[實(shí)用新型]一種電容自動(dòng)測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201721084196.2
• 申請(qǐng)日: 2017-08-28
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN207164093U
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-03-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 熊焰明;高敬一;王焯;孟浩
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 江蘇伊施德創(chuàng)新科技有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/04
• 分類號(hào): G01R1/04
• 代理公司: 無(wú)錫盛陽(yáng)專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙)32227
• 代理人: 顧吉云,陳松

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及電容生產(chǎn)測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，具體為一種電容自動(dòng)測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

在現(xiàn)有技術(shù)中，對(duì)容量較大的片式電解電容或陶瓷電容進(jìn)行容量、損耗、ESR（等效串聯(lián)電阻）及漏電流這4個(gè)參數(shù)測(cè)試時(shí)，為提高測(cè)試速度，通常采用對(duì)多個(gè)電容進(jìn)行同時(shí)充電，以大幅縮短每個(gè)電容的平均漏電流測(cè)試時(shí)間，見(jiàn)附圖1示意，現(xiàn)有的片式鉭電解電容或片式鋁電解電容全自動(dòng)4參數(shù)測(cè)試機(jī)，采用的是用多個(gè)一字陣列探針頭分別對(duì)多個(gè)電容陣列進(jìn)行充電及漏電流測(cè)試，而對(duì)容量、損耗測(cè)試項(xiàng)目采用獨(dú)立的單個(gè)電容探針測(cè)試頭對(duì)一字排列的陣列電容進(jìn)行移動(dòng)式輪流掃描接觸測(cè)試，對(duì)ESR測(cè)試項(xiàng)目采用另一個(gè)單個(gè)電容探針測(cè)試頭進(jìn)行同樣方式的輪流掃描接觸測(cè)試，在輪流掃描接觸測(cè)試時(shí)，固定工位上設(shè)有測(cè)試探針，電容一個(gè)個(gè)移動(dòng)，當(dāng)單個(gè)電容分別運(yùn)動(dòng)到測(cè)試探針下方時(shí)探針下壓進(jìn)行測(cè)試，這種方案由于電容處于高速移動(dòng)的狀態(tài)，通過(guò)機(jī)械部件帶動(dòng)測(cè)試探針與電容進(jìn)行接觸，容易發(fā)生由于測(cè)試探針與電容接觸不穩(wěn)定導(dǎo)致測(cè)量不準(zhǔn)確的情況，且機(jī)械部件長(zhǎng)期運(yùn)行容易磨損需要經(jīng)常停機(jī)維護(hù)，效率低。

實(shí)用新型內(nèi)容

針對(duì)上述問(wèn)題，本實(shí)用新型提供了一種電容自動(dòng)測(cè)試裝置，其通過(guò)讓測(cè)試探針頭處于靜態(tài)接觸電容的方式進(jìn)行測(cè)試，避免了測(cè)試探針與電容接觸不穩(wěn)定導(dǎo)致測(cè)量不準(zhǔn)確的情況發(fā)生，且測(cè)試速度快，精度高。

其技術(shù)方案是這樣的：一種電容自動(dòng)測(cè)試裝置，包括呈直線設(shè)置的輸送軌道，所述輸送軌道上設(shè)有能夠沿所述輸送軌道移動(dòng)的電容陣列，所述電容陣列上排列設(shè)置有電容，其特征在于：沿所述輸送軌道的輸送方向設(shè)有至少一個(gè)測(cè)試工位，所述測(cè)試工位包括測(cè)試夾具，所述測(cè)試夾具包括夾具板，所述夾具板上排布有與所述電容對(duì)應(yīng)的陣列探針，所述測(cè)試夾具連接有驅(qū)動(dòng)裝置，所述驅(qū)動(dòng)裝置能夠驅(qū)動(dòng)夾具板運(yùn)動(dòng)，使得所述陣列探針接觸所述電容陣列的電容，所述陣列探針?lè)謩e在連接繼電器開(kāi)關(guān)陣列后并聯(lián)連接、且再連接測(cè)試儀表構(gòu)成測(cè)試回路，所述繼電器開(kāi)關(guān)陣列連接有控制器，所述控制器通過(guò)控制繼電器開(kāi)關(guān)陣列的開(kāi)閉來(lái)實(shí)現(xiàn)每個(gè)所述電容的測(cè)試回路的通斷，用于所述電容的容量、損耗、ESR、漏電流測(cè)試。

