[實用新型]一種探針接觸測試系統(tǒng)的探針組件

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201720804468.5
• 申請日: 2017-07-04
• 公開（公告）號: CN207051321U
• 公開（公告）日: 2018-02-27
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 楊波;劉振輝;韋日文;李景均
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市矽電半導體設(shè)備有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R1/073;G01R31/28
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種探針接觸測試系統(tǒng)的探針組件，其特征在于，包括：

若干探針(1)，所述探針(1)包括：針桿(11)，設(shè)于所述針桿(11)一端的、與待探測件接觸以進行檢測的探測部(12)，以及，設(shè)于所述針桿(11)的相對于所述探測部(12)的一端的、與所述針桿(11)之間彎曲設(shè)置的彎曲部(13)；

設(shè)有供所述彎曲部(13)插入的插孔(21)的、外側(cè)面與所述針桿(11)相抵接的、連接有測試電源的導電桿(2)；以及，

與所述導電桿(2)滑動式裝配的、內(nèi)側(cè)面可與所述針桿(11)相抵接的、用于與所述導電桿(2)夾持固定所述針桿(11)的滑移件(3)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種探針接觸測試系統(tǒng)的探針組件，其特征在于，所述滑移件(3)包括：

供部分所述導電桿(2)伸出的滑套(31)，以及，

固定于所述滑套(31)的、用于提供彈性回復力以將所述針桿(11)壓緊在所述導電桿(2)的彈性件(32)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種探針接觸測試系統(tǒng)的探針組件，其特征在于，所述彈性件(32)包括：

與所述滑套(31)的內(nèi)側(cè)面之間形成彈性緩沖間隙的、可抵接于所述針桿(11)的抵接部(321)，以及，

分設(shè)于所述抵接部(321)兩端、與所述抵接部(321)形成以供所述滑套(31)卡嵌的卡槽結(jié)構(gòu)的彎折邊(322)。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種探針接觸測試系統(tǒng)的探針組件，其特征在于，所述彈性件(32)包括：

設(shè)有抵接于所述針桿(11)的曲弧面(3231)的活動塊(323)，以及，

若干設(shè)于所述活動塊(323)和所述滑套(31)的內(nèi)側(cè)面之間、用于提供驅(qū)使所述活動塊(323)趨向所述針桿(11)運動的彈性回復力的彈簧(324)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種探針接觸測試系統(tǒng)的探針組件，其特征在于，所述滑套(31)的內(nèi)側(cè)面設(shè)有供所述彈簧(324)部分容置并在所述彈簧(324)伸縮時起導向作用的容置槽(311)。

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種探針接觸測試系統(tǒng)的探針組件，其特征在于，所述彎曲部(13)部分伸出所述插孔(21)，所述滑套(31)設(shè)有供所述伸出部分通過的缺口(312)。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種探針接觸測試系統(tǒng)的探針組件，其特征在于，所述導電桿(2)的相對于所述探測部(12)的一端設(shè)有用于固定的擴面部(22)，所述擴面部(22)設(shè)有若干螺紋孔(221)，所述螺紋孔(221)用于裝配連接有測試電源的螺釘。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種探針接觸測試系統(tǒng)的探針組件，其特征在于，所述導電桿(2)設(shè)有與所述插孔(21)連通的、供所述針桿(11)嵌入的凹槽(23)。