[實(shí)用新型]一種精密測(cè)試探針

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201720979839.3
• 申請(qǐng)日: 2017-08-04
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN206975085U
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-02-06
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 王雪峰
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 健坤精密科技（深圳）有限公司
• 主分類號(hào): G01R1/073
• 分類號(hào): G01R1/073
• 代理公司: 深圳市漢唐知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司44399
• 代理人: 韋鰲

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及電子測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，尤其是一種適用于諸如半導(dǎo)體封裝檢測(cè)及手機(jī)模組檢測(cè)等諸多電子測(cè)試領(lǐng)域的精密測(cè)試探針。

背景技術(shù)

隨著半導(dǎo)體封裝制作工藝及封裝技術(shù)的快速及多元化發(fā)展，針對(duì)晶元等半導(dǎo)體元件進(jìn)行測(cè)試的特殊需求也日益增加。以對(duì)晶元測(cè)試為例，一般是將測(cè)試機(jī)臺(tái)、測(cè)試治具與被測(cè)晶元構(gòu)成測(cè)試回路，將探針治具上的探針直接與晶元上的信號(hào)引腳接觸，以引出芯片信號(hào)并將此芯片信號(hào)數(shù)據(jù)送往測(cè)試機(jī)臺(tái)進(jìn)行分析與判斷；從而預(yù)先濾除電性與功能不良的芯片，以降低產(chǎn)品的不良率。

傳統(tǒng)的測(cè)試探針一般由針體、彈簧和針管等三部分組合而成，其中，針體和彈簧均裝設(shè)于套管之內(nèi)，以形成可伸縮機(jī)構(gòu)，這種結(jié)構(gòu)的探針在使用過(guò)程當(dāng)中都普遍存在如下問(wèn)題：

1、針體的針頭大都為球狀、針尖狀或爪狀，其與被測(cè)物體的接觸面積相對(duì)較小，很容易因發(fā)生位置偏移而導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確；同時(shí)，探針本體的接觸頭的直徑相對(duì)較小，很容易扎傷被測(cè)物體。

2、對(duì)于某些直接小的探針，其針頭部位的直徑甚至小于0.15mm，在很容易扎傷被測(cè)物體的同時(shí)，由于針頭過(guò)細(xì)，在測(cè)試過(guò)程中非常容易出現(xiàn)磨損，從而發(fā)生誤測(cè)。

3、探針組成部件過(guò)多，部件之間內(nèi)外部接觸位置偏多，很容易增加探針本體的接觸電阻并降低其導(dǎo)電性能。

4、在對(duì)探針本體進(jìn)行清潔維護(hù)時(shí)，一般需要直接在治具上進(jìn)行，由于探針本體較細(xì)，很容易造成探針本體因受到外力的影響而發(fā)生歪斜、折彎或折斷等問(wèn)題，且越細(xì)的探針本體，其發(fā)生歪斜、折彎或折斷等問(wèn)題的風(fēng)險(xiǎn)越高。

5、探針在本身的部件組裝或者將其裝配在治具上時(shí)，操作極為繁瑣費(fèi)力，而且各個(gè)部件只能先單件加工，然后再進(jìn)行裝配，無(wú)疑會(huì)增加探針或治具的制造成本并將降低其制造效率。

實(shí)用新型內(nèi)容

針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)存在的不足，本實(shí)用新型的目的在于提供一種精密測(cè)試探針。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用的技術(shù)方案為：

一種精密測(cè)試探針，它包括一由至少一個(gè)縱向截面形狀呈橫置的“U”形的第一彎曲部和/或至少一個(gè)縱向截面形狀呈“S”形的第二彎曲部連續(xù)銜接而成的彈性緩沖部、一由第一彎曲部的頂端或由第二彎曲部的頂端沿縱向方向向上作彎折后形成的檢測(cè)端部以及一由第一彎曲部的底端或第二彎曲部的底端沿縱向方向向下作彎折后形成的接觸端部。

優(yōu)選地，所述彈性緩沖部上開(kāi)設(shè)有沿彈性緩沖部的形狀走向分布的緩沖條孔部。

優(yōu)選地，所述探針為由鋼材或合金金屬材料制成的板狀或片狀結(jié)構(gòu)體，所述探針的外表面涂覆有鍍金層。

優(yōu)選地，所述接觸端部的端面和/或檢測(cè)端部的端面為平滑的弧形凸面或弧形凹面。

由于采用了上述方案，本實(shí)用新型采用一體式伸縮結(jié)構(gòu)體，其端面與被測(cè)物體之間的接觸可采用面接觸或多點(diǎn)接觸，可有效避免探針與被測(cè)物體之間出現(xiàn)強(qiáng)力的硬性接觸，以保證被測(cè)物體不會(huì)受到損傷；同時(shí)，探針可直接裝配于測(cè)試治具上進(jìn)行使用，不但無(wú)需繁瑣的裝配操作，而且加工方便快捷，有利于減少測(cè)試治具的組成部件的數(shù)量，有效降低測(cè)試探針的使用及維護(hù)成本；其結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、測(cè)試性能優(yōu)越、成本低廉，具有很強(qiáng)的實(shí)用價(jià)值和市場(chǎng)推廣價(jià)值。

附圖說(shuō)明

圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例的探針的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例的探針的平面結(jié)構(gòu)示意圖；

圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例在具體應(yīng)用時(shí)的截面結(jié)構(gòu)示意圖；

圖4是本實(shí)用新型實(shí)施例在具體應(yīng)用時(shí)的結(jié)構(gòu)分解示意圖；

圖5是本實(shí)用新型實(shí)施例在具體應(yīng)用時(shí)的結(jié)構(gòu)裝配示意圖。

具體實(shí)施方式

以下結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的實(shí)施例進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明，但是本實(shí)用新型可以由權(quán)利要求限定和覆蓋的多種不同方式實(shí)施。