chǎn)生的扭轉角,而沒有解決成像平面XdOdZd繞X、Z軸的扭轉問題;
2)該校正方法為軟件校正,需要制作專用的球狀標定模體。
實用新型內(nèi)容
本實用新型的目的在于提供一種CT層析系統(tǒng)探測器位姿調(diào)整裝置,從而解決現(xiàn)有技術中存在的前述問題。
為了實現(xiàn)上述目的,本實用新型采用的技術方案如下:
一種CT層析系統(tǒng)探測器位姿調(diào)整裝置,包括:支撐平臺、底板、背板、X向平移調(diào)整組件、Y向平移調(diào)整組件、Z向平移調(diào)整組件和萬向旋轉調(diào)整組件;
所述底板通過所述Y向平移調(diào)整組件安裝在所述支撐平臺上,所述背板垂直安裝在所述底板上,所述探測器通過所述萬向旋轉組件平行安裝在所述背板上;
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