[實用新型]一種檢測裝置有效
| 申請號： | 201720896196.6 | 申請日： | 2017-07-21 |
| 公開（公告）號： | CN207115968U | 公開（公告）日： | 2018-03-16 |
| 發明（設計）人： | 張寒;王爭奎;叢樂樂 | 申請（專利權）人： | 京東方科技集團股份有限公司;鄂爾多斯市源盛光電有限責任公司 |
| 主分類號： | G09G3/00 | 分類號： | G09G3/00;G01R31/00;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京潤澤恒知識產權代理有限公司11319 | 代理人： | 莎日娜 |
| 地址： | 100015 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 檢測 裝置 | ||
【權利要求書】：
1.一種檢測裝置，所述裝置應用于觸控電極檢測階段，其特征在于，包括：測試機臺和控制面板，在所述控制面板上設置有測試版和觸控電極區域，所述測試機臺與所述測試版電連接，所述測試版可與放置在所述觸控電極區域的所述觸控電極電連接，所述測試機臺通過所述測試版對所述觸控電極進行充放電檢測。
2.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述測試版包括測試點，與測試點連接且延伸至觸控電極區域的觸控走線，及設置在所述觸控電極區域與所述觸控走線連接的觸控過孔。
3.根據權利要求1所述的裝置，其特征在于，所述測試機臺包括第一晶體管、所述第一晶體管的柵極與第一時鐘信號輸入端連接，所述第一晶體管的漏極與第二時鐘信號輸入端連接，所述第一晶體管的源極與控制節點連接；
所述控制節點與第二晶體管的柵極連接，所述第二晶體管的漏極與電容的一端連接，所述電容的另一端與所述控制節點連接，所述第二晶體管的源極與發光二極管連接。
4.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述觸控電極區域包括多個觸控電極，所述測試點包括多個測試點。
5.根據權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述測試點上覆蓋有氧化物材料。
6.根據權利要求5所述的裝置，其特征在于，所述氧化物材料包括：銦錫氧化物ITO。
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