[實用新型]拉曼光譜檢測設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201720910373.1 | 申請日: | 2017-07-25 |
| 公開(公告)號: | CN207351905U | 公開(公告)日: | 2018-05-11 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 張建紅;王紅球;張麗 | 申請(專利權(quán))人: | 同方威視技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/65 | 分類號: | G01N21/65 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 張啟程 |
| 地址: | 100084 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光譜 檢測 設(shè)備 | ||
1.一種拉曼光譜檢測設(shè)備,其特征在于,包括:
激發(fā)光光源,配置成向待測樣品發(fā)射激發(fā)光;
光學(xué)裝置,配置成收集來自所述待測樣品被激發(fā)光照射的位置的光信號;以及
光譜儀,配置成由接收的光信號來生成待測樣品的拉曼光譜,
其中所述激發(fā)光從激發(fā)光光源至待測樣品所經(jīng)過的激發(fā)光路與被光譜儀所接收的光信號從待測樣品至光譜儀所經(jīng)過的檢測光路彼此分離。
2.如權(quán)利要求1所述的拉曼光譜檢測設(shè)備,其特征在于,所述激發(fā)光從激發(fā)光光源至待測樣品所經(jīng)過的激發(fā)光路相對于被光譜儀所接收的光信號從待測樣品至光譜儀所經(jīng)過的檢測光路以預(yù)定角度偏離。
3.如權(quán)利要求2所述的拉曼光譜檢測設(shè)備,其特征在于,所述預(yù)定角度在15度和90度之間。
4.如權(quán)利要求2所述的拉曼光譜檢測設(shè)備,其特征在于,所述預(yù)定角度在20度和60度之間。
5.如權(quán)利要求2所述的拉曼光譜檢測設(shè)備,其特征在于,所述光學(xué)裝置包括:
第一透鏡,配置成收集來自所述待測樣品被激發(fā)光照射的位置的光信號;和
濾光片,配置成從經(jīng)過第一透鏡的光信號中濾除激發(fā)光。
6.如權(quán)利要求5所述的拉曼光譜檢測設(shè)備,其特征在于,所述預(yù)定角度設(shè)定成使得激發(fā)光避開所述第一透鏡。
7.如權(quán)利要求2所述的拉曼光譜檢測設(shè)備,其特征在于,在所述激發(fā)光從激發(fā)光光源至待測樣品所經(jīng)過的光路中設(shè)置有第二透鏡,所述第二透鏡配置成將激發(fā)光聚焦到待測樣品上。
8.如權(quán)利要求1所述的拉曼光譜檢測設(shè)備,其特征在于,所述光學(xué)裝置包括:
第一透鏡,配置成收集來自所述待測樣品被激發(fā)光照射的位置的光信號;和
濾光片,配置成從經(jīng)過第一透鏡的光信號中濾除激發(fā)光;
其中,所述激發(fā)光經(jīng)過所述第一透鏡并由所述第一透鏡聚焦至所述待測樣品上。
9.如權(quán)利要求8所述的拉曼光譜檢測設(shè)備,其特征在于,在所述激發(fā)光路中設(shè)置有反射鏡,所述反射鏡配置成將激發(fā)光引導(dǎo)至所述第一透鏡。
10.如權(quán)利要求8所述的拉曼光譜檢測設(shè)備,其特征在于,所述第一透鏡為非球面透鏡。
11.如權(quán)利要求8所述的拉曼光譜檢測設(shè)備,其特征在于,第一透鏡的直徑成大于激發(fā)光的光束直徑與從激發(fā)位置入射到光譜儀的光信號的光束直徑之和。
12.如權(quán)利要求1所述的拉曼光譜檢測設(shè)備,其特征在于,所述光學(xué)裝置包括:
第一透鏡,配置成收集來自所述待測樣品被激發(fā)光照射的位置的光信號;和
濾光片,配置成從經(jīng)過第一透鏡的光信號中濾除激發(fā)光;
其中,所述激發(fā)光經(jīng)過所述第一透鏡并由所述第一透鏡聚焦至所述待測樣品上,且所述激發(fā)光與來自所述待測樣品被激發(fā)光照射的位置的光信號的一部分在空間上相互錯開。
13.如權(quán)利要求12所述的拉曼光譜檢測設(shè)備,其特征在于,在所述激發(fā)光路中設(shè)置有反射部件,所述反射部件布置在第一透鏡和濾光片之間并配置成將激發(fā)光引導(dǎo)至所述第一透鏡并僅僅部分地阻擋來自所述待測樣品被激發(fā)光照射的位置的光信號。
14.如權(quán)利要求13所述的拉曼光譜檢測設(shè)備,其特征在于,所述反射部件的反射表面在第一透鏡上的投影面積小于第一透鏡的面積。
15.如權(quán)利要求13所述的拉曼光譜檢測設(shè)備,其特征在于,所述反射部件具有用于反射激發(fā)光的反射區(qū)域和允許來自所述待測樣品被激發(fā)光照射的位置的光信號的一部分通過的通光孔。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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