[實用新型]一種大豆物理檢測系統

有效

• 申請號: 201720794869.7
• 申請日: 2017-07-03
• 公開（公告）號: CN206974520U
• 公開（公告）日: 2018-02-06
• 發明（設計）人: 鄔元娟;滕晶;萬春燕;王峰恩;李騰;王文正
• 申請（專利權）人: 山東省農業科學院農業質量標準與檢測技術研究所
• 主分類號: G01G11/00
• 分類號: G01G11/00;G01G11/02;G01N5/00;B07C5/18
• 代理公司: 濟南誠智商標專利事務所有限公司37105
• 代理人: 侯德玉

技術領域

本實用新型涉及一種大豆物理檢測系統。

背景技術

大豆作為一種經濟作物，在我國有著廣泛的種植面積，大豆的質量決定了其價格與用途，因此質量的正確斷定十分重要。大豆質量的物理檢驗指標主要有完整粒率、雜質含量、損傷粒率、熱損傷粒率和色澤等，檢驗人員在檢驗大豆時，主要是依據GB/5494的規定進行檢驗。在檢驗時，為確定大豆樣品的完整粒率、雜質含量、損傷粒率和熱損傷粒率，需要檢驗人員對上述指標所涉及到的雜質及不合格大豆種類進行依次分揀及稱重，然后進行數據統計，并通過計算得出相應的大豆指標，在上述檢測過程中，檢測人員需要進行多次稱重操作，導致檢驗效率低下，且在長時間作業下，給檢測人員帶來的勞動強度也大，容易導致后期檢測人員稱重讀數存在較大誤差，從而影響大豆的質量標定。

實用新型內容

本實用新型的目的在于提供一種大豆物理檢測系統，利用本系統進行大豆抽樣檢測時，系統能夠自動實現大豆內被揀出的雜質及相關不合格豆粒的稱重，并通過統計主機實現各項指標的自動計算，不僅提高了大豆檢測效率，同時，也降低了檢測勞動強度。

本實用新型解決其技術問題所采取的技術方案是：一種大豆物理檢測系統，包括支撐平臺、電動篩選機、輸送帶、樣品分析裝置、質量統計裝置和自動稱重裝置，所述輸送帶通過輸送帶支架設置在所述支撐平臺一側，所述電動篩選機設置在所述支撐平臺上，且位于所述輸送帶前方，在所述支撐平臺上還設置一位于所述電動篩選機前方的第一雜質漏孔；

所述樣品分析裝置包括觀察箱、分析盤和鑷子，所述觀察箱為一前側和底部都沒有側板的方形箱體，所述觀察箱設置在所述支撐平臺上，且位于所述輸送帶右側，在所述觀察箱的頂板底平面上設置有檢測光源，在所述支撐平臺上還設置有位于所述觀察箱前方的第二雜質漏孔、第三雜質漏孔和第四雜質漏孔；

所述質量統計裝置設置在所述支撐平臺上，且位于所述觀察箱右側，所述質量統計裝置包括統計主機、鍵盤和鼠標，在所述統計主機上設置一顯示屏，所述鍵盤和鼠標與所述統計主機相連接，統計主機控制輸送帶的開啟與關閉；

在所述第一雜質漏孔、第二雜質漏孔、第三雜質漏孔和第四雜質漏孔的下方均相對應設置一所述自動稱重裝置，在所述輸送帶支架的右側設置一所述自動稱重裝置，所述自動稱重裝置包括稱重斗和稱重傳感器，所述稱重傳感器的稱重端與所述稱重斗的一側壁相連接，在所述稱重斗的下部設置一前端與所述稱重斗的內部相吻合的閘板，所述閘板的后端與一電動伸縮桿的活動端頭相連接，所述電動伸縮桿通過一支撐板固定在所述稱重斗外側，所述稱重傳感器、電動伸縮桿與所述統計主機相對應連接。

優選地，該系統還包括第一收集盒、第二收集盒和第三收集盒，所述第一收集盒用于收集位于第一雜質漏孔下方的稱重斗內放出的雜質；所述第二收集盒用于收集位于所述第二雜質漏孔、第三雜質漏孔和第四雜質漏孔下方相對應的稱重斗內放出的雜質；所述第三收集盒設置在所述支撐平臺上，且位于所述輸送帶左側下方。

進一步地，在所述分析盤上設置一分隔板，所述分隔板由三個豎板構成，三個所述豎板的末端相互連接在一起，且相鄰的兩個豎板之間的夾角為120°，在所述分析盤的外邊緣上設置有與所述豎板的前端相對應的卡槽。

進一步地，在所述支撐平臺上設置一位于所述觀察箱內的分析盤固定槽。

進一步地，在所述支撐平臺的下底平面上設置一與所述第二雜質漏孔、第三雜質漏孔和第四雜質漏孔相配合的第一擋板。

優選地，在所述第二雜質漏孔、第三雜質漏孔和第四雜質漏孔的一側分別設置一位于所述支撐平臺上的標簽。

優選地，在所述輸送帶的兩側各設置一第二擋板。

優選地，在所述鑷子的兩個鑷頭的內側均設置一橡皮墊。