[實(shí)用新型]光學(xué)膜片熱變形模擬測(cè)試裝置

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201720779969.2
• 申請(qǐng)日: 2017-06-30
• 公開（公告）號(hào): CN206876988U
• 公開（公告）日: 2018-01-12
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 張冰川
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 武漢華星光電技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G02F1/13
• 分類號(hào): G02F1/13;G01M11/00
• 代理公司: 深圳市銘粵知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司44304
• 代理人: 孫偉峰,黃進(jìn)

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型涉及液晶顯示器的品質(zhì)檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種光學(xué)膜片熱變形模擬測(cè)試裝置。

背景技術(shù)

液晶顯示器(Liquid Crystal Display，TFT-LCD)具有體積小、功耗低、制造成本相對(duì)較低和無輻射等特點(diǎn)，在當(dāng)前的平板顯示器市場(chǎng)占據(jù)了主導(dǎo)地位，液晶顯示器被廣泛應(yīng)用于各類電子設(shè)備，例如手機(jī)、平板電腦等。

液晶顯示器的背光模組內(nèi)包括導(dǎo)光板、上擴(kuò)散片、下擴(kuò)散片等多種光學(xué)膜片。光學(xué)膜片通常都是厚度小而面積大，在受熱的環(huán)境中極易變形而發(fā)生翹曲(waving)不良。在背光模組中，光源的發(fā)熱問題是不可避免的，光源散發(fā)的熱量會(huì)對(duì)背光模組中的各種光學(xué)膜片造成不良影響，光學(xué)膜片的熱變形應(yīng)當(dāng)控制在極小的范圍內(nèi)，使其不至于影響到液晶顯示器的顯示品質(zhì)。因此，在進(jìn)行整機(jī)組裝之前，針對(duì)光學(xué)膜片的應(yīng)用環(huán)境對(duì)其進(jìn)行熱變形模擬檢驗(yàn)，評(píng)估其出現(xiàn)waving不良的程度以便提出相應(yīng)的改善對(duì)策是十分有必要的。

發(fā)明內(nèi)容

有鑒于此，本實(shí)用新型提供了一種光學(xué)膜片熱變形模擬測(cè)試裝置，該裝置可以模擬光學(xué)膜片在整機(jī)中的受熱環(huán)境，直接觀測(cè)光學(xué)膜片的熱變形情況，預(yù)估光學(xué)膜片出現(xiàn)翹曲(waving)不良的風(fēng)險(xiǎn)。

為了實(shí)現(xiàn)上述的目的，本實(shí)用新型采用了如下的技術(shù)方案：

一種光學(xué)膜片熱變形模擬測(cè)試裝置，其包括相互蓋合的第一加熱板和第二加熱板，所述第一加熱板和所述第二加熱板之間形成有用于放置待測(cè)試的光學(xué)膜片的容置腔，所述第一加熱板的背離所述容置腔的表面上設(shè)置有多個(gè)第一加熱源，各個(gè)所述第一加熱源的加熱功率單獨(dú)可調(diào)，所述第二加熱板的背離所述容置腔的表面上設(shè)置有多個(gè)第二加熱源，各個(gè)所述第二加熱源的加熱功率單獨(dú)可調(diào)。

優(yōu)選地，所述多個(gè)第一加熱源在所述第一加熱板上呈矩陣排布，所述多個(gè)第二加熱源在所述第二加熱板上呈矩陣排布。

優(yōu)選地，所述多個(gè)第一加熱源和所述多個(gè)第二加熱源在所述容置腔的兩側(cè)一一對(duì)應(yīng)設(shè)置。

優(yōu)選地，所述第一加熱源和所述第二加熱源分別為L(zhǎng)ED燈或加熱電阻。

優(yōu)選地，所述第一加熱板和所述第二加熱板可拆卸地相互蓋合組裝。

優(yōu)選地，所述光學(xué)膜片熱變形模擬測(cè)試裝置還裝配有溫度線，所述溫度線用于檢測(cè)獲取對(duì)所述待測(cè)試的光學(xué)膜片的加熱溫度。

本實(shí)用新型實(shí)施例提供的光學(xué)膜片熱變形模擬測(cè)試裝置，該裝置可以模擬光學(xué)膜片在整機(jī)中的受熱環(huán)境，直接觀測(cè)光學(xué)膜片的熱變形情況，預(yù)估光學(xué)膜片出現(xiàn)翹曲(waving)不良的風(fēng)險(xiǎn)，為后續(xù)的改善對(duì)策提供參考依據(jù)。另外，所述模擬測(cè)試裝置中的加熱溫度分布趨勢(shì)可根據(jù)實(shí)際需要自由調(diào)控，由此可模擬多種不同機(jī)種的受熱環(huán)境，具有良好的通用性。

附圖說明

圖1是本實(shí)用新型實(shí)施例中的光學(xué)膜片熱變形模擬測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖；

圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例中的光學(xué)膜片熱變形模擬測(cè)試裝置的俯視圖；

圖3a和圖3b是本實(shí)用新型實(shí)施例中的光學(xué)膜片熱變形模擬測(cè)試裝置在進(jìn)行測(cè)試時(shí)的示例性圖示。

具體實(shí)施方式

為使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面結(jié)合附圖對(duì)本實(shí)用新型的具體實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)說明。這些優(yōu)選實(shí)施方式的示例在附圖中進(jìn)行了例示。附圖中所示和根據(jù)附圖描述的本實(shí)用新型的實(shí)施方式僅僅是示例性的，并且本實(shí)用新型并不限于這些實(shí)施方式。

在此，還需要說明的是，為了避免因不必要的細(xì)節(jié)而模糊了本發(fā)明，在附圖中僅僅示出了與根據(jù)本實(shí)用新型的方案密切相關(guān)的結(jié)構(gòu)和/或處理步驟，而省略了關(guān)系不大的其他細(xì)節(jié)。

本實(shí)施例提供了一種光學(xué)膜片熱變形模擬測(cè)試裝置，該裝置用于模擬光學(xué)膜片在整機(jī)中的受熱環(huán)境，直接觀測(cè)光學(xué)膜片的熱變形情況。如圖1和圖2所示，所述光學(xué)膜片熱變形模擬測(cè)試裝置包括相互蓋合的第一加熱板1和第二加熱板2，所述第一加熱板1和所述第二加熱板2之間形成有用于放置待測(cè)試的光學(xué)膜片3的容置腔4。所述第一加熱板1的背離所述容置腔4的表面上設(shè)置有多個(gè)第一加熱源5，各個(gè)所述第一加熱源5的加熱功率單獨(dú)可調(diào)。所述第二加熱板2的背離所述容置腔4的表面上設(shè)置有多個(gè)第二加熱源6，各個(gè)所述第二加熱源6的加熱功率單獨(dú)可調(diào)。

具體地，所述第一加熱板1和所述第二加熱板2可拆卸地相互蓋合組裝。其中，所述第一加熱源5可以選擇為L(zhǎng)ED燈或加熱電阻，所述第二加熱源6也是可以選擇為L(zhǎng)ED燈或加熱電阻。