[實(shí)用新型]一種芯片管腳檢測(cè)開短路測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201720929304.5
• 申請(qǐng)日: 2017-07-27
• 公開（公告）號(hào): CN207164179U
• 公開（公告）日: 2018-03-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 葉喜濤
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 天津芯絡(luò)科微電子研發(fā)有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/02
• 分類號(hào): G01R31/02
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及芯片檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種芯片管腳檢測(cè)開短路測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

當(dāng)前自動(dòng)化控制發(fā)展迅速，控制芯片的功能趨于更加的復(fù)雜化和多樣化，其芯片本身來實(shí)現(xiàn)眾多的復(fù)雜功能。對(duì)芯片外部來說基本通過管腳復(fù)用的形式來實(shí)現(xiàn)芯片各種功能的分時(shí)復(fù)用。芯片功能和外部管腳的復(fù)用同樣的越加趨于復(fù)雜化。

現(xiàn)有的芯片管腳檢測(cè)開短路測(cè)試裝置的測(cè)試探針都是裸露在外面，易受到空氣中的污染物腐蝕，使得測(cè)試裝置的靈敏度下降，為了解決以上問題，需要一種芯片管腳檢測(cè)開短路測(cè)試裝置來滿足人們的需求。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的是為了解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的缺點(diǎn)，而提出的一種芯片管腳檢測(cè)開短路測(cè)試裝置。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型采用了如下技術(shù)方案：

一種芯片管腳檢測(cè)開短路測(cè)試裝置，包括裝置本體，所述裝置本體為空腔結(jié)構(gòu)，所述裝置本體的內(nèi)部固定安裝有兩個(gè)對(duì)稱設(shè)置的軌道板，軌道板水平設(shè)置，所述軌道板上滑動(dòng)連接有豎直設(shè)置的的安裝箱，所述安裝箱內(nèi)固定安裝有固定塊，固定塊的頂部固定連接有豎直設(shè)置的滑桿，滑桿的頂部與安裝箱的頂部?jī)?nèi)壁固定連接，所述滑桿上滑動(dòng)安裝有滑動(dòng)塊，滑動(dòng)塊套設(shè)于滑桿上，所述滑桿上套設(shè)有彈簧，彈簧位于固定塊和滑動(dòng)塊之間，所述固定塊和滑動(dòng)塊上均固定安裝有水平設(shè)置的測(cè)試探針，測(cè)試探針的一端延伸至裝置本體的外部，所述安裝箱的頂部?jī)?nèi)壁固定安裝有第一螺紋塊，第一螺紋塊上開設(shè)有通孔，通孔內(nèi)螺紋安裝有豎直設(shè)置的第一螺紋桿，所述第一螺紋桿的一端與滑動(dòng)塊固定連接，第一螺紋桿的另一端固定連接有水平設(shè)置的轉(zhuǎn)動(dòng)桿，轉(zhuǎn)動(dòng)桿位于裝置本體的上方，所述裝置本體的一側(cè)內(nèi)壁固定安裝有第二螺紋塊，第二螺紋塊上開設(shè)有通孔，通孔內(nèi)螺紋安裝有水平設(shè)置的第二螺紋桿，所述第二螺紋桿的一端固定連接有軸承，軸承遠(yuǎn)離第二螺紋桿的一側(cè)與安裝箱固定連接，所述安裝箱的底部固定連接有連接塊，所述軌道板上設(shè)有放置槽，連接塊位于放置槽內(nèi)，所述連接塊的底部固定安裝有水平設(shè)置的滑板，所述滑板的底部固定連接有兩個(gè)對(duì)稱設(shè)置的滑輪，滑輪與放置槽底部?jī)?nèi)壁滾動(dòng)連接。

優(yōu)選的，所述裝置本體的頂部和裝置本體遠(yuǎn)離第二螺紋塊的一側(cè)均開設(shè)有長(zhǎng)方形通孔，通孔與裝置本體的內(nèi)部連通，測(cè)試探針和第一螺紋桿與通孔滑動(dòng)連接。

優(yōu)選的，所述第二螺紋桿的另一端固定安裝有手柄，手柄為Z形結(jié)構(gòu)。

優(yōu)選的，所述軌道板的底部?jī)?nèi)部開設(shè)有凹槽，凹槽與滑輪滾動(dòng)連接。

本實(shí)用新型的有益效果是：通過轉(zhuǎn)動(dòng)第一螺紋桿，調(diào)節(jié)兩個(gè)測(cè)試探針之間的距離，實(shí)現(xiàn)了任意大小的芯片管腳的接觸測(cè)試，通過轉(zhuǎn)動(dòng)第二螺紋桿，將安裝箱移動(dòng)進(jìn)入裝置本體的內(nèi)部，實(shí)現(xiàn)了對(duì)測(cè)試探針的保護(hù)作用。本實(shí)用新型實(shí)現(xiàn)了芯片管腳測(cè)試的目的，還對(duì)測(cè)試裝置的測(cè)試元件進(jìn)行了保護(hù)，避免了測(cè)試元件受到空氣的俯視，保證了測(cè)試裝置的靈敏度，提高了裝置的使用壽命，使用方便，易于推廣。

附圖說明

圖1為本實(shí)用新型提出的一種芯片管腳檢測(cè)開短路測(cè)試裝置的俯視結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2為本實(shí)用新型提出的一種芯片管腳檢測(cè)開短路測(cè)試裝置的軌道板和安裝箱連接結(jié)構(gòu)示意圖。

圖中：1裝置本體、2軌道板、3安裝箱、4固定塊、5滑桿、6滑動(dòng)塊、7彈簧、8測(cè)試探針、9第一螺紋塊、10第一螺紋桿、11轉(zhuǎn)動(dòng)桿、12第二螺紋塊、13第二螺紋桿、14軸承、15連接塊、16滑板、17滑輪。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對(duì)本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。