[實用新型]一種用于托盤內多顆材料矩陣檢測的光源

有效

• 申請號: 201720819024.9
• 申請日: 2017-07-07
• 公開（公告）號: CN207114403U
• 公開（公告）日: 2018-03-16
• 發明（設計）人: 肖上
• 申請（專利權）人: 無錫九霄科技有限公司
• 主分類號: G01N21/01
• 分類號: G01N21/01
• 代理公司: 無錫市朗高知識產權代理有限公司32262
• 代理人: 楊強

技術領域

本實用新型涉及一種檢測用光源，尤其是一種用于托盤內多顆材料矩陣檢測的光源。

背景技術

目前的光源主要適用于檢測都是1顆或2顆材料，如果需要檢測多顆材料，現有的光源由于尺寸偏小就會出現材料表面亮度不均勻。

實用新型內容

為解決上述問題，本實用新型提供一種光源照射面積大、照射兩端均勻、適用矩陣排列的物品的檢測的一種用于托盤內多顆材料矩陣檢測的光源，具體技術方案為：

一種用于托盤內多顆材料矩陣檢測的光源，包括依次安裝的同軸光源和環形光源，所述環形光源內部的LED燈均傾斜安裝。

優選的，所述環形光源內部的LED燈為貼片式LED燈，貼片式LED燈與環形光源底面的夾角為60-80°。

優選的，所述貼片式LED燈與環形光源底面的夾角為66.5°。

優選的，所述同軸光源的面光源與分光鏡之間裝有漫射板。

優選的，所述同軸光源的一端裝有擋灰玻璃。

同軸光源用于檢測被測元器件的表面特征，比如破損、氣孔等。

同軸光源的分光鏡將面光源發出的光線折射到被測元器件的表面，照射到被測元器件表面的光線再反射回來通過分光鏡反射到相機。

漫射板保證面光源發出的光線均勻照射在被測元器件上。

環形光源用于檢測待測元器件表面的印字，環形光源的LED燈傾斜安裝能提高待測元器件表面的印字與背景的對比度。

擋灰玻璃防止同軸光源積灰影響檢測效果。

使用中，相機安裝在同軸光源上方，同軸光源下方是環形光源，環形光源位于檢測平臺上方，檢測平臺上裝有料盤，料盤上均布有多個待測元器件；同軸光源用于檢測待測元器件的表面特征；環形光源照射待測元器件的表面，方便相機檢測待測元器件表面的印字。

與現有技術相比本實用新型具有以下有益效果：

本實用新型提供的一種用于托盤內多顆材料矩陣檢測的光源照射面積大、照射兩端均勻、適用矩陣排列的物品的檢測。

說明書附圖

圖1是本實用新型的結構示意圖；

圖2是環形光源的局部放大示意圖。

具體實施方式

現結合附圖對本實用新型作進一步說明。

如圖1和圖2所示，一種用于托盤內多顆材料矩陣檢測的光源，包括依次安裝的同軸光源11和環形光源21。

環形光源21內部的LED燈22為貼片式LED燈，貼片式LED燈與環形光源21底面的夾角A為66.5°。

同軸光源11的面光源12與分光鏡13之間裝有漫射板14。

同軸光源11的一端裝有擋灰玻璃3。

使用中，相機安裝在同軸光源11上方，同軸光源11下方是環形光源21，環形光源21位于檢測平臺上方，檢測平臺上裝有料盤31，料盤31上均布有多個待測元器件32；同軸光源11用于檢測待測元器件32的表面特征；環形光源21照射待測元器件32的表面，方便相機檢測待測元器件32表面的印字。