[實(shí)用新型]圓盤類工件的空間環(huán)形陣列孔位置度檢測(cè)裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201720945240.8
• 申請(qǐng)日: 2017-07-31
• 公開（公告）號(hào): CN207113756U
• 公開（公告）日: 2018-03-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 齊鐵城;王斌;黃運(yùn)忠;李超
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中核(天津)科技發(fā)展有限公司
• 主分類號(hào): G01B5/00
• 分類號(hào): G01B5/00;G01B5/20
• 代理公司: 天津創(chuàng)智天誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙)12214
• 代理人: 周慶路

1.一種圓盤類工件的空間環(huán)形陣列孔位置度檢測(cè)裝置，其特征在于，包括，

底座，包括位于中心的圓盤體以及與所述的圓盤體一體形成的側(cè)擋環(huán)，所述的側(cè)擋環(huán)上設(shè)置有多個(gè)與圓盤類工件的側(cè)孔對(duì)應(yīng)的檢測(cè)孔，

中軸柱，下端與所述的底座固定連接，中部形成有定位環(huán)，所述的定位環(huán)上部的頭段與所述的圓盤類工件的中心孔間隙配合；

壓環(huán)，與所述的中軸柱的頭段間隙配合并將所述的圓盤類工件夾持其中；

活動(dòng)檢測(cè)銷，包括至少端部與所述的側(cè)孔間隙配合的穿柱和與所述的穿柱一體形成的柱帽。

2.如權(quán)利要求1所述的空間環(huán)形陣列孔位置度檢測(cè)裝置，其特征在于，所述的穿柱上形成有突出部以與柱帽配合將其定位在底座的檢測(cè)孔處。

3.如權(quán)利要求1所述的空間環(huán)形陣列孔位置度檢測(cè)裝置，其特征在于，所述的穿柱包括與檢測(cè)孔匹配地連接部以及與所述的側(cè)孔匹配的檢測(cè)部，所述的檢測(cè)部直徑大于所述的連接部。

4.如權(quán)利要求2或3所述的空間環(huán)形陣列孔位置度檢測(cè)裝置，其特征在于，所述的穿柱上套設(shè)有復(fù)位機(jī)構(gòu)。

5.如權(quán)利要求2或3所述的空間環(huán)形陣列孔位置度檢測(cè)裝置，其特征在于，至少其中一個(gè)所述的活動(dòng)檢測(cè)銷的柱帽與側(cè)擋環(huán)間設(shè)置有磁吸機(jī)構(gòu)。

6.如權(quán)利要求5所述的空間環(huán)形陣列孔位置度檢測(cè)裝置，其特征在于，所述的磁吸機(jī)構(gòu)為設(shè)置在側(cè)擋環(huán)上的磁鐵和鐵質(zhì)柱帽。

7.如權(quán)利要求1所述的空間環(huán)形陣列孔位置度檢測(cè)裝置，其特征在于，所述的圓盤體上設(shè)置有中心孔，所述的中軸柱下端與所述的圓盤體螺栓連接且在所述的定位環(huán)與底座間設(shè)置有墊片環(huán)。

8.如權(quán)利要求1所述的空間環(huán)形陣列孔位置度檢測(cè)裝置，其特征在于，所述的底座的側(cè)擋環(huán)與中心的圓盤體的夾角與圓盤類工件的側(cè)孔與軸線所成夾角相對(duì)應(yīng)，所述的檢測(cè)孔與所述的側(cè)孔同軸設(shè)置。

9.如權(quán)利要求1所述的空間環(huán)形陣列孔位置度檢測(cè)裝置，其特征在于，所述的壓環(huán)與所述的定位環(huán)間設(shè)置有磁吸機(jī)構(gòu)。

10.如權(quán)利要求1所述的空間環(huán)形陣列孔位置度檢測(cè)裝置，其特征在于，所述的間隙配合的配合精度為0.005mm。