[實(shí)用新型]一種供電所用供電線路檢測(cè)裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201720935701.3 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN207051198U | 公開(公告)日: | 2018-02-27 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李秉卓 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 李秉卓 |
| 主分類號(hào): | G01N21/64 | 分類號(hào): | G01N21/64;G01N23/00 |
| 代理公司: | 北京華識(shí)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司11530 | 代理人: | 汪浩 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 供電 所用 線路 檢測(cè) 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型是一種供電所用供電線路檢測(cè)裝置,屬于檢測(cè)裝置領(lǐng)域。
背景技術(shù)
日常生活中電的使用離不開電力線路,通訊信號(hào)的傳遞離不開通訊線路,因此,在使用電力線路以及有極性通訊線路時(shí),布線的正確性就顯得尤為重要。實(shí)際上,在對(duì)電力線路以及有極性通訊線路布線時(shí)容易出現(xiàn)短路和反接的情況,因此,需要對(duì)布線完成的電力線路或者有極性通訊線路的布線正確性進(jìn)行檢測(cè),隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展,一種供電所用供電線路檢測(cè)裝置也得到了技術(shù)改進(jìn),目前生活中,無論在哪都已經(jīng)離不開電的使用,就需要保證在使用時(shí)線路的安全,所以對(duì)線路的檢測(cè)就顯得很有必要。但現(xiàn)有技術(shù)難以檢測(cè)故障,檢測(cè)不夠細(xì)致。
實(shí)用新型內(nèi)容
針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在的不足,本實(shí)用新型目的是提供一種供電所用供電線路檢測(cè)裝置,以解決現(xiàn)有技術(shù)難以檢測(cè)故障,檢測(cè)不夠細(xì)致的問題。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型是通過如下的技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn):一種供電所用供電線路檢測(cè)裝置,包括底板、通孔、擋板、接觸頭、儲(chǔ)備電源,還包括顯示屏、電路箱、檢測(cè)裝置,所述通孔設(shè)置于底板上,所述底板頂部安裝有擋板,所述擋板前端部安裝有顯示屏,所述擋板與儲(chǔ)備電源相連接,所述儲(chǔ)備電源前端部安裝有電路箱,所述電路箱通過線圈連接檢測(cè)裝置,所述檢測(cè)裝置頂部連接有接觸頭,所述檢測(cè)裝置包括發(fā)射器、探傷儀、紫外計(jì)數(shù)器、信息采集模塊、信息收集模塊、存儲(chǔ)模塊、接收器、變頻器、指示燈、處理器,所述發(fā)射器與探傷儀電連接,所述探傷儀與紫外計(jì)數(shù)器電連接,所述探傷儀與信息采集模塊電連接,所述信息采集模塊與信息收集模塊電連接,所述信息收集模塊與存儲(chǔ)模塊電連接,所述存儲(chǔ)模塊與接收器電連接,所述接收器與變頻器電連接,所述變頻器與指示燈電連接,所述指示燈與指處理器電連接,所述處理器與顯示屏電連接,所述探傷儀包括射線探傷模塊、超聲探傷模塊、磁粉探傷模塊、滲透探傷模塊,所述射線探傷模塊與超聲探傷模塊電連接,所述超聲探傷模塊與磁粉探傷模塊電連接,所述磁粉探傷模塊與滲透探傷模塊電連接,所述顯示屏、電路箱、檢測(cè)裝置、接觸頭與儲(chǔ)備電源電連接。
進(jìn)一步地,所述底板上均設(shè)有兩個(gè)通孔。
進(jìn)一步地,所述底板與擋板為垂直關(guān)系。
進(jìn)一步地,所述接觸頭為圓柱體。
進(jìn)一步地,所述擋板與儲(chǔ)備電源為垂直關(guān)系。
進(jìn)一步地,所述底板采用碳素鋼材質(zhì),碳素鋼的硬度很高,耐熱溫度高。
進(jìn)一步地,所述顯示屏采用PVA材質(zhì)面板,色彩視覺更加豐富。
本實(shí)用新型的一種供電所用供電線路檢測(cè)裝置,通過設(shè)置了檢測(cè)裝置,通過探傷儀進(jìn)行檢測(cè),將內(nèi)部有缺陷的地方通過紫外計(jì)數(shù)器將檢測(cè)中有缺陷的地方都記錄下,通過處理器將缺陷都一一顯示在顯示屏,便于使用者在使用時(shí)可以更好的觀察這些缺陷,解決了難以檢測(cè)故障的現(xiàn)象,通過設(shè)置了探傷儀,探傷儀內(nèi)部設(shè)有射線探傷模塊、超聲探傷模塊、磁粉探傷模塊、滲透探傷模塊四種,在檢測(cè)時(shí)可以將內(nèi)部的缺點(diǎn)檢測(cè)得更細(xì)致,防止故障積少成多導(dǎo)致安全性低,解決了檢測(cè)不夠細(xì)致的現(xiàn)象。
附圖說明
通過閱讀參照以下附圖對(duì)非限制性實(shí)施例所作的詳細(xì)描述,本實(shí)用新型的其它特征、目的和優(yōu)點(diǎn)將會(huì)變得更明顯:
圖1為本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2為本實(shí)用新型的原理示意圖;
圖3為本實(shí)用新型探傷儀的原理示意圖。
圖中:底板-1、通孔-2、擋板-3、顯示屏-4、電路箱-5、檢測(cè)裝置-6接觸頭-7、儲(chǔ)備電源-8、發(fā)射器-601、探傷儀-602、紫外計(jì)數(shù)器-603、信息采集模塊-604、信息收集模塊-605、存儲(chǔ)模塊-606、接收器-607、變頻器-608、指示燈-609、處理器-610、射線探傷模塊-6021、超聲探傷模塊-6022、磁粉探傷模塊-6023、滲透探傷模塊-6024。
具體實(shí)施方式
為使本實(shí)用新型實(shí)現(xiàn)的技術(shù)手段、創(chuàng)作特征、達(dá)成目的與功效易于明白了解,下面結(jié)合具體實(shí)施方式,進(jìn)一步闡述本實(shí)用新型。
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- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
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