[實用新型]工件探測結構

有效

• 申請號: 201720941016.1
• 申請日: 2017-07-31
• 公開（公告）號: CN207681040U
• 公開（公告）日: 2018-08-03
• 發明（設計）人: 何宗儒;王崇權;徐春明;林可可;張勇
• 申請（專利權）人: 昆山全盈自動化設備有限公司
• 主分類號: B07C5/342
• 分類號: B07C5/342
• 代理公司: 北京中原華和知識產權代理有限責任公司 11019
• 代理人: 壽寧;張華輝

本實用新型是關于一種工件探測結構，其主要包含一機座；一探測裝置，滑設于該機座上，該探測裝置包含一探測件；以及一線性移動裝置，其分離地與該探測裝置搭接；前述構成，該線性移動裝置向上作動時推動該探測裝置沿該機座向上位移，該線性移動裝置向下作動時，該探測裝置以自身重力沿該機座向下位移，進而使該探測裝置進行往復式位移；藉此，以解決先前技術中因連結力帶動探測，且缺乏靈敏的感測機構設計，因而極易將探測物內的瑕疵料品壓扁，導致提高誤判率等的缺失問題。

技術領域

本實用新型是關于一種工件探測結構，尤其是一種以探針檢測工件針孔良率的探測結構。

背景技術

在工業制造領域中，需要檢測電子零件或緊固件的成品或半成品零部件的成品率，以改進制造工藝。請參照臺灣新型第M412000號專利，在利用習用檢測裝置檢測含有凹槽或帶孔的待測工件時，需要將一探針伸入該待測工件的凹槽或零部件的孔洞，判斷其中是否含有積液、殘料以及瑕疵等。一般檢測機臺的探針結構，會利用與待測工件形狀對應的探針檢查針孔內是否有瑕疵，例如積液、殘料，探針直接結合在驅動器上，跟著驅動器做上下位移，當探針直接插入孔內并確認是否有積液或殘料在孔內時，因驅動器所默認的行程距離，使探針被驅動過程中，在接觸積液、殘料后，其所施予積液或殘料的壓力，可能會把積液或殘料壓扁，而導致判讀結果時，將此待測工件的認定為良品，致使誤判率提升。此外，若待測工件的針孔為梅花孔或六角孔等非圓形孔時，容易發生因探針的形狀無法準確對位插進孔內，導致傷料或誤判的問題。再者，當探針抽離針孔時，偶爾會因油漬或工件與探針之間的密合度高，而將工件帶起，若此時承置該待測工件的轉盤移動時，也會發生傷到工件或卡料的問題。

有鑒于對現有檢測領域的探測工件時，因探針受到驅動器的驅動力及驅動行程距離，而使探針強行進入工件凹槽或孔洞時，將積液或殘料等多余物料壓扁，導致檢測結果誤判為良品，進而提升誤判率；此外，探針探測精度不佳和抽離針孔時易將工件帶起的缺陷，有必要提供一種新型工件探測結構，以克服上述問題。

發明內容

本新型的主要目的在于提供一種工件探測結構，可改善將待測工件孔內瑕疵料品壓扁的問題。

本新型的另一目的在于提供一種工件探測結構，可改善檢測過程因探針進入孔內角度不對應而導致傷料的問題。

本新型的另一目的在于提供一種工件探測結構，可改善探針抽離針孔時會將工件帶起而導致傷料的問題。

為達成上述的目的及功效，本新型提供一種工件探測結構，其包含一機座；一探測裝置，滑設于該機座上，該探測裝置包含一探測件；以及一線性移動裝置，其分離地與該探測裝置搭接；該線性移動裝置向上作動時推動該探測裝置沿該機座向上位移，該線性移動裝置向下作動時，該探測裝置以自身重力沿該機座向下位移，進而使該探測裝置進行往復式位移。

前述構成，其中該探測件的一端設有一探針結合座，該探針結合座用于結合一探針。

前述構成，其中該機座包含一滑軌，該探測裝置包含一滑座，該滑座滑動地設于該滑軌上。

前述構成，其中該探測件可樞轉地結合于該滑座，該探測件相對于該探針結合座的另一端設有一傳動輪。

前述構成，其中該探測裝置另包含一旋轉連動裝置，該旋轉連動裝置包含一主動輪及一傳動件，該主動輪被一馬達驅動而轉動，該傳動件將受到該主動輪的轉動力傳送到該探測件的該傳動輪上，帶動該探測件的該探針發生旋轉。

前述構成，其中該探針結合座的水平延伸假想線作為一基準線L，該基準線L至一工件的頂部之間設有一距離H。

前述構成，其中該探測裝置設有一第一頂抵件，該線性移動裝置包含一第一頂推件，該第一頂推件搭接頂推該第一頂抵件。