[實用新型]一種筷子污點檢測裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201720758317.0 | 申請日: | 2017-06-27 |
| 公開(公告)號: | CN207198055U | 公開(公告)日: | 2018-04-06 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 孫澤軍 | 申請(專利權(quán))人: | 長沙世通紙塑箸業(yè)有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/94 | 分類號: | G01N21/94 |
| 代理公司: | 長沙市標(biāo)致專利代理事務(wù)所(普通合伙)43218 | 代理人: | 李宗帥 |
| 地址: | 410100 *** | 國省代碼: | 湖南;43 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 筷子 污點 檢測 裝置 | ||
1.一種筷子污點檢測裝置,其特征在于,包括控制器、以及用于對筷子上下兩側(cè)進(jìn)行檢測的污點檢測探頭,所述污點檢測探頭包括分別安裝在輸送鏈上方和下方的數(shù)個上側(cè)污點檢測探頭和數(shù)個下側(cè)污點檢測探頭;上側(cè)污點檢測探頭通過上安裝架安裝在輸送鏈上方,所述安裝架為L形或者U形結(jié)構(gòu),其豎直邊上開設(shè)有一排用于安裝上側(cè)污點檢測探頭的安裝孔;所述安裝孔為垂直設(shè)置的長條形安裝孔,所述上側(cè)污點檢測探頭能夠通過長條形安裝孔調(diào)節(jié)其上下位置;所述上側(cè)污點檢測探頭和下側(cè)污點檢測探頭均與控制器連接。
2.如權(quán)利要求1所述筷子污點檢測裝置,其特征在于,所述上側(cè)污點檢測探頭和下側(cè)污點檢測探頭的數(shù)量分別為2~15個。
3.如權(quán)利要求2所述筷子污點檢測裝置,其特征在于,所述上側(cè)污點檢測探頭和下側(cè)污點檢測探頭為與控制器點連接的光電傳感器。
4.如權(quán)利要求3所述筷子污點檢測裝置,其特征在于,所述相鄰污點檢測探頭之間的距離以及最外側(cè)光電傳感器與筷子端頭的距離小于所檢測筷子長度的40%。
5.如權(quán)利要求1~3任意一項所述筷子污點檢測裝置,其特征在于,所述污點檢測探頭與所檢測筷子面之間的距離為5mm~60mm。
6.如權(quán)利要求1所述筷子污點檢測裝置,其特征在于,所述上安裝架兩側(cè)沿縱向方向、開設(shè)有用于連接輸送鏈機架的第一長條形通槽,所述上安裝架能夠通過第一長條形通槽相對輸送鏈進(jìn)行縱向調(diào)節(jié)。
7.如權(quán)利要求1或2或3所述筷子污點檢測裝置,其特征在于,所述下側(cè)污點檢測探頭通過下安裝架安裝在輸送鏈下方,所述下安裝架兩側(cè)沿豎直方向、開設(shè)有用于連接輸送鏈機架的第二長條形通槽,所述下安裝架能夠通過第二長條形通槽相對輸送鏈進(jìn)行上下調(diào)節(jié)。
8.如權(quán)利要求7所述筷子污點檢測裝置,其特征在于,所述下安裝架上開設(shè)有,用于安裝下側(cè)污點檢測探頭的第三長條形通槽或者一排下側(cè)安裝孔,所述下側(cè)污點檢測探頭能夠通過第三長條形通槽或者一排下側(cè)安裝孔調(diào)節(jié)其縱向位置。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





