[實用新型]一種基準電壓通用測試裝置

有效

• 申請號: 201720938304.1
• 申請日: 2017-07-28
• 公開（公告）號: CN207020240U
• 公開（公告）日: 2018-02-16
• 發明（設計）人: 梁宇飛;喬秀銘;趙帥
• 申請（專利權）人: 航天科工防御技術研究試驗中心
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00;G01R1/04
• 代理公司: 北京風雅頌專利代理有限公司11403
• 代理人: 朱親林

技術領域

本實用新型涉及測試裝置技術領域，特別是指一種基準電壓通用測試裝置。

背景技術

當前隨著科學的發展，各種測試系統的功能越來越強大、全面。但是也給小部件的測試尤其是模塊化的測試帶來了問題，例如對于一個功能全面的測試系統，基于普遍性與通用性，測試系統的結構設置成可以與不同器件連接的方式，雖然使得不同器件均能實現不同的測試目的，但是每次測試不同器件時，均需要逐個管腳依次與測試系統連接，不僅費時費力，而且容易出現人工誤差，導致測試的失誤。因此在實現本實用新型的過程中，發明人發現現有技術至少存在以下缺陷：對于器件的功能測試尤其是基準電壓測試的效率和準確性不高。

實用新型內容

有鑒于此，本實用新型的目的在于提出一種基準電壓通用測試裝置，在利用現有測試裝置的基礎上，提高器件基準電壓的測試效率和準確性。

基于上述目的本實用新型提供的一種基準電壓通用測試裝置，包括：測試插座、測試電路板以及集成電路測試系統：所述測試插座通過測試電路板與集成電路測試系統連接，且待測試的器件通過器件管腳與測試插座連接；其中，所述測試電路板一側設置有與集成電路測試系統匹配的接口，另一側設置有與測試插座匹配的接口；所述測試插座一端與測試電路板連接，另一端設置有與待測試的器件管腳匹配的接口；

所述待測試的器件通過測試插座和測試電路板與集成電路測試系統中的相應測試接口連接，完成器件的基準電壓測試。

可選的，所述測試電路板中設置有多組與測試插座匹配的接口組。

可選的，所述測試插座中設置有扳手結構和銅片；其中，所述扳手結構用于通過按壓銅片進而控制器件管腳與測試插座的連接強度。

可選的，待測器件的接地端通過至少一個繼電器與集成電路測試系統連接。

可選的，還包括轉接插座；所述測試電路板通過所述轉接插座與集成電路測試系統連接。

可選的，所述測試插座中設置有與待測器件對應的凹槽結構，用于對待測器件進行定位和保護。

可選的，所述測試電路板中還設置有校驗電路結構，用于接收同一待測器件的管腳信號并連接到集成電路測試系統的不同單元中，同時實現待測器件的測試和校驗。

可選的，所述測試電路板和/或所述測試插座的接口設置為彈性鎖緊結構，其中，所述彈性鎖緊結構為在接口位置相應設置有彈性結構，用于使得插入接口中的管腳或者插頭固定鎖緊。

可選的，所述集成電路測試系統為AMIDA 3KS測試系統。

從上面所述可以看出，本實用新型提供的基準電壓通用測試裝置通過在測試電路板上設計與集成電路測試系統配合的接口將集成電路測試系統的接口轉化為在測試電路板上對應預定待測目標的標準接口，通過測試插座將不同型號大小的待測器件的連接轉化為測試插座與測試電路板對應的插接式接口，使得針對于不同型號大小的待測器件的基準電壓的測試能夠通過測試電路板與測試插座的配合實現快速連接，進而提高待測器件的測試效率，尤其是進行批量測試時，只需要預先將測試電路板與集成電路測試系統連接，然后就可以根據需要將待測器件插入匹配的測試插座中，然后通過測試插座插接到測試電路板，實現與集成電路測試系統的連接。同時，基于所述測試電路板和測試插座將待測器件與集成電路測試系統的測試連接轉化為標準的插口或者管腳的連接，避免了人工將管腳與集成電路測試系統的測試系統的連線連接，降低測試過程中的人工誤差。因此，本申請所述的基準電壓通用測試裝置能夠在利用現有測試系統的基礎上，提高器件基準電壓的測試效率和準確性。

附圖說明

圖1為本實用新型提供的基準電壓通用測試裝置的一個實施例的結構示意圖；

圖2為本實用新型提供的測試電路板對應的電路框圖；

圖3為本實用新型提供的測試插座的一個實施例的結構示意圖。

具體實施方式

為使本實用新型的目的、技術方案和優點更加清楚明白，以下結合具體實施例，并參照附圖，對本實用新型進一步詳細說明。

需要說明的是，本實用新型實施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是為了區分兩個相同名稱非相同的實體或者非相同的參量，可見“第一”“第二”僅為了表述的方便，不應理解為對本實用新型實施例的限定，后續實施例對此不再一一說明。