[實用新型]一種光電耦合器的性能測試電路及裝置

有效

• 申請號: 201720833488.5
• 申請日: 2017-07-11
• 公開（公告）號: CN207007962U
• 公開（公告）日: 2018-02-13
• 發明（設計）人: 范立榮;徐經碧;許紋倚;黃滔;丘永青;于華平
• 申請（專利權）人: TCL空調器(中山)有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 深圳市君勝知識產權代理事務所(普通合伙)44268
• 代理人: 王永文,劉文求

技術領域

本實用新型涉光耦測試技術領域，特別涉及一種光電耦合器的性能測試電路及裝置。

背景技術

光電耦合器(Optical Coupler,OC)是由發光二極管(LED)與光電三極管組合而成的集成器件，主要作用是進行電隔離，其體積小、壽命長、無觸點、抗干擾、能隔離，并具有單向信號傳輸等特點，被廣泛應用于各種光電及運動控制系統中。如用于空調機組的串口通訊、485通訊、開關電源反饋回路中、IGBT驅動芯片及驅動器中，高壓隔離驅動電路中等等，對應用中使用光耦，一般考慮傳輸的信號、隔離特性及速度，現有光耦器件主要應用于數字信號的傳輸；另一類是線性光耦，有帶反饋和無反饋型兩種，這類器件在材料和生產工藝上采取了一定措施，使得光電器件的輸入輸出特性的非線性得到改善，無反饋型光耦一般應用于對線性區范圍要求不大的場合，如開關電源輸出的電壓隔離反饋電路通用的PC817及NEC2501等，而帶反饋型線性光耦，這類器件在生產工藝上又進了一步，使同一器件中的2個光耦的特性更加趨于一致，如CLARE公司生產的LOC系列線性光耦，惠普公司生產的HCRN200/201等線性光耦。光耦應用如此廣泛，因此為保證各行業產品質量，對其篩選及校驗就變得尤其重要。

現有技術中，專利CN201520858674.5公開了一種光耦測試電路板，包括：1個電源模塊、1個現場可編程門陣列(Field－Programmable Gate Array，簡稱FPGA)最小系統和至少1個光耦測試電路；所述電源模塊分別與所述FPGA最小系統和所述光耦測試電路連接，且所述FPGA最小系統與所述光耦測試電路連接。上述專利通過將被測光耦插在測試電路上，雖然一次可測試多個光耦，但使用了1個現場可編程門陣列，應用成本較高，對批量生產校驗工裝成本大，不適于大面積推廣應用。

因而現有技術還有待改進和提高。

實用新型內容

鑒于上述現有技術的不足之處，本實用新型的目的在于提供一種光電耦合器的性能測試電路及裝置，能對不同規格的光耦進行性能測試，電路簡單，成本低廉，極大降低了光耦性能測試的成本，利于光耦測試的推廣使用。

為了達到上述目的，本實用新型采取了以下技術方案：

一種光電耦合器的性能測試電路，其包括電源模塊、信號發生模塊、信號處理模塊、分檔切換模塊以及與待測光耦連接的光耦測試卡座；由電源模塊根據當前待測光耦的輸出速度輸出對應的供電電壓至信號發生模塊，并由信號發生模塊產生PWM信號輸出至信號處理模塊，由信號處理模塊對所述PWM信號進行幅值變換及放大限流處理后輸出至光耦測試卡座的輸入端，所述光耦測試卡座的輸出端連接分檔切換模塊，由分檔切換模塊根據當前待測光耦的參數切換測試檔位，并輸出測試結果。

所述的光電耦合器的性能測試電路中，所述電源模塊包括第一切換開關、第一供電單元和第二供電單元；當第一切換開關切換至第一通路時，由所述第一供電單元輸出第一電壓至信號發生模塊，當第一切換開關切換至第二通路時，由所述第二供電單元輸出第二電壓至信號發生模塊。

所述的光電耦合器的性能測試電路中，所述信號發生模塊包括用于產生PWM信號的信號發生器，用于對所述PWM信號進行頻率調節處理的調頻單元，用于調節PWM信號的比例積分參數的線性調節單元，以及用于補償干擾信號產生的誤差的補償單元；所述調頻單元、線性調節單元和補償單元均連接所述信號發生器。

所述的光電耦合器的性能測試電路中，所述信號處理模塊包括幅值變換單元、放大單元和限流單元，所述PWM信號經幅值變換單元進行幅值調整后輸出至放大單元，由所述放大單元對PWM信號進行推挽放大處理后輸出至限流單元，經限流單元限流處理后輸出至光耦測試卡座的輸入端。

所述的光電耦合器的性能測試電路中，所述分檔切換模塊包括切換單元和上拉單元，由切換單元根據當前待測光耦的參數切換測試檔位，所述上拉單元根據當前的測試檔位提供相應阻值的上拉電阻進行性能測試。