[實(shí)用新型]一種膠體金層析卡判讀儀有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201720834792.1 | 申請(qǐng)日: | 2017-07-11 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN207396349U | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-05-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 詹愛(ài)軍;黃彬庚;招沫;詹雪梅 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 揚(yáng)州千代科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/64 | 分類號(hào): | G01N21/64 |
| 代理公司: | 暫無(wú)信息 | 代理人: | 暫無(wú)信息 |
| 地址: | 225000 江蘇省*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 膠體 層析 判讀 | ||
1.一種膠體金層析卡判讀儀,包括底座、導(dǎo)軌、試紙條卡座、步進(jìn)電機(jī)、光學(xué)檢測(cè)裝置以及檢測(cè)控制系統(tǒng),其特征在于,所述步進(jìn)電機(jī)驅(qū)動(dòng)所述光學(xué)檢測(cè)裝置沿導(dǎo)軌方向做直線運(yùn)動(dòng),所述光學(xué)檢測(cè)裝置包括檢測(cè)讀頭以及設(shè)置在所述檢測(cè)讀頭一側(cè)的位置傳感器,所述位置傳感器控制所述檢測(cè)讀頭移動(dòng)的距離,所述檢測(cè)讀頭包括光學(xué)檢測(cè)通道以及設(shè)置在所述光學(xué)檢測(cè)通道上的第一LED激發(fā)光源、第二LED激發(fā)光源、第一檢測(cè)傳感器和第二檢測(cè)傳感器,所述第一LED激發(fā)光源的正前方分別順次設(shè)置有第一濾光鏡、第一凸透鏡和第一反射鏡,所述第二LED激發(fā)光源的正前方順次設(shè)置有第二濾光鏡、第二凸透鏡和第二反射鏡,所述第二反射鏡上開(kāi)設(shè)有小孔,第二反射鏡的前方設(shè)有半透半返鏡,所述第一LED激發(fā)光源發(fā)出的激發(fā)光束順次通過(guò)所述第一濾光鏡、第一凸透鏡、第一反射鏡、第二反射鏡到達(dá)半透半返鏡,所述第二LED激發(fā)光源的激發(fā)光束通過(guò)第二濾光鏡、第二凸透鏡和第二反射鏡到達(dá)半透半返鏡,所述半透半返鏡的正下方設(shè)有第三凸透鏡,正上方設(shè)有二分鏡,所述半透半返鏡上的激發(fā)光束通過(guò)第三凸透鏡匯聚在所述試紙條卡座的被檢物上,所述試紙條卡座的被檢物在激發(fā)光束照射下發(fā)射熒光,經(jīng)第三凸透鏡、半透半返鏡到達(dá)二分鏡,所述二分鏡的兩側(cè)分別設(shè)置有所述第一檢測(cè)傳感器和第二檢測(cè)傳感器,熒光經(jīng)過(guò)所述二分鏡分離并分別匯聚在所述第一檢測(cè)傳感器和第二檢測(cè)傳感器上。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種膠體金層析卡判讀儀,其特征在于,所述檢測(cè)控制系統(tǒng)設(shè)置在所述光學(xué)檢測(cè)裝置上方,包括控制芯板,所述控制芯板上連接有單片機(jī),所述單片機(jī)連接所述步進(jìn)電機(jī)和檢測(cè)讀頭。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種膠體金層析卡判讀儀,其特征在于,所述第一檢測(cè)傳感器和第二檢測(cè)傳感器為光電二極管,且所述第一檢測(cè)傳感器和第二檢測(cè)傳感器的正前方均設(shè)有第三濾光鏡。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種膠體金層析卡判讀儀,其特征在于,所述第一LED激發(fā)光源和第二LED激發(fā)光源為綠光發(fā)光二極管。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種膠體金層析卡判讀儀,其特征在于,所述控制芯板為M3352工控核心板,控制芯板的底端連接有固定片,所述固定片通過(guò)螺栓固定在所述導(dǎo)軌上端。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種膠體金層析卡判讀儀,其特征在于,所述第一反射鏡平行設(shè)置在所述第二反射鏡的正下方,所述第二反射鏡上的小孔正對(duì)所述第二凸透鏡的焦點(diǎn)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種膠體金層析卡判讀儀,其特征在于,所述半透半分鏡平行設(shè)置在所述二分鏡的正下方,且所述半透半分鏡、二分鏡的方向設(shè)置與所述第一濾光鏡、第二濾光鏡的方向設(shè)置相反。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見(jiàn)光或紫外光來(lái)測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
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