[實(shí)用新型]一種電容自動測試裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721084196.2 | 申請日: | 2017-08-28 |
| 公開(公告)號: | CN207164093U | 公開(公告)日: | 2018-03-30 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 熊焰明;高敬一;王焯;孟浩 | 申請(專利權(quán))人: | 江蘇伊施德創(chuàng)新科技有限公司 |
| 主分類號: | G01R1/04 | 分類號: | G01R1/04 |
| 代理公司: | 無錫盛陽專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙)32227 | 代理人: | 顧吉云,陳松 |
| 地址: | 214028 江蘇省*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電容 自動 測試 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及電容生產(chǎn)測試技術(shù)領(lǐng)域,具體為一種電容自動測試裝置。
背景技術(shù)
在現(xiàn)有技術(shù)中,對容量較大的片式電解電容或陶瓷電容進(jìn)行容量、損耗、ESR(等效串聯(lián)電阻)及漏電流這4個參數(shù)測試時,為提高測試速度,通常采用對多個電容進(jìn)行同時充電,以大幅縮短每個電容的平均漏電流測試時間,見附圖1示意,現(xiàn)有的片式鉭電解電容或片式鋁電解電容全自動4參數(shù)測試機(jī),采用的是用多個一字陣列探針頭分別對多個電容陣列進(jìn)行充電及漏電流測試,而對容量、損耗測試項(xiàng)目采用獨(dú)立的單個電容探針測試頭對一字排列的陣列電容進(jìn)行移動式輪流掃描接觸測試,對ESR測試項(xiàng)目采用另一個單個電容探針測試頭進(jìn)行同樣方式的輪流掃描接觸測試,在輪流掃描接觸測試時,固定工位上設(shè)有測試探針,電容一個個移動,當(dāng)單個電容分別運(yùn)動到測試探針下方時探針下壓進(jìn)行測試,這種方案由于電容處于高速移動的狀態(tài),通過機(jī)械部件帶動測試探針與電容進(jìn)行接觸,容易發(fā)生由于測試探針與電容接觸不穩(wěn)定導(dǎo)致測量不準(zhǔn)確的情況,且機(jī)械部件長期運(yùn)行容易磨損需要經(jīng)常停機(jī)維護(hù),效率低。
實(shí)用新型內(nèi)容
針對上述問題,本實(shí)用新型提供了一種電容自動測試裝置,其通過讓測試探針頭處于靜態(tài)接觸電容的方式進(jìn)行測試,避免了測試探針與電容接觸不穩(wěn)定導(dǎo)致測量不準(zhǔn)確的情況發(fā)生,且測試速度快,精度高。
其技術(shù)方案是這樣的:一種電容自動測試裝置,包括呈直線設(shè)置的輸送軌道,所述輸送軌道上設(shè)有能夠沿所述輸送軌道移動的電容陣列,所述電容陣列上排列設(shè)置有電容,其特征在于:沿所述輸送軌道的輸送方向設(shè)有至少一個測試工位,所述測試工位包括測試夾具,所述測試夾具包括夾具板,所述夾具板上排布有與所述電容對應(yīng)的陣列探針,所述測試夾具連接有驅(qū)動裝置,所述驅(qū)動裝置能夠驅(qū)動夾具板運(yùn)動,使得所述陣列探針接觸所述電容陣列的電容,所述陣列探針分別在連接繼電器開關(guān)陣列后并聯(lián)連接、且再連接測試儀表構(gòu)成測試回路,所述繼電器開關(guān)陣列連接有控制器,所述控制器通過控制繼電器開關(guān)陣列的開閉來實(shí)現(xiàn)每個所述電容的測試回路的通斷,用于所述電容的容量、損耗、ESR、漏電流測試。
