[實用新型]微電阻測試設備

有效

• 申請號: 201720938627.0
• 申請日: 2017-07-28
• 公開（公告）號: CN207051328U
• 公開（公告）日: 2018-02-27
• 發明（設計）人: 李新宏;樊樹根;邱長文;陳志輝;謝陳亮;肖一帆;廖天裕;周素仰;何建安;鄧國華
• 申請（專利權）人: 東莞阿李自動化股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R1/073
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司11227
• 代理人: 李海建

1.一種微電阻測試設備，其特征在于，包括：

上探針組(1)；

用于驅動所述上探針組(1)上下移動的上驅動裝置

下探針組(2)，所述上探針組(1)與所述下探針組(2)與微電阻測試儀電連接；

用于驅動所述下探針組(2)上下移動的下驅動裝置，所述上探針組(1)和所述下探針組(2)之間能夠供輸送帶穿過，所述上探針組(1)和所述下探針組(2)能夠分別與負極柱的上端和下端接觸；

用于控制所述上驅動裝置和所述下驅動裝啟停的控制裝置。

2.根據權利要求1所述的微電阻測試設備，其特征在于，所述上驅動裝置為上氣缸(7)，所述下驅動裝置為下氣缸(8)。

3.根據權利要求2所述的微電阻測試設備，其特征在于，所述微電阻測試設備還包括：

框架，所述框架具有頂板，所述上氣缸(7)設置于所述頂板上；

上探針座(3)，所述上探針組(1)安裝在所述上探針座(3)上，所述上氣缸(7)的活塞穿過所述頂板與所述上探針座(3)連接；

下探針座(4)，所述下探針組(2)安裝在所述下探針座(4)上，所述下氣缸(8)的活塞與所述下探針座(4)連接。

4.根據權利要求3所述的微電阻測試設備，其特征在于，所述框架還具有底板，所述下氣缸(8)與所述底板連接，所述下氣缸(8)的活塞穿過所述底板與所述下探針座(4)連接。

5.根據權利要求4所述的微電阻測試設備，其特征在于，所述頂板上間隙配合有上導向柱(5)，所述上導向柱(5)的底端與所述上探針座(3)連接，所述底板上間隙配合有下導向柱(6)，所述下導向柱(6)的上端與所述下探針座(4)連接。

6.根據權利要求5所述的微電阻測試設備，其特征在于，所述上導向柱(5)的上端連接有防止所述上導向柱(5)脫離所述頂板的限位結構。

7.根據權利要求1所述的微電阻測試設備，其特征在于，所述上探針組(1)和所述下探針組(2)均包括四個探針，順著所述輸送帶的輸送方向看過去，四個所述探針成十字型布置，四個所述探針分別為前探針(11)、后探針(12)、左探針(13)以及右探針(14)，所述前探針(11)與所述左探針(13)電連接，所述后探針(12)與所述右探針(14)電連接。

8.根據權利要求2所述的微電阻測試設備，其特征在于，所述上探針組(1)包括成排布置的多組，所述下探針組(2)包括成排布置的多組，每一組所述上探針組(1)與一組所述下探針組(2)對應。

9.根據權利要求8所述的微電阻測試設備，其特征在于，所述下探針座(4)包括平板(41)，以及設置于所述平板(41)上的立板(42)，所述立板(42)為多個，每一個所述立板(42)上設置有一個所述下探針組(2)。

10.根據權利要求9所述的微電阻測試設備，其特征在于，還包括與所述立板(42)和所述平板(41)連接的加強筋(9)。