[實用新型]一種用于晶振測試的歐姆校正裝置有效
| 申請號： | 201720979542.7 | 申請日： | 2017-08-08 |
| 公開（公告）號： | CN207020297U | 公開（公告）日： | 2018-02-16 |
| 發明（設計）人： | 單小榮;喻天雄;夏江華;徐先德;周光輝 | 申請（專利權）人： | 隨州泰華電子科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R35/00 | 分類號： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 441300 湖*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 測試 歐姆 校正 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種用于晶振測試的歐姆校正裝置，包括工作臺（1）和測試裝置（2），所述測試裝置（2）位于工作臺（1）的上方，測試裝置（2）包括探針（21），其特征在于：所述工作臺（1）上放置有兩個歐姆校正臺（3），兩個歐姆校正臺（3）上分別放置有零歐姆PCB板（31）和五十歐姆PCB板（32），測試裝置（2）通過十字型導軌（4）與工作臺（1）相連，十字型導軌（4）包括水平導軌（41）和豎直導軌（42），豎直導軌（42）上設置有滑槽（43）。
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