[實(shí)用新型]一種可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線熒光衍射集成分析儀有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201720915830.6 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-26 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN207263670U | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-04-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊勇奇;王典洪;倪效勇;徐朝玉;程卓;龔芳;熊德云 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)地質(zhì)大學(xué)(武漢) |
| 主分類號(hào): | G01N23/223 | 分類號(hào): | G01N23/223;G01N23/205;G01N23/2204;G01N23/2206;G01N23/20025 |
| 代理公司: | 武漢知產(chǎn)時(shí)代知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司42238 | 代理人: | 郝明琴 |
| 地址: | 430074 湖*** | 國(guó)省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 旋轉(zhuǎn) 試樣 射線 熒光 衍射 集成 分析 | ||
1.一種可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線熒光衍射集成分析儀,包括X射線發(fā)生器、X射線衍射分析組件和熒光探測(cè)器,其特征在于:還包括其上下兩層分別為熒光樣品托盤和衍射樣品托盤的雙層旋轉(zhuǎn)臺(tái),所述熒光樣品托盤上設(shè)有若干熒光分析樣品槽和與所述若干熒光分析樣品槽相互間隔設(shè)置的若干通光孔,所述衍射樣品托盤上設(shè)有與所述若干通光孔一一對(duì)應(yīng)的若干衍射分析樣品槽,一步進(jìn)電機(jī)通過(guò)一旋轉(zhuǎn)桿連接所述雙層旋轉(zhuǎn)臺(tái)以驅(qū)動(dòng)所述雙層旋轉(zhuǎn)臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng);所述X射線衍射分析組件平行于X射線光路立式安裝,包括上下設(shè)置的準(zhǔn)直調(diào)節(jié)模塊和衍射探測(cè)模塊,所述衍射樣品托盤位于所述準(zhǔn)直調(diào)節(jié)模塊和所述衍射探測(cè)模塊之間,所述熒光探測(cè)器垂直于所述X射線光路臥式安裝,所述熒光探測(cè)器位于所述X射線發(fā)生器和所述熒光樣品托盤之間,所述熒光分析樣品槽放置熒光樣品的面為傾斜面,所述傾斜面朝向所述熒光探測(cè)器設(shè)置。
2.如權(quán)利要求1所述的可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線熒光衍射集成分析儀,其特征在于:所述熒光分析樣品槽和所述通光孔的數(shù)量各為三個(gè),所述熒光分析樣品槽和相鄰的所述通光孔之間的位置夾角為60°。
3.如權(quán)利要求1所述的可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線熒光衍射集成分析儀,其特征在于:還包括水平設(shè)置的第四安裝板,所述步進(jìn)電機(jī)安裝于所述第四安裝板,一立式傘輪與所述步進(jìn)電機(jī)連接以在所述步進(jìn)電機(jī)的驅(qū)使下立向轉(zhuǎn)動(dòng),所述旋轉(zhuǎn)桿穿過(guò)一臥式傘輪的中心且通過(guò)一下軸承座安裝于所述第四安裝板,所述臥式傘輪與所述旋轉(zhuǎn)桿固定接觸,且所述立式傘輪和所述臥式傘輪的嚙齒相互嚙合。
4.如權(quán)利要求3所述的可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線熒光衍射集成分析儀,其特征在于:還包括水平設(shè)置的位于所述第四安裝板上方的第二安裝板,一軸承安裝座通過(guò)四絲桿固定的掛設(shè)于所述第二安裝板,所述旋轉(zhuǎn)桿的上端穿過(guò)所述熒光樣品托盤后通過(guò)一上軸承座安裝于所述軸承安裝座。
5.如權(quán)利要求4所述的可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線熒光衍射集成分析儀,其特征在于:還包括水平設(shè)置的位于所述第二安裝板和所述第四安裝板之間的第三安裝板,所述準(zhǔn)直調(diào)節(jié)模塊包括千分尺位移臺(tái)和設(shè)于所述千分尺位移臺(tái)活動(dòng)面的針孔準(zhǔn)直器,所述千分尺位移臺(tái)的上端面固定于所述第三安裝板的下表面,所述針孔準(zhǔn)直器位于所述千分尺位移臺(tái)的下端面,所述千分尺位移臺(tái)具有一X向調(diào)節(jié)柄和與所述X向調(diào)節(jié)柄垂直設(shè)置的Y向調(diào)節(jié)柄,所述X向調(diào)節(jié)柄和所述Y向調(diào)節(jié)柄均與所述活動(dòng)面連接以調(diào)節(jié)所述活動(dòng)面在X向上或者在與所述X向垂直的Y向上的坐標(biāo),所述X向和所述Y向均垂直于立式方向。
6.如權(quán)利要求4所述的可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線熒光衍射集成分析儀,其特征在于:還包括水平設(shè)置的位于所述第二安裝板上方的第一安裝板,所述X射線發(fā)生器通過(guò)角碼固定于所述第一安裝板的下表面。
7.如權(quán)利要求4所述的可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線熒光衍射集成分析儀,其特征在于:所述熒光探測(cè)器固定于所述第二安裝板的下表面,且位于所述第二安裝板和所述軸承安裝座之間。
8.如權(quán)利要求3所述的可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線熒光衍射集成分析儀,其特征在于:所述熒光樣品托盤和所述衍射樣品托盤均通過(guò)位于各自上下表面的鎖緊螺母固定于所述旋轉(zhuǎn)桿。
9.如權(quán)利要求3所述的可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線熒光衍射集成分析儀,其特征在于:還包括水平設(shè)置的位于所述第四安裝板下方的第五安裝板,所述第四安裝板上開(kāi)設(shè)有一通孔,所述衍射探測(cè)模塊包括卡設(shè)于所述通孔且向下固定于所述第五安裝板的真空腔和位于所述真空腔內(nèi)的CCD探測(cè)器,所述真空腔的上端面設(shè)有X射線可以透過(guò)的鈹窗,所述CCD探測(cè)器位于所述鈹窗的正下方,所述真空腔的底壁設(shè)有航空插座,所述CCD探測(cè)器通過(guò)設(shè)于所述真空腔的底壁的航空插座與系統(tǒng)控制單元連接。
10.如權(quán)利要求9所述的可旋轉(zhuǎn)試樣的X射線熒光衍射集成分析儀,其特征在于:所述CCD探測(cè)器的背部通過(guò)紫銅塊與所述真空腔的底壁連接,所述真空腔的底壁的外側(cè)設(shè)有散熱風(fēng)扇。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N23-00 利用未包括在G01N 21/00或G01N 22/00組內(nèi)的波或粒子輻射來(lái)測(cè)試或分析材料,例如X射線、中子
G01N23-02 .通過(guò)使輻射透過(guò)材料
G01N23-20 .利用輻射的衍射,例如,用于測(cè)試晶體結(jié)構(gòu);利用輻射的反射
G01N23-22 .通過(guò)測(cè)量二次發(fā)射
G01N23-221 ..利用活化分析法
G01N23-223 ..通過(guò)用X射線輻照樣品以及測(cè)量X射線熒光