進(jìn)一步的,所述測試儀表包括LCR表和電流表,所述LCR表用于測試容量、損耗、ESR,所述電流表用于測試漏電流,所述陣列探針分別在連接繼電器開關(guān)陣列后并聯(lián)再連接有轉(zhuǎn)換開關(guān),所述LCR表和所述電流表分別連接轉(zhuǎn)換開關(guān)的觸點(diǎn),所述轉(zhuǎn)換開關(guān)連接所述控制器,所述控制器通過控制轉(zhuǎn)換開關(guān)來切換所述電容的測試項(xiàng)目。
進(jìn)一步的,所述陣列探針包括四根測試探針,所述測試探針分別下壓在所述電容的兩側(cè),所述電容的兩側(cè)對應(yīng)下壓有兩根所述測試探針,所述LCR表包括Lf、Ls、Hf、Hs四個端口,四根所述測試探針分別連接所述LCR表的Lf、Ls、Hf、Hs端口,所述電流表設(shè)有與四根所述測試探針匹配的接口。
進(jìn)一步的,所述電容陣列上的電容呈一字形排列,所述陣列探針對應(yīng)呈一字形排列。
進(jìn)一步的,所述電容陣列上的電容呈矩陣陣列排列,所述陣列探針呈一字形排列且與所述電容陣列的每一行所述電容相匹配。
進(jìn)一步的,所述測試工位設(shè)置有兩個,其中一個所述測試工位用于漏電流測試,另一個所述測試工位用于容量、損耗、ESR測試。
進(jìn)一步的,所述輸送軌道兩端分別設(shè)有上料裝置和下料裝置。
進(jìn)一步的,沿所述輸送軌道的輸送方向,在所述測試工位的前側(cè)且位于所述上料裝置的后側(cè)設(shè)有浪涌測試工位。
進(jìn)一步的,沿所述輸送軌道的輸送方向,在所述測試工位的后側(cè)且位于所述下料裝置的前側(cè)設(shè)有篩選工位。
進(jìn)一步的,所述輸送軌道對稱且平行設(shè)置有兩組。
進(jìn)一步的,所述測試儀表連接工控機(jī),測試數(shù)據(jù)從所述測試儀表傳送至工控機(jī)進(jìn)行保存分析處理。
本實(shí)用新型的電容自動測試裝置通過驅(qū)動裝置驅(qū)動夾具板運(yùn)動,使得夾具板的陣列探針整體接觸電容陣列的電容,接觸電容穩(wěn)定后,通過控制器控制繼電器的開關(guān),以實(shí)現(xiàn)每個電容的測試線路的通斷,從而實(shí)現(xiàn)了在一個測試工位完成了對多個電容的切換測試,機(jī)械運(yùn)動較少,避免了現(xiàn)有技術(shù)中機(jī)械部件運(yùn)動造成的磨損帶來的經(jīng)常維護(hù),也解決了現(xiàn)有技術(shù)中機(jī)械部件運(yùn)動速度不高,若提高運(yùn)動速度又會導(dǎo)致測試探針和被測件之間接觸不穩(wěn)定的問題,采用本實(shí)用新型的電容自動測試裝置測試精準(zhǔn),而采用繼電器對多個電容的切換測試的切換穩(wěn)定性高,速度快,壽命長。
附圖說明
圖1為現(xiàn)有的電容測試裝置的示意圖;
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G01R 測量電變量;測量磁變量
G01R1-00 包含在G01R 5/00至G01R 13/00和G01R 31/00組中的各類儀器或裝置的零部件
G01R1-02 .一般結(jié)構(gòu)零部件
G01R1-20 .電測量儀器中所用的基本電氣元件的改進(jìn);這些元件和這類儀器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-28 .在測量儀器中提供基準(zhǔn)值的設(shè)備,例如提供標(biāo)準(zhǔn)電壓、標(biāo)準(zhǔn)波形
G01R1-30 .電測量儀器與基本電子線路的結(jié)構(gòu)組合,例如與放大器的結(jié)構(gòu)組合
G01R1-36 .電測量儀器的過負(fù)載保護(hù)裝置或電路





