[實用新型]一種可調式天線測試架有效
| 申請號: | 201721093400.7 | 申請日: | 2017-08-29 |
| 公開(公告)號: | CN208013245U | 公開(公告)日: | 2018-10-26 |
| 發明(設計)人: | 丁飛;劉永寧;禹清晨 | 申請(專利權)人: | 安徽四創電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04 |
| 代理公司: | 合肥和瑞知識產權代理事務所(普通合伙) 34118 | 代理人: | 王挺 |
| 地址: | 230088 安徽省合肥*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 右側板 左側板 測試架 本實用新型 可調式天線 支撐板 背板 天線 測試準確度 測試效率 垂直固定 電子設備 條狀通槽 螺釘 對稱狀 鋸齒狀 通槽 通孔 平行 裝載 雷達 統一 | ||
本實用新型屬于雷達電子設備技術領域,具體地講涉及一種可調式天線測試架,包括背板、左側板、右側板和多個支撐板;所述左側板固定在背板正面的左側端,所述右側板固定在背板正面的右側端,多個所述支撐板的兩端均分別固定在左側板和右側板上;所述左側板和右側板均通過螺釘垂直固定在背板的正面上,所述左側板平行于右側板,左側板與右側板呈對稱狀;所述左側板和右側板上從頂端到底端分別設置有鋸齒狀通槽、條狀通槽、多個通孔。本實用新型測試架能夠同時裝載兩個天線,操作簡單,統一調節兩個天線的距離,提高了測試效率和測試準確度。
技術領域
本實用新型屬于雷達電子設備技術領域,具體地講涉及一種可調式天線測試架。
背景技術
雷達天線設備的生產中,技術指標測試是很重要的一個環節,需要借助相關的測試工具來判斷雷達天線的幅度分布、相位、駐波以及天線之間的隔離度等是否符合設計指標。
目前,天線測試工具功能比較單一,要么只能裝載和測試單一的天線,要么測試多個天線時,天線之間的距離無法調節;需要測試兩個天線之間的隔離度時,有時需要借助兩個測試工具,調節兩個天線的距離時,操作復雜,無法實現統一調節,影響測試效率和測試準確度。
發明內容
根據現有技術中存在的問題,本實用新型提供了一種可調式天線測試架,該測試架能夠同時裝載兩個天線,操作簡單,統一調節兩個天線的距離,提高了測試效率和測試準確度。
本實用新型采用以下技術方案:
一種可調式天線測試架,包括背板、左側板、右側板和多個用于固定天線的支撐板;所述左側板固定在背板正面的左側端,所述右側板固定在背板正面的右側端,多個所述支撐板的兩端均分別固定在左側板和右側板上;
所述左側板和右側板均通過螺釘垂直固定在背板的正面上,所述左側板平行于右側板,左側板與右側板呈對稱狀;所述左側板和右側板上從頂端到底端分別設置有鋸齒狀通槽、條狀通槽、多個通孔;
所述鋸齒狀通槽的鋸齒面向背板;所述左側板和右側板的外側面上,條狀通槽和多個通孔的周邊設有淺槽。
所述支撐板為四個,分別為第一支撐板、第二支撐板、第三支撐板和第四支撐板;所述第一支撐板、第二支撐板、第三支撐板和第四支撐板的正面上均設有多個螺紋孔,第一支撐板、第二支撐板、第三支撐板和第四支撐板的兩端面均設有螺紋孔;
所述第一支撐板的兩端分別通過圓柱螺釘卡接在左側板和右側板的鋸齒狀通槽內,第二支撐板的兩端分別通過滾花螺釘卡接在左側板和右側板的條狀通槽內,第三支撐板的兩端分別通過滾花螺釘卡接在左側板和右側板的相同位置的通孔內,第四支撐板的兩端分別通過滾花螺釘卡接在左側板和右側板的相同位置的通孔內;
更進一步優選的,所述第一支撐板的兩端可通過圓柱螺釘的調節固定在鋸齒狀通槽的不同鋸齒內,第二支撐板的兩端可通過滾花螺釘的調節卡接在條狀通槽的不同位置上,第三支撐板平行于第四支撐板,第三支撐板垂直于左側板和右側板。
更進一步優選的,所述背板的反面的中心設有法蘭盤部件,所述背板在法蘭盤部件與左側板之間、法蘭盤部件與右側板之間的位置上設有通槽,所述背板的反面設有凹槽;所述背板的底部通過螺釘固定有腳板,腳板的底面設有凹槽。
更進一步優選的,所述左側板和右側板的外側面上,鋸齒狀通槽的不同鋸齒的相應位置上設有表示距離的刻度數字;所述左側板和右側板的內側面上,在鋸齒狀通槽與背板的之間設有凹槽。
本實用新型的有益效果在于:
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于安徽四創電子股份有限公司,未經安徽四創電子股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201721093400.7/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種高壓電力試驗檢測轉接結構
- 下一篇:一種雙重下壓微波標貼芯片測試夾具





