[實用新型]一種光纖中繼芯片測試系統

有效

• 申請號: 201720978024.3
• 申請日: 2017-08-07
• 公開（公告）號: CN207251622U
• 公開（公告）日: 2018-04-17
• 發明（設計）人: 錢向東
• 申請（專利權）人: 廣東利揚芯片測試股份有限公司
• 主分類號: H04B10/073
• 分類號: H04B10/073
• 代理公司: 東莞市華南專利商標事務所有限公司44215
• 代理人: 劉克寬

技術領域

本實用新型涉及芯片測試技術領域，特別涉及一種光纖中繼芯片測試系統。

背景技術

光纖通訊技術自面世以來就深得大家喜歡，其主要原因是同比其它通訊手段相比，具有無與倫比的優越性，如通訊容量大、中繼距離長、保密性能好、適應能力強、速度快等，然而目前的技術還是存在一定的局限性，光纖通訊需要依靠光纖中繼芯片來輔助完成遠距離的數據傳送，故高速光纖通訊光纖中繼芯片在這項重大突破中起到了至關重要的作用，隨著光纖通訊技術的廣泛應用，光纖中繼芯片需求與日倍增，光纖中繼芯片的測試成為了至關重要的問題。目前，對光纖中繼芯片的測試主要是通過探針卡和測試機來測試芯片工作電流和相關DC參數，完成芯片工作電流和相關DC參數的測試后，為了節省測試時間，再抽取部分光纖中繼芯片，通過單獨的設備對這些抽取出的光纖中繼芯片進行誤碼率測試，而不能對全部光纖中繼芯片進行測試，這樣不能完全保證芯片的出品質量。

發明內容

本實用新型的目的在于避免上述現有技術中的不足之處而提供一種光纖中繼芯片測試系統，可以實現在對芯片工作電流和相關DC參數進行測試的時候，也對芯片的誤碼率進行測試。

本實用新型的目的通過以下技術方案實現：

提供一種光纖中繼芯片測試系統，包括用于插接被測芯片的探針卡和對被測芯片進行測試的測試機，還包括誤碼率分析儀和處理單元，所述處理單元與所述誤碼率分析儀相互通信，所述誤碼率分析儀連接到所述探針卡；

所述處理單元用于接收外部指令信號并發出啟動信號給所述誤碼率分析儀，所述誤碼率分析儀根據收到的啟動信號發出檢測信號給所述探針卡，所述探針卡與所述被測芯片通信從而傳輸檢測信號給所述被測芯片，所述被測芯片根據收到的檢測信號輸出反饋信號，該反饋信號經所述探針卡傳輸給誤碼率分析儀，所述誤碼率分析儀根據發出的檢測信號和收到的反饋信號的比較結果輸出誤碼率判斷信號給所述處理單元，所述處理單元根據所述誤碼率判斷信號生成誤碼率數值。

其中，所述誤碼率分析儀和所述處理單元分別設有USB端口，兩者通過這個USB端口連接。

其中，所述誤碼率分析儀通過光纖連接到所述探針卡，檢測信號由所述誤碼率分析儀經所述光纖傳輸到所述探針卡。

其中，所述探針卡通過同軸線連接到所述誤碼率分析儀，反饋信號由所述探針卡經同軸線傳輸到所述誤碼率分析儀。

其中，所述探針卡和所述測試機通過電纜線連接。

本實用新型的有益效果：在光纖中繼芯片測試系統中加入誤碼率分析儀和處理單元，通過處理單元發出的啟動信號促使誤碼率分析儀輸出一個檢測信號，這個檢測信號傳輸到被測芯片后由被測芯片生成反饋信號返回給誤碼率分析儀，誤碼率分析儀用檢測信號和反饋信號就可以判斷這個被測芯片的誤碼率情況，從而實現對芯片的誤碼率的測試。同時，探針卡和測試機配合測試芯片工作電流和相關DC參數，該光纖中繼芯片測試系統依然可以對芯片工作電流和相關DC參數進行測試。

附圖說明

圖1為光纖中繼芯片測試系統框圖。

具體實施方式

本實施例的光纖中繼芯片測試系統，包括用于插接被測芯片的探針卡和對被測芯片進行測試的測試機，還包括誤碼率分析儀和處理單元，處理單元與誤碼率分析儀相互通信，誤碼率分析儀連接到探針卡。誤碼率分析儀和處理單元分別設有USB端口，兩者通過這個USB端口連接；誤碼率分析儀通過光纖連接到探針卡，檢測信號由誤碼率分析儀經光纖傳輸到探針卡；探針卡通過同軸線連接到誤碼率分析儀，反饋信號由探針卡經同軸線傳輸到誤碼率分析儀；探針卡和測試機通過電纜線連接。

處理單元用于接收外部指令信號并發出啟動信號給誤碼率分析儀，誤碼率分析儀根據收到的啟動信號發出檢測信號給探針卡，探針卡與被測芯片通信從而傳輸檢測信號給被測芯片，被測芯片根據收到的檢測信號輸出反饋信號，該反饋信號經探針卡傳輸給誤碼率分析儀，誤碼率分析儀根據發出的檢測信號和收到的反饋信號的比較結果輸出誤碼率判斷信號給處理單元，處理單元根據誤碼率判斷信號生成誤碼率數值。

該光纖中繼芯片測試系統在傳統的光纖中繼芯片測試系統中加入誤碼率分析儀和處理單元，通過處理單元發出的啟動信號促使誤碼率分析儀輸出一個檢測信號，這個檢測信號傳輸到被測芯片后由被測芯片生成反饋信號返回給誤碼率分析儀，誤碼率分析儀用檢測信號和反饋信號就可以判斷這個被測芯片的誤碼率情況，從而實現對芯片的誤碼率的測試。同時，探針卡和測試機配合測試芯片工作電流和相關DC參數，該光纖中繼芯片測試系統依然可以對芯片工作電流和相關DC參數進行測試。