[實用新型]一種DFB激光器測試裝置有效
| 申請號: | 201720914691.5 | 申請日: | 2017-07-26 |
| 公開(公告)號: | CN207300544U | 公開(公告)日: | 2018-05-01 |
| 發明(設計)人: | 蘇輝;黃章挺;吳林福生;薛正群 | 申請(專利權)人: | 福建中科光芯光電科技有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 福州元創專利商標代理有限公司35100 | 代理人: | 蔡學俊,鐘茜 |
| 地址: | 350003 福建省福州市*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 dfb 激光器 測試 裝置 | ||
技術領域
本實用新型涉及激光器測試領域,尤其涉及一種DFB激光器測試裝置。
背景技術
半導體激光器具有體積小、重量輕、壽命長、易于集成等顯著特點,它的應用范圍隨著光通信產業的發展而更加廣泛,DFB-LD(分布反饋半導體激光器)內藏光柵結構,在單色型和穩定性方面優于一般的LD(半導體激光器),可以實現動態單模,是實現高速大容量通信的基礎。對于折射率耦合型DFB-LD來說由于光柵制作的工藝質量以及由于端面解離而產生的隨機相位導致其成品率低,容易產生多模激射,在光譜上表現從單模到多模的跳變,在器件的電流-電壓-光強曲線(LIV)上表現為Kink跳變點,因此需要在測試上將不良品剔除。
目前常規外購的測試臺,價格昂貴,同時多數只適合室溫測試,無法實現高溫測試。
發明內容
本實用新型的目的是針對以上不足之處,提供了一種DFB激光器測試裝置,實現高溫下進行激光器的性能測試。
本實用新型解決技術問題所采用的方案是:一種DFB激光器測試裝置,包括一維移動臺、設置于一維移動臺上的二維調節臺以及設置于二維調節臺上的光電探測器和光纖透鏡;所述二維調節臺旁側正對設有一散熱臺,所述散熱臺上安裝有半導體制冷器,所述半導體制冷器的熱端設有加熱銅塊,一個以上的DFB激光器沿著一維移動臺的移動方向間隔設置于加熱銅塊上,并且正對光電探測器設置;還包括設置于一維移動臺旁側的光譜儀、電流源、LIV測試儀、PC機, 所述電流源連接所述半導體制冷器和DFB激光器,所述光纖透鏡與光譜儀連接,所述光電探測器與一LIV測試儀連接,所述LIV測試儀與PC機連接。
進一步的,所述加熱銅塊上設有若干個用于夾持DFB激光器的夾持卡塊,所述夾持卡塊與DFB激光器一一對應設置。
進一步的,所述光纖透鏡和光電探測器分別經一夾持件固定于所述二維調節臺上。
進一步的,所述一維移動臺為橫向絲桿機構,所述二維調節臺包括縱向絲桿機構和豎向絲桿機構,所述縱向絲桿機構設置于橫向設置機構的滑塊上,所述豎向絲桿機構設置于縱向絲桿機構的滑塊上,所述光纖透鏡和光電探測器設置于豎向絲桿機構的滑塊上。
與現有技術相比,本實用新型有以下有益效果:本實用新型采用自主搭建的測試裝置,實現DFB激光器室溫和高溫下LIV 曲線和光譜特性的自動測試,搭建測試系統價格與外購相比成本低,能有效解決DFB的室溫和高溫測試問題。
附圖說明
下面結合附圖對本實用新型專利進一步說明。
圖1為本實用新型實施例的測試裝置的結構示意圖。
圖2為本實用新型實施例的測試裝置的主視圖。
圖中:1-一維移動臺;2-二維調節臺;3-光電探測器;4-光纖透鏡;5-散熱臺;6-半導體制冷器;7-DFB激光器;8-加熱銅塊;9-光譜儀;10-LIV測試儀;11-PC機。
具體實施方式
下面結合附圖和具體實施方式對本實用新型進一步說明。
如圖1~2所示,本實施例的一種DFB激光器7測試裝置,包括一維移動臺1、設置于一維移動臺1上的二維調節臺2以及設置于二維調節臺2上的光電探測器3和光纖透鏡4;所述二維調節臺2旁側正對設有一散熱臺5,所述散熱臺5上安裝有半導體制冷器6,所述半導體制冷器6的熱端設有加熱銅塊,一個以上的DFB激光器7沿著一維移動臺1的移動方向間隔設置于加熱銅塊上,并且正對光電探測器3設置;還包括設置于一維移動臺1旁側的光譜儀8、電流源、LIV測試儀9和PC機10, 所述電流源連接所述半導體制冷器6和DFB激光器7,所述光纖透鏡4與光譜儀8連接,所述光電探測器3與一LIV測試儀9連接,所述LIV測試儀9與PC機10連接。
從上述可知,本實用新型的有益效果在于:電流源輸出電流,DFB激光器7發出光,由光電探測器3接收對應DFB激光器7發出的光電流,光電探測器3將接收到的光電流傳輸至LIV測試儀9,輸出LIV曲線,可以在PC機10中顯示及分析;同時通過一維移動臺1,切換光纖透鏡4接收光信號,傳輸至光譜儀8中,獲取對應DFB的光譜;通過調整一維移動臺1和二維調節臺2一側對DFB激光器7進行測試;通過電流源輸出電流控制半導體制冷器6進行加熱,通過加熱銅塊進行傳熱,分別測試每個DFB激光器7在常溫和不同溫度下的LIV曲線和光譜。
在本實施例中,所述加熱銅塊上設有若干個用于夾持DFB激光器7的夾持卡塊,所述夾持卡塊與DFB激光器7一一對應設置。通過夾持卡塊分別夾持每個DFB激光器7,可以實現多個DFB激光器7一起測量,提高測量的效率。
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