[實用新型]場均勻性校準支架

有效

• 申請號: 201720774643.0
• 申請日: 2017-06-29
• 公開（公告）號: CN207336576U
• 公開（公告）日: 2018-05-08
• 發明（設計）人: 魏延全;廖建明;齊昊;彭靜
• 申請（專利權）人: 深圳市巴倫技術股份有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 何平

本實用新型涉及一種場均勻性校準支架，包括底座及垂直連接底座的Z軸支桿；底座包括X軸支桿，X軸支桿上設有若干個支桿插槽，若干個支桿插槽位于同一直線上，若干個支桿插槽的開口方向平行于Z軸支桿自底部往頂部延伸的方向；Z軸支桿可拆卸地連接其中一個所述支桿插槽，所述Z軸支桿的一側設有若干個探頭連接槽，若干個所述探頭連接槽位于同一直線上；若干個所述支桿插槽所在的直線垂直于若干個所述探頭連接槽所在的直線。每測試一個測試點只需要將場強探頭連接入對應的探頭連接槽，或將Z軸支桿安插入對應的支桿插槽即可，定位準確，易于操作，減少了定位和測試的時間，減少了測量的不確定性因素，提高了測試的可重復性，提高了測試效率。

技術領域

本實用新型涉及電磁場抗擾度測試設備技術領域，特別是涉及場均勻性校準支架。

背景技術

輻射電磁場抗擾度測試的目的是為了評估電子電氣產品在強輻射干擾環境下的是否能正常工作，測試之前會用一個場強探頭放在被測物所在位置，進行輻射場強的強度校準，但由于被測物大小不一，為了讓較大的被測物整個平面接收到的干擾強度一致，國際標準便定義了一個垂直于地面的1.5m×1.5m的均勻場區域，該均勻場區域包含16個測試點，16個測試點的排列方式為4(行)×4(列)，相鄰的點間隔0.5m。校準時，將場強探頭分別放置于16個測試點中的各個點進行校準，再對16個點的數據進行分析，從而得出該區域的均勻性是否符合標準要求，整個校準測試即為場均勻性校準。

為了讓場強探頭準確的放置在上面所述的16個測試點中的各個點，傳統方法是利用一個固定的支架(一個底座+一個垂直支桿)，垂直支桿上套一個可以上下滑動的水平套筒，在定位時上下滑動水平套筒以固定探頭的高度，在平移底座，用以固定探頭的水平位置。將底座水平移動用以固定探頭的水平位置時，容易因為人為的操作誤差從而導致16個測試點不在同一垂直平面上；探頭每更換一個位置時，都需要進行高度測量從而確保位置準確，在進行多次測試時，很難保證每次高度測量都完全一致沒有。所以每次測試時都要調節、測量16次，從而確保探頭處于設定的位置，這大大增加了測量的不確定性和誤差，降低了測試的可重復性，且固定位置比較花時間，影響測試效率。

實用新型內容

基于此，有必要針對上述問題，提供一種場均勻性校準支架，其具有定位準確，易于操作，減少了定位和測試的時間，提高了測試效率的特點。

一種場均勻性校準支架，包括底座及垂直連接底座的Z軸支桿；底座包括X軸支桿，X軸支桿上設有若干個支桿插槽，若干個支桿插槽位于同一直線上，若干個支桿插槽的開口方向平行于Z軸支桿自底部往頂部延伸的方向；Z軸支桿可拆卸地連接其中一個支桿插槽，Z軸支桿的一側設有若干個探頭連接槽，若干個探頭連接槽位于同一直線上；若干個支桿插槽所在的直線垂直于若干個探頭連接槽所在的直線。

上述場均勻性校準支架，應用于放置場強探頭以進行場均勻性校準，使用時，底座放置于水平地面或平臺上，場強探頭通過探頭連接桿連接入其中一個探頭連接槽，若干個支桿插槽所在的直線平行于電磁場抗擾度測試時的均勻場區域，Z軸支桿安插于其中一個支桿插槽內，相鄰的支桿插槽之間的距離等于X軸方向的相鄰的測試點之間的距離，則一個支桿插槽與一個探頭連接槽的結合形成一個測試位置，對應均勻場16個點中的一個測試點；由于相鄰的支桿插槽之間的距離及相鄰的支桿插槽之間的距離與測試點的距離對應，所以只要將本實用新型場均勻性校準支架與均勻場區域對應放置好，并獲得其中一個測試點的準確的測試位置，就可以確定其它測試點的測試位置，每測試一個測試點只需要將場強探頭連接入對應的探頭連接槽，或將Z軸支桿安插入對應的支桿插槽即可，無需每個測試點都測量距離然后滑動調節測試位置，定位準確，易于操作，減少了定位和測試的時間，減少了測量的不確定性因素，大大提高了測試的可重復性，提高了測試效率。

在其中一個實施例中，支桿插槽的數量為四個，探頭連接槽的數量為四個。

在其中一個實施例中，四個支桿插槽中，相鄰的支桿插槽之間的距離為50cm；四個探頭連接槽中，相鄰的探頭連接槽之間的距離為50cm。