[實用新型]單光子光電器件的光強標定裝置

有效

• 申請號: 201720898155.0
• 申請日: 2017-07-20
• 公開（公告）號: CN207215962U
• 公開（公告）日: 2018-04-10
• 發明（設計）人: 江曉;丁迅;潘建偉
• 申請（專利權）人: 中國科學技術大學
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R31/265;G01J1/08;G01J1/04
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司11021
• 代理人: 任巖

1.一種單光子光電器件的光強標定裝置，包括：

光源，用于產生激光；

衰減光路，用于衰減光源產生的所述激光，并將衰減后的激光轉換為自由空間的光束；

其中，當單光子光電器件與衰減光路發出的光束位置對準并被光束照射時，所述單光子光電器件上的光子數為目標光子數。

2.如權利要求1所述的光強標定裝置，所述衰減光路包括：第一衰減組件、第二衰減組件和第三衰減組件，其中：

所述第一衰減組件，用于對光源產生的所述激光進行一次衰減；

所述第二衰減組件，包括弱測試光路和強測試光路，所述弱測試光路用于對一次衰減的激光進行二次衰減；

所述第三衰減組件，用于選通所述強測試光路和弱測試光路的其中之一，并對一次衰減或二次衰減的激光進行進一步衰減。

3.如權利要求2所述的光強標定裝置，

所述第一衰減組件為可調衰減器，其通過光纖連接光源；

所述第二衰減組件包括光纖分束器和固定衰減器，所述光纖分束器一端經光纖連接所述可調衰減器，另一端經光纖分別連接所述固定衰減器和直接輸出，分別對應形成弱測試光路和強測試光路；所述光纖分束器，用于將一次衰減的激光分為兩路，其中一路激光由所述強測試光路直接輸出，另一路激光經所述弱測試光路二次衰減后輸出；

所述第三衰減組件包括光開關和光纖準直器；所述光開關一端連通強測試光路或弱測試光路的其中之一，另一端連接所述光纖準直器；所述光開關，用于選擇所述強測試光路和弱測試光路的其中一路激光輸出給光纖準直器；

所述光纖準直器，用于將光纖中的激光轉換為自由空間的高斯光束；

所述單光子光電器件放置于高斯光束的光斑中心。

4.如權利要求3所述的光強標定裝置，還包括三維平移臺，所述光纖準直器和單光子光電器件的其中一個固定于其上，實現所述高斯光束和單光子光電器件的對準。

5.如權利要求1所述的光強標定裝置，還包括：光功率計；

當測量光束強度時，所述光功率計位于光纖準直器的輸出側，用于測量光束強度。

6.如權利要求1所述的光強標定裝置，還包括：光束質量分析儀；

當測量光束的光斑尺寸時，所述光束質量分析儀位于光纖準直器與單光子光電器件之間的自由空間光路，用于測量光束的光斑尺寸。

7.如權利要求1所述的光強標定裝置，

還包括信號采集裝置，連接所述單光子光電器件，用于采集所述單光子光電器件輸出的電信號。

8.如權利要求4所述的光強標定裝置，所述第三衰減組件的三維平移臺和光纖準直器用光探針代替。

9.如權利要求1所述的光強標定裝置，所述光源采用脈沖激光器。

10.如權利要求1所述的光強標定裝置，所述光源采用連續光激光器。