[實用新型]一種低阻抗探針

有效

• 申請號: 201720803739.5
• 申請日: 2017-07-05
• 公開（公告）號: CN207007896U
• 公開（公告）日: 2018-02-13
• 發明（設計）人: 楊亞坤;黃勇
• 申請（專利權）人: 上海承盛電子科技有限公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067
• 代理公司: 上海智力專利商標事務所(普通合伙)31105
• 代理人: 周濤

技術領域

本實用新型涉及一種探針，尤其涉及一種低阻抗探針。

背景技術

現有技術的探針由管體、彈簧和探頭組成，彈簧裝在管體內，探頭的另一端置于管體內并壓在彈簧上，另一端通過該彈簧的頂壓而伸出管體外部，當探針測試印刷電路板的錫焊點和零件腳時，探針被壓通過探頭與管體內壁和彈簧接觸，電流會從探頭流向管體和彈簧實現電性連接，若針頭直徑走下公差，內管直徑走上公差時，內管與針頭之間間隙過大，則會增加阻抗，影響測試準的確性；目前市場上測試探針阻抗較大，測試性能不夠穩定，主要問題存在與探針針頭、針管、彈簧之間連接不好造成。

發明內容

本實用新型為解決上述技術問題而采用的技術方案是提供一種低阻抗探針，其中，具體技術方案為：

包括針管，所述針管內設置針頭，所述針頭為兩頭，分別為針頭一和針頭二，所述針頭二設置在針管內，所述針頭一設置在針管外，所述針頭二設置十字型開口。

上述的低阻抗探針，其中：所述針頭二與針管的接觸位置設置凸環管接處。

上述的低阻抗探針，其中：所述凸環管接處為數道。

本實用新型相對于現有技術具有如下有益效果：

針頭與內管更好的接觸，增加導電性，降低阻抗，提高測試一次通過率，降低測試探針阻抗，提高測試準確性。

附圖說明

圖1為低阻抗探針的結構示意圖。

圖2為低阻抗探針的結構示意圖。

圖中：

1針管 2針頭一 3凸環管接處 4針頭二 5十字型開口。

具體實施方式

下面結合附圖和實施例對本實用新型作進一步的描述。

本實用新型提供了一種低阻抗探針，包括針管，所述針管內設置針頭，所述針頭為兩頭，分別為針頭一和針頭二，所述針頭二設置在針管內，所述針頭一設置在針管外，所述針頭二設置十字型開口。所述針頭二與針管的接觸位置設置凸環管接處，所述凸環管接處為數道。

本發明的技術優勢主要體現在如下幾個方面：

解決目前探針測試精度不夠理想、穩定性差的缺陷，其優點是探針底部采用凸環設計，使針頭與內管接觸穩定，大大的提高了測試精度和一次測試通過率；大幅度提高測試效率。

雖然本實用新型已以較佳實施例揭示如上，然其并非用以限定本實用新型，任何本領域技術人員，在不脫離本實用新型的精神和范圍內，當可作些許的修改和完善，因此本實用新型的保護范圍當以權利要求書所界定的為準。