[實(shí)用新型]一種采用礦物鑄件基座結(jié)構(gòu)的飛針測(cè)試機(jī)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201720842040.X | 申請(qǐng)日: | 2017-07-12 |
| 公開(公告)號(hào): | CN207133393U | 公開(公告)日: | 2018-03-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 麥偉東;王加勇;曾建威;康敏優(yōu);黃達(dá)許 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 深圳市邁創(chuàng)力科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28 |
| 代理公司: | 深圳市中科創(chuàng)為專利代理有限公司44384 | 代理人: | 高早紅,謝亮 |
| 地址: | 518000 廣東省深*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 采用 礦物 鑄件 基座 結(jié)構(gòu) 測(cè)試 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及印刷電路板測(cè)試設(shè)備,尤其涉及一種采用礦物鑄件基座結(jié)構(gòu)的飛針測(cè)試機(jī)。
背景技術(shù)
飛針測(cè)試是檢查PCB電性功能的方法(開短路測(cè)試)之一。飛針測(cè)試機(jī)將各個(gè)測(cè)試針移動(dòng)到固定的待測(cè)試單元上,測(cè)試針接觸測(cè)試PCB的焊盤和通路孔從而測(cè)試所測(cè)單元的的電性能。隨著科技的發(fā)展和消費(fèi)者對(duì)電子產(chǎn)品輕薄化的要求,使得電子產(chǎn)品的PCB需集成更多的電子元器件,導(dǎo)致PCB焊盤數(shù)量多、層數(shù)多、布線密度大。對(duì)這類PCB進(jìn)行飛針測(cè)試時(shí),則要求飛針測(cè)試機(jī)測(cè)試探針的傳動(dòng)機(jī)構(gòu)必須急速移動(dòng),定位精準(zhǔn),才能使得測(cè)試探針準(zhǔn)確地接觸PCB板相應(yīng)的測(cè)試點(diǎn),相應(yīng)地測(cè)試線路的通斷。
目前,傳統(tǒng)的飛針測(cè)試機(jī)的傳動(dòng)機(jī)構(gòu)一般安裝在塑膠基座或金屬基座上,由于各傳動(dòng)機(jī)構(gòu)瞬時(shí)啟動(dòng)與停止以及急速移動(dòng)而產(chǎn)生的極大慣性力,造成整體機(jī)身震動(dòng)非常頻繁,加上PCB板的焊盤和通孔的尺寸非常小,從而導(dǎo)致測(cè)試探針無法準(zhǔn)確地接觸到PCB板的焊盤和通孔而造成漏測(cè)或錯(cuò)測(cè)等其他缺陷,以致于無法保證測(cè)試精度和結(jié)果。同時(shí),由于傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的電機(jī)運(yùn)行時(shí)及飛針測(cè)試機(jī)內(nèi)部線路的電流電壓的變化時(shí)會(huì)產(chǎn)生電磁場(chǎng),對(duì)飛針測(cè)試會(huì)造成干擾,從而影響測(cè)試結(jié)果的精度。
因此,現(xiàn)有技術(shù)存在缺陷,需要改進(jìn)。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問題是:提供一種采用礦物鑄件基座結(jié)構(gòu)的飛針測(cè)試機(jī),減少飛針測(cè)試機(jī)傳動(dòng)機(jī)構(gòu)瞬時(shí)啟動(dòng)與停止以及快速移動(dòng)所造成的機(jī)身振動(dòng),減少傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的電機(jī)運(yùn)行時(shí)及飛針測(cè)試機(jī)內(nèi)部線路的電流電壓的變化時(shí)產(chǎn)生的電磁場(chǎng)對(duì)飛針測(cè)試造成的干擾,從而提高飛針測(cè)試的精度。
