[實用新型]一種卷繞電芯片、卷繞電芯與電池有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201720817902.3 | 申請日: | 2017-07-06 |
| 公開(公告)號: | CN207097936U | 公開(公告)日: | 2018-03-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 林國棟;張松嶺;周宇超;田亮;趙盛宇;溫燕修;宋玉立;劉嵐?jié)?/a> | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市海目星激光科技有限公司 |
| 主分類號: | H01M2/26 | 分類號: | H01M2/26;H01M10/04;H01M6/00 |
| 代理公司: | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司44205 | 代理人: | 謝岳鵬 |
| 地址: | 518110 廣東省深圳*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 卷繞 芯片 電池 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及電池領(lǐng)域,尤其是涉及一種電芯片,該電芯片在卷繞成電芯后可以保證極耳相互重疊,本實用新型還涉及一種應(yīng)用上述電芯片的電池。
背景技術(shù)
在電池的生成過程中,電芯片通過卷繞工藝形成電芯,其中電芯片上的極耳重疊以形成電芯的正極或者負極。極耳的間距精度可以通過加工精度保證,但是受卷繞精度的影響,極耳會隨著卷繞而在指定位置偏移,同時現(xiàn)有技術(shù)中極耳的寬度相等(參照說明書附圖1),這將導(dǎo)致極耳可能會出現(xiàn)無法完全重疊的問題(參照說明書附圖2),進而導(dǎo)致重疊的極耳達不到集流體的要求,影響電芯的充放電性能。
實用新型內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,本實用新型提供一種卷繞電芯片,以解決現(xiàn)有極耳無法完全重疊的問題。
本實用新型還提供了應(yīng)用上述卷繞電芯片的卷繞電芯與電池。
本實用新型解決其技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是:
一種卷繞電芯片,包括基片以及沿基片長度方向設(shè)于基片上的若干極耳,沿基片的長度方向,極耳的寬度逐步收窄。
作為上述方案的進一步改進方式,相鄰極耳的中心距相等。
一種卷繞電芯,包括上述卷繞電芯片,卷繞電芯片以最窄的極耳為中心卷繞,以使依次變寬的各極耳按照從內(nèi)至外順序重疊,且位于內(nèi)層的極耳不超出與之相鄰且位于外層的極耳的寬度范圍。
作為上述方案的進一步改進方式,包括兩片卷繞電芯片,該兩片卷繞電芯片分別作為正極電芯片與負極電芯片,正極電芯片與負極電芯片沿長度方向錯開再同步卷繞,正極電芯片上的極耳重疊形成正極,負極電芯片上的極耳重疊形成負極。
一種電池,包括上述卷繞電芯。
本型的有益效果是:
通過設(shè)置沿基片方向逐步收窄的多個極耳,保證即使極耳在卷繞過程中發(fā)生偏移,也可以避免位于內(nèi)層的極耳超出與之相鄰且位于其外層的極耳的寬度范圍,從而實現(xiàn)各極耳的完全重疊,保證電芯的充放電性能。
附圖說明
下面結(jié)合附圖和實施例對本實用新型進一步說明。
圖1是現(xiàn)有技術(shù)中電芯片的正視圖;
圖2是現(xiàn)有技術(shù)中電芯的立體示意圖;
圖3是現(xiàn)有技術(shù)中電芯的俯視圖(隱藏基片部分);
圖4是本實用新型卷繞電芯片一個實施例的正視圖;
圖5是本實用新型卷繞電芯一個實施例的立體示意圖;
圖6是本實用新型卷繞電芯的俯視圖(隱藏基片部分)。
具體實施方式
以下將結(jié)合實施例和附圖對本實用新型的構(gòu)思、具體結(jié)構(gòu)及產(chǎn)生的技術(shù)效果進行清楚、完整的描述,以充分地理解本實用新型的目的、方案和效果。需要說明的是,在不沖突的情況下,本申請中的實施例及實施例中的特征可以相互組合。
需要說明的是,如無特殊說明,當(dāng)某一特征被稱為“固定”、“連接”在另一個特征,它可以直接固定、連接在另一個特征上,也可以間接地固定、連接在另一個特征上。此外,本實用新型中所使用的上、下、左、右、前、后等描述僅僅是相對于附圖中本實用新型各組成部分的相互位置關(guān)系來說的。
此外,除非另有定義,本文所使用的所有的技術(shù)和科學(xué)術(shù)語與本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員通常理解的含義相同。本文說明書中所使用的術(shù)語只是為了描述具體的實施例,而不是為了限制本發(fā)明。本文所使用的術(shù)語“及/或”包括一個或多個相關(guān)的所列項目的任意的組合。
參照圖1,示出了現(xiàn)有技術(shù)中電芯片的示意圖。如圖所示,現(xiàn)有的電芯片包括基片1以及沿基片1長度方向設(shè)于基片1上的若干極耳2,其中各極耳2的寬度相等。由于電芯片在卷繞過程中的卷繞精度會受諸多因素影響(比如電芯片彎曲部位的變形量,重疊部分的間隙等),難以保證精度,因此卷繞后的電芯很容易出現(xiàn)如圖2、圖3所示的情況,即極耳因左右偏移而無法完全重疊,導(dǎo)致重疊的極耳達不到集流體的要求,影響電芯的充放電性能。
基于此,本實用新型公開了一種卷繞電芯片,參照圖4,示出了本實用新型卷繞電芯片一個實施例的示意圖。如圖所示,本實用新型中的電芯片同樣包括基片1與極耳2,其與現(xiàn)有技術(shù)的區(qū)別包括:沿基片1的長度方向,極耳2的寬度逐步收窄。
進一步的,相鄰極耳2的中心距相等。
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