[實(shí)用新型]一種用于GIS內(nèi)部缺陷檢測(cè)的光學(xué)探頭有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201720914182.2 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-26 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN207074247U | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-03-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 徐鵬;戴緣生;周谷亮;楊凌輝;董晨曄;高凱;陸啟宇;田昊洋 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 國(guó)網(wǎng)上海市電力公司;華東電力試驗(yàn)研究院有限公司;上海交通大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01R31/12 | 分類號(hào): | G01R31/12 |
| 代理公司: | 上海科盛知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司31225 | 代理人: | 趙志遠(yuǎn) |
| 地址: | 200002 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 gis 內(nèi)部 缺陷 檢測(cè) 光學(xué) 探頭 | ||
1.一種用于GIS內(nèi)部缺陷檢測(cè)的光學(xué)探頭,該光學(xué)探頭一端固定在GIS設(shè)備的法蘭蓋板上,另一端伸入到GIS設(shè)備腔體內(nèi)部,其特征在于,該光學(xué)探頭包括圓形法蘭盤(pán)(1)、導(dǎo)光棒(2)和蓋板(3),所述的導(dǎo)光棒(2)的一端插入圓形法蘭盤(pán)(1)中心處,且與外接光纖連接,另一端伸入到GIS設(shè)備腔體內(nèi)部,所述的圓形法蘭盤(pán)(1)的內(nèi)端面與法蘭蓋板緊貼,外端面與蓋板(3)的內(nèi)端面(3.1)壓緊。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于GIS內(nèi)部缺陷檢測(cè)的光學(xué)探頭,其特征在于,所述的導(dǎo)光棒(2)為石英導(dǎo)光棒,其一端為平面結(jié)構(gòu),另一端呈球面結(jié)構(gòu)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于GIS內(nèi)部缺陷檢測(cè)的光學(xué)探頭,其特征在于,所述的圓形法蘭盤(pán)(1)在內(nèi)端面中心處開(kāi)設(shè)有一用以插入導(dǎo)光棒一端的中心通孔,在外端面中心處開(kāi)設(shè)有一用以與法蘭蓋板扣合的圓孔結(jié)構(gòu)(1.3),所述的圓孔結(jié)構(gòu)(1.3)與中心通孔連通,且圓孔結(jié)構(gòu)(1.3)孔徑大于通孔孔徑。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于GIS內(nèi)部缺陷檢測(cè)的光學(xué)探頭,其特征在于,所述的法蘭蓋板呈凸臺(tái)型,包括一體成型的外蓋板和中空的圓柱體結(jié)構(gòu)(3.3),所述的圓柱體結(jié)構(gòu)(3.3)與圓孔結(jié)構(gòu)(1.3)相互扣合。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于GIS內(nèi)部缺陷檢測(cè)的光學(xué)探頭,其特征在于,所述的圓形法蘭盤(pán)(1)的外端面上,在以圓形法蘭盤(pán)(1)中心為圓心的圓上,依次交叉設(shè)有多個(gè)螺紋孔和沉頭孔,所述的沉頭孔內(nèi)設(shè)有與法蘭蓋板緊固的內(nèi)六角螺栓,所述的螺紋孔與設(shè)置在蓋板(3)上的通孔(3.4)位置相對(duì),并通過(guò)內(nèi)六角螺栓固定。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種用于GIS內(nèi)部缺陷檢測(cè)的光學(xué)探頭,其特征在于,所述的圓柱體結(jié)構(gòu)(3.3)底部中心處開(kāi)設(shè)有一圓孔(3.5),該圓孔(3.5)的一端與中心通孔連通,另一端伸出圓柱體結(jié)構(gòu)(3.3)形成外螺紋結(jié)構(gòu)(3.6),所述的外螺紋結(jié)構(gòu)(3.6)作為與外接光纖連接的連接端。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種用于GIS內(nèi)部缺陷檢測(cè)的光學(xué)探頭,其特征在于,所述的圓孔(3.5)孔徑小于中心通孔孔徑。
8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種用于GIS內(nèi)部缺陷檢測(cè)的光學(xué)探頭,其特征在 于,所述的中心通孔的內(nèi)側(cè)壁上設(shè)有兩道用于軸密封的密封槽,并安裝軸密封圈。
9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種用于GIS內(nèi)部缺陷檢測(cè)的光學(xué)探頭,其特征在于,所述的圓形法蘭盤(pán)(1)的內(nèi)端面上設(shè)有一平面密封槽,內(nèi)部設(shè)置平面密封圈。
10.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種用于GIS內(nèi)部缺陷檢測(cè)的光學(xué)探頭,其特征在于,所述的圓孔結(jié)構(gòu)(1.3)在與圓柱體結(jié)構(gòu)(3.3)壓緊接觸的面上設(shè)有一道密封槽,并安裝密封圈。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
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