[實用新型]一種多光程腔及檢測裝置有效
| 申請號: | 201721070708.X | 申請日: | 2017-08-25 |
| 公開(公告)號: | CN207636764U | 公開(公告)日: | 2018-07-20 |
| 發明(設計)人: | 楊錚;疏達;李遠 | 申請(專利權)人: | 北醒(北京)光子科技有限公司 |
| 主分類號: | G01S7/497 | 分類號: | G01S7/497 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 100085 北京市海*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 光程 環形球面鏡 入射孔 環形鏡 檢測裝置 入射光線 射出 光學測距裝置 測試場地 測試環境 測試目標 多次反射 多角星形 發射光線 反射面 接收角 內側壁 入射角 種檢測 減小 腔內 入射 反射 占用 申請 配合 | ||
本申請涉及一種多光程腔、檢測裝置。一種多光程腔,包括:將入射的光線經多次反射后自入射孔射出的環形鏡組,所述環形鏡組包括一個或兩個環形球面鏡,所述入射孔開設在環形鏡組的其中一個環形球面鏡上,所述環形球面鏡的反射面位于其內側壁上。一種檢測裝置,包括所述多光程腔。通過環形球面鏡和入射孔以及入射角的配合,使得入射光線在多光程腔內呈正多角星形且沿原入射孔射出,在減小占用測試場地的前提下,模擬出待測光學測距裝置發出入射光線射向測試目標,并以較小接收角接收反射后的發射光線的測試環境。
技術領域
本申請涉及雷達質量檢測校對技術領域,尤其涉及一種多光程腔、檢測裝置及檢測方法。
背景技術
目前,量程較長的測距雷達(量程可達數十至上百米)的測試,主要是在室內或室外尋找相應的長距離測試場地,其主要缺點有二:1、每次需要尋找占地面積較大的空曠場地進行,增加了測試所需的時間、精力;2、對于不同的產品批次,較大面積的測試空間的測試條件很難保證一致,不便于對測距雷達進行標準化的測試與評價;3、很難控制日照、氣溫、水霧等環境條件,非常不利于工業化生產;4、無法模擬與室外環境相差較大的測試條件。
實用新型內容
本申請的目的在于提出一種多光程腔,通過環形球面鏡和入射孔以及入射角度的配合,使得入射光線在多光程腔內呈正多角星形且沿原入射孔射出,在減小占用測試場地的前提下,模擬出待測光學測距裝置發出發射光線射向測試目標且接收反射后的發射光線的測試環境。
本申請的目的在于提出一種檢測裝置,其通過多光程腔及驅動裝置實現在較小測試空間內,對待測光學測距裝置進行長距離的檢測,操作方便,測試準確。
本申請的目的在于提出一種檢測方法,通過驅動裝置調整待測光學測距裝置的測試光線入射角度,實現測試光線在多光程腔內進行的不同長距測量,既減小了測試的空間又降低了測試的難度。
為達此目的,本申請采用以下技術方案:
一種多光程腔,包括:將入射的光線經多次反射后自入射孔射出的環形鏡組,所述環形鏡組包括一個或兩個環形球面鏡,所述入射孔開設在環形鏡組的其中一個環形球面鏡上,所述環形球面鏡的反射面位于其內側壁上。
作為本技術方案的優選方案之一,所述多光程腔包括一個環形球面鏡,所述環形球面鏡沿入射孔所在的水平面上下對稱,入射孔與其所在環形球面鏡的球心的連線為入射半徑R,則入射光線與入射半徑的夾角為入射角θ,入射光線在多光程腔內的光線軌跡為正P角星形時,入射光線在多光程腔內的光程長L1=(4k+3)*2Rcosθ,其中P=4k+3,P為入射光線在多光程腔內所呈正多角星形光線軌跡的邊數,θ=π/(8k+6)。
作為本技術方案的優選方案之一,所述多光程腔包括兩個上下疊加對稱設置的環形球面鏡,所述入射孔位于其中任意一個環形球面鏡上,光線自入射孔射入后在兩個所述環形球面鏡內及兩個所述環形球面鏡之間分別形成俯視圖為正P角星形的光線軌跡;
入射孔與其所在環形球面鏡的球心的連線為入射半徑,則入射光線與入射半徑的夾角為入射角θ,且θ=π/(8k+6),入射光線在多光程腔內的光程長L2=3*(4k+3)*2Rcosθ,P=4k+3,其中k為大于等于1的正整數。
作為本技術方案的優選方案之一,兩個所述環形球面鏡的球心對稱分布在入射光線于兩個所述環形球面鏡內所形成的兩個反射光斑層之間。
作為本技術方案的優選方案之一,所述環形球面鏡的高度為H,所述環形球面鏡的球心的高度H2=3H/4,所述入射孔的高度H1=H/2,兩個所述環形球面鏡的球心的距離c為H/2。
作為本技術方案的優選方案之一,入射光線自入射孔射入對應的環形球面鏡后,在多光程腔內的每一條反射線的中點為所述環形球面鏡的焦點,所述環形球面鏡的焦距為F=R*cosθ。
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