[實用新型]光學式瑕疵檢測系統

有效

• 申請號: 201720974608.3
• 申請日: 2017-08-07
• 公開（公告）號: CN207007743U
• 公開（公告）日: 2018-02-13
• 發明（設計）人: 李彥志
• 申請（專利權）人: 聯策科技股份有限公司
• 主分類號: G01N21/95
• 分類號: G01N21/95
• 代理公司: 北京匯信合知識產權代理有限公司11335
• 代理人: 趙倩

技術領域

本實用新型涉及一種光學式瑕疵檢測系統，更明確地說明，本實用新型是一種改良的光學式瑕疵檢測系統，可承載檢測多種尺寸待檢測物的瑕疵表面。

背景技術

消費電子產品的輕薄短小需求，尺寸多樣，客制化需求越來越多，所以相同機臺要符合多樣尺寸，少量生產，或是單一尺寸，大量生產，兩種類型的生產需求都要兼顧。

面對這些客戶需求，檢測機臺的設備尺寸會與待測物的尺寸息息相關，以往的作法，單一機臺的尺寸與可檢測的尺寸必須先決定，也就是說單一設備只能檢測某些范圍的尺寸大小，如果買一臺大尺寸的機臺，去檢測小尺寸的待測物，整體的檢測效率會下降，成本會上升，但如果買的檢測設備可量測尺寸過小，又無法滿足某些特定客戶大尺寸檢測的需求，以致于相同檢測功能的機臺，往往會各自獨立購買，某部分的機臺負責檢測小尺寸，某部分機臺負責檢測大尺寸樣品。

中國授權公告CN202974878U實用新型專利揭露一種電路板脫機檢測系統，包含：兩個臺面21、22，單一臺面各別承載一小尺寸電路板1且各別被驅動在一往復方向上移動；以及一相機11，用以拍攝該小尺寸電路板1的一檢測面，其中該相機11安裝于一相機移動軸17且在垂直于該往復方向上移動。請依序參考圖1A至圖1F，當上料裝置(圖未示)將小尺寸電路板1完成上料至臺面21，如箭頭A所示，而下料裝置(圖未示)將小尺寸電路板1從臺面22完成下料，如箭頭B所示，相機移動軸17驅動相機11對準臺面21，如圖1A所示。臺面21、22各別被驅動在各自的往復方向上移動，如圖1B所示箭頭，其中臺面21往下料區移動且相機11拍攝小尺寸電路板1的檢測面進行表面瑕疵檢測，而臺面22往上料區移動。

當臺面21的小尺寸電路板1完成表面瑕疵檢測，臺面21到達下料區準備下料，此時臺面22亦到達上料區準備上料，如圖1C所示。當下料裝置(圖未示)將小尺寸電路板1從臺面21完成下料，而上料裝置(圖未示)將小尺寸電路板1完成上料至臺面22時，相機移動軸17驅動相機11對準臺面22，如圖1D所示。臺面21、22各別被驅動在各自的往復方向上移動，如圖1E所示箭頭，其中臺面21往上料區移動，而臺面22往下料區移動且相機11拍攝小尺寸電路板1的檢測面進行表面瑕疵檢測。當臺面22的小尺寸電路板1完成表面瑕疵檢測，臺面22到達下料區準備下料，此時臺面21亦到達上料區準備上料，如圖1F所示。接下來又循環到圖1A所示，臺面21、22持續分別進行檢測。

如上述現有技術所示檢測系統，僅適于檢測小尺寸電路板1，而當待檢測的電路板寬度大于臺面21、22的寬度時，上述檢測系統便無法用以檢測該待檢測的電路板。因此，本實用新型提供一種可承載檢測多種尺寸待檢測物的光學式瑕疵檢測系統，將有助于產業的實用性。

實用新型內容

本實用新型的目的是提供一種可承載檢測多種尺寸待檢測物的光學式瑕疵檢測系統，可通過多個臺面分別承載小尺寸待檢測物且分別在一往復方向上移動進行表面瑕疵檢測，或多個臺面共同承載大尺寸待檢測物且共同在一往復方向上移動進行表面瑕疵檢測，其中在垂直于該往復方向上，小尺寸待檢測物的檢測面的寬度小于相機在該檢測面的取像寬度，而大尺寸待檢測物的檢測面的寬度大于相機在該檢測面的取像寬度。

為了達到上述實用新型目的，本實用新型提供的一種光學式瑕疵檢測系統，包含：多個臺面，被驅動在一往復方向上移動；一影像拍攝系統，包含一相機，該相機用以從一待檢測物的一檢測面上拍攝影像；以及一移動控制裝置，控制該等臺面在該往復方向上移動，且控制該相機在垂直于該往復方向上移動；該等臺面用以共同承載該待檢測物且共同在該往復方向上移動，并在垂直于該往復方向上，該待檢測物的檢測面的寬度大于該相機在該檢測面的取像寬度，且該移動控制裝置控制該等臺面至少一次的往復移動中，該相機的拍攝影像才掃描過該待檢測物的全部檢測面。

其中，該影像拍攝系統在該往復方向的其中一個方向掃描完成該待檢測物的部分檢測面后，該影像拍攝系統會通知該移動控制裝置控制該相機在垂直于該往復方向上移動。

其中，本實用新型光學式瑕疵檢測系統進一步包含：一相機移動軸，該相機安裝于該相機移動軸而在垂直于該往復方向上移動，而該移動控制裝置控制該相機移動軸至少一次移動該相機，俾使在該等臺面至少一次的往復移動中，該相機的拍攝影像才掃描過該待檢測物的全部檢測面。