進(jìn)一步的，所述測(cè)試儀表包括LCR表和電流表，所述LCR表用于測(cè)試容量、損耗、ESR，所述電流表用于測(cè)試漏電流，所述陣列探針?lè)謩e在連接繼電器開(kāi)關(guān)陣列后并聯(lián)再連接有轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)，所述LCR表和所述電流表分別連接轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)的觸點(diǎn)，所述轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)連接所述控制器，所述控制器通過(guò)控制轉(zhuǎn)換開(kāi)關(guān)來(lái)切換所述電容的測(cè)試項(xiàng)目。

進(jìn)一步的，所述陣列探針包括四根測(cè)試探針，所述測(cè)試探針?lè)謩e下壓在所述電容的兩側(cè)，所述電容的兩側(cè)對(duì)應(yīng)下壓有兩根所述測(cè)試探針，所述LCR表包括Lf、Ls、Hf、Hs四個(gè)端口，四根所述測(cè)試探針?lè)謩e連接所述LCR表的Lf、Ls、Hf、Hs端口，所述電流表設(shè)有與四根所述測(cè)試探針匹配的接口。

進(jìn)一步的，所述電容陣列上的電容呈一字形排列，所述陣列探針對(duì)應(yīng)呈一字形排列。

進(jìn)一步的，所述電容陣列上的電容呈矩陣陣列排列，所述陣列探針呈一字形排列且與所述電容陣列的每一行所述電容相匹配。

進(jìn)一步的，所述測(cè)試工位設(shè)置有兩個(gè)，其中一個(gè)所述測(cè)試工位用于漏電流測(cè)試，另一個(gè)所述測(cè)試工位用于容量、損耗、ESR測(cè)試。

進(jìn)一步的，所述輸送軌道兩端分別設(shè)有上料裝置和下料裝置。

進(jìn)一步的，沿所述輸送軌道的輸送方向，在所述測(cè)試工位的前側(cè)且位于所述上料裝置的后側(cè)設(shè)有浪涌測(cè)試工位。

進(jìn)一步的，沿所述輸送軌道的輸送方向，在所述測(cè)試工位的后側(cè)且位于所述下料裝置的前側(cè)設(shè)有篩選工位。

進(jìn)一步的，所述輸送軌道對(duì)稱且平行設(shè)置有兩組。

進(jìn)一步的，所述測(cè)試儀表連接工控機(jī)，測(cè)試數(shù)據(jù)從所述測(cè)試儀表傳送至工控機(jī)進(jìn)行保存分析處理。

本實(shí)用新型的電容自動(dòng)測(cè)試裝置通過(guò)驅(qū)動(dòng)裝置驅(qū)動(dòng)夾具板運(yùn)動(dòng)，使得夾具板的陣列探針整體接觸電容陣列的電容，接觸電容穩(wěn)定后，通過(guò)控制器控制繼電器的開(kāi)關(guān)，以實(shí)現(xiàn)每個(gè)電容的測(cè)試線路的通斷，從而實(shí)現(xiàn)了在一個(gè)測(cè)試工位完成了對(duì)多個(gè)電容的切換測(cè)試，機(jī)械運(yùn)動(dòng)較少，避免了現(xiàn)有技術(shù)中機(jī)械部件運(yùn)動(dòng)造成的磨損帶來(lái)的經(jīng)常維護(hù)，也解決了現(xiàn)有技術(shù)中機(jī)械部件運(yùn)動(dòng)速度不高，若提高運(yùn)動(dòng)速度又會(huì)導(dǎo)致測(cè)試探針和被測(cè)件之間接觸不穩(wěn)定的問(wèn)題，采用本實(shí)用新型的電容自動(dòng)測(cè)試裝置測(cè)試精準(zhǔn)，而采用繼電器對(duì)多個(gè)電容的切換測(cè)試的切換穩(wěn)定性高，速度快，壽命長(zhǎng)。

附圖說(shuō)明

圖1為現(xiàn)有的電容測(cè)試裝置的示意圖；