[實用新型]一種OS測試系統及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201721034786.4 | 申請日: | 2017-08-17 |
| 公開(公告)號: | CN207074250U | 公開(公告)日: | 2018-03-06 |
| 發(fā)明(設計)人: | 蘇績;方盼 | 申請(專利權)人: | 深圳市思恩技術有限公司 |
| 主分類號: | G01R31/28 | 分類號: | G01R31/28;G01R31/02 |
| 代理公司: | 深圳中一聯合知識產權代理有限公司44414 | 代理人: | 張全文 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 os 測試 系統 裝置 | ||
1.一種OS測試系統,連接于主機與待測芯片之間,接收所述主機的測試指令,并根據所述測試指令對所述待測芯片進行OS測試,其特征在于,所述系統包括:第一控制芯片、用于選擇測試通道的CPLD模塊、用于對所述待測芯片進行OS測試的PMU模塊和用于與所述主機通信的USB接口模塊;所述第一控制芯片分別與所述CPLD模塊、所述PMU模塊和所述USB接口模塊連接,所述CPLD模塊和PMU模塊均與所述待測芯片連接,所述USB接口模塊與所述主機連接。
2.如權利要求1所述的OS測試系統,其特征在于,所述CPLD模塊包括第二控制芯片和開關芯片,所述第二控制芯片與所述第一控制芯片連接,所述開關芯片分別與所述第二控制芯片和待測芯片連接。
3.如權利要求1所述的OS測試系統,其特征在于,所述PMU模塊包括雙運算放大器,所述雙運算放大器的第一輸入端與第一控制芯片連接;所述雙運算放大器的第一輸出端與所述待測芯片連接,用于向所述待測芯片輸出檢測電流;所述第一控制芯片連接于所述雙運算放大器的第一輸出端,用于檢測雙運算放大器的第一輸出端的檢測電壓。
4.如權利要求3所述的OS測試系統,其特征在于,所述第一控制芯片中集成有模數轉換模塊,所述模數轉換模塊與所述CPLD模塊連接,用于將所述CPLD模塊輸出的檢測電壓轉換為數字信號。
5.如權利要求1所述的OS測試系統,其特征在于,還包括TTL通信接口,用于連接進行自動化檢測的自動化設備。
6.如權利要求5所述的OS測試系統,其特征在于,還包括光耦芯片,所述光耦芯片連接在所述第一控制芯片與所述TTL通信接口之間。
7.如權利要求1所述的OS測試系統,其特征在于,所述USB接口模塊包括協議轉換芯片和USB接口,所述協議轉換芯片連接在所述第一控制芯和所述USB接口之間。
8.如權利要求1所述的OS測試系統,其特征在于,所述第一控制芯片為STM32F103芯片。
9.如權利要求2所述的OS測試系統,其特征在于,所述第二控制芯片為EPM570F256芯片。
10.一種OS測試裝置,其特征在于,所述OS測試裝置包括權利要求1至9所述的OS測試系統。
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