本實(shí)用新型的技術(shù)方案如下:本實(shí)用新型提供一種采用礦物鑄件基座結(jié)構(gòu)的飛針測(cè)試機(jī),包括:基座結(jié)構(gòu)、安裝于所述基座結(jié)構(gòu)上的傳動(dòng)機(jī)構(gòu)以及安裝于所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)上的測(cè)試針,所述傳動(dòng)機(jī)構(gòu)包括X軸傳動(dòng)系統(tǒng)系統(tǒng)、Y軸傳動(dòng)系統(tǒng)和Z軸傳動(dòng)系統(tǒng),所述基座結(jié)構(gòu)包括礦物鑄件機(jī)身和固定在礦物鑄件機(jī)身兩端的礦物鑄件側(cè)板。所述側(cè)板用于輔助支撐機(jī)身。礦物鑄件具有不生銹,不變形,耐磨性好,維護(hù)、保養(yǎng)方便簡(jiǎn)單,使用壽命長(zhǎng),可在重負(fù)荷及一般溫度下保持穩(wěn)定等優(yōu)點(diǎn)。礦物鑄件還具有極強(qiáng)的吸震能力,其吸震性能要比傳統(tǒng)的鑄鐵強(qiáng),可以很好地保證機(jī)器設(shè)備運(yùn)行的穩(wěn)定,從而確保了設(shè)備運(yùn)行的精度。
進(jìn)一步地,所述側(cè)板采用螺絲、焊接方式或卡扣固定在所述機(jī)身兩側(cè)。
進(jìn)一步地,所述側(cè)板的高度大于機(jī)身的高度,使側(cè)板能夠充分支撐機(jī)身。
進(jìn)一步地,所述側(cè)板下部的寬度要大于側(cè)板上部的寬度,有利于側(cè)板輔助支撐機(jī)身。
進(jìn)一步地,所述機(jī)身的材質(zhì)為金屬外框灌注礦物材料的礦物鑄件,機(jī)身采用金屬外框的礦物鑄件,使機(jī)身同時(shí)具有金屬和普通礦物鑄件的優(yōu)點(diǎn)。金屬外框加強(qiáng)了機(jī)身的接地,提升了屏蔽效果,可減少由傳動(dòng)機(jī)構(gòu)的電機(jī)和線路的電壓電流所產(chǎn)生的電磁場(chǎng)對(duì)飛針測(cè)試的干擾,提升測(cè)試的精度。
進(jìn)一步地,所述金屬為鋁材。進(jìn)一步地,所述鋁材為航空鋁材。
進(jìn)一步地,所述礦物鑄件由礦物材料澆鑄加工而成,所述礦物材料是由改性環(huán)氧樹脂等材料為膠結(jié)料、以花崗石、大理石或鵝卵石等礦物顆粒為骨料,并經(jīng)增強(qiáng)纖維或納米顆粒強(qiáng)化,形成的復(fù)合材料。
進(jìn)一步地,所述X軸傳動(dòng)系統(tǒng)固定安裝在所述機(jī)身底下部,所述Y軸傳動(dòng)系統(tǒng)連接所述X軸傳動(dòng)系統(tǒng),所述Z軸傳動(dòng)系統(tǒng)連接所述Y軸傳動(dòng)系統(tǒng),所述測(cè)試針安裝連接在所述Z軸傳動(dòng)系統(tǒng)上。
進(jìn)一步地,所述X軸傳動(dòng)系統(tǒng)通過X軸電機(jī)驅(qū)動(dòng)連接,所述X軸電機(jī)固定在所述機(jī)身上。以所述礦物鑄件機(jī)身為基準(zhǔn),所述X軸電機(jī)驅(qū)動(dòng)所述X軸傳動(dòng)系統(tǒng)以帶動(dòng)所述測(cè)試針在左右方向上移動(dòng),所述Y軸電機(jī)驅(qū)動(dòng)Y軸傳動(dòng)系統(tǒng)帶動(dòng)所述測(cè)試針在上下方向上移動(dòng),所述Z軸電機(jī)驅(qū)動(dòng)Z軸傳動(dòng)系統(tǒng)帶動(dòng)所述測(cè)試針在前后方向上移動(dòng),以達(dá)到所述測(cè)試針可在任意位置處接觸到所述PCB板。
進(jìn)一步地,所述金屬外框灌注礦物材料鑄件機(jī)身的基座結(jié)構(gòu)采用澆鑄成型工藝,具體成型工藝如下:
1、外框采用航空鋁材進(jìn)行拼裝成框并固定,拼裝前各鋁材需經(jīng)過表面粗加工,保證去除初始表面各種毛刺及缺陷;
2、拼裝完成后進(jìn)行澆鑄成型,澆鑄所述礦物材料;
3、澆鑄完成后,整體進(jìn)行機(jī)械加工;
4、機(jī)身整體機(jī)械加工完成后,拼接兩側(cè)礦物鑄件側(cè)板;
5、拼接完成后在非裝配表面噴涂黑色漆,保證基座結(jié)構(gòu)外觀黑色有光澤。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試





