[實用新型]阻抗測試條及電路板

有效

• 申請號: 201720724623.2
• 申請日: 2017-06-20
• 公開（公告）號: CN206945824U
• 公開（公告）日: 2018-01-30
• 發明（設計）人: 程柳軍;李華;李艷國;陳蓓
• 申請（專利權）人: 廣州興森快捷電路科技有限公司;深圳市興森快捷電路科技股份有限公司;宜興硅谷電子科技有限公司
• 主分類號: G01R27/02
• 分類號: G01R27/02;G01R31/28
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司44224
• 代理人: 王瑞

1.一種阻抗測試條，其特征在于，包括測試條本體，所述測試條本體上設有單端阻抗測試線及/或差分阻抗測試線，

當所述測試條本體上設有單端阻抗測試線時，所述單端阻抗測試線包括第一過孔，以及設于所述測試條本體的不同層的第一單端阻抗線和第二單端阻抗線，所述第一單端阻抗線的第一端與所述第二單端阻抗線的第一端通過所述第一過孔進行轉層，所述測試條本體上在所述第一單端阻抗線的第二端及/或所述第二單端阻抗線的第二端處設有第一測試孔；

當所述測試條本體上設有差分阻抗測試線時，所述差分阻抗測試線包括第二過孔，以及設于所述測試條本體的不同層的第一差分阻抗線和第二差分阻抗線，所述第一差分阻抗線的第一端與所述第二差分阻抗線的第一端通過所述第二過孔進行轉層，所述測試條本體上在所述第一差分阻抗線的第二端及/或所述第二差分阻抗線的第二端處設有第二測試孔。

2.根據權利要求1所述的阻抗測試條，其特征在于，所述第一測試孔包括單端信號孔和單端地孔，所述單端信號孔設于所述第一單端阻抗線的第二端及/或所述第二單端阻抗線的第二端處，所述單端信號孔與所述單端地孔之間的間距用于與阻抗測試探針的標準間距匹配。

3.根據權利要求2所述的阻抗測試條，其特征在于，所述第二測試孔包括第一差分信號孔、第二差分信號孔、第一差分地孔和第二差分地孔，所述第一差分阻抗線包括一對差分阻抗線，所述第二差分阻抗線包括一對差分阻抗線；

所述第一差分信號孔設于所述第一差分阻抗線的其中一條差分阻抗線的第二端及/或第二差分阻抗線的其中一條差分阻抗線的第二端處，所述第二差分信號孔設于所述第一差分阻抗線的其中另一條差分阻抗線的第二端及/或第二差分阻抗線的其中另一條差分阻抗線的第二端處；

所述第一差分信號孔與第二差分信號孔之間的間距用于與阻抗測試探針的標準間距匹配。

4.根據權利要求3所述的阻抗測試條，其特征在于，所述第一差分地孔與第二差分地孔之間的間距、所述第一差分地孔與所述第一差分信號孔、所述第二差分地孔與所述第二差分信號孔之間的間距均用于與阻抗測試探針的標準間距匹配。

5.根據權利要求1-4任一項所述的阻抗測試條，其特征在于，所述第一單端阻抗線和第二單端阻抗線的長度均大于1inch，所述第一差分阻抗線和第二差分阻抗線的長度均大于1inch。

6.根據權利要求5所述的阻抗測試條，其特征在于，所述第一單端阻抗線和第二單端阻抗線的長度相同，所述第一差分阻抗線和第二差分阻抗線的長度相同。

7.根據權利要求1-4任一項所述的阻抗測試條，其特征在于，所述測試條本體的表層或底層在所述第一測試孔的一側設有第一標識部，所述測試條本體的表層或底層在所述第二測試孔的一側設有第二標識部。

8.根據權利要求1-4任一項所述的阻抗測試條，其特征在于，所述單端阻抗測試線與差分阻抗測試線均為阻抗測試線，所述阻抗測試線為至少兩根，至少兩根所述阻抗測試線沿縱向方向間隔排列。

9.根據權利要求1-4任一項所述的阻抗測試條，其特征在于，所述第一單端阻抗線、第二單端阻抗線以及第一過孔的結構用于與PCB拼版的圖形內的帶過孔的待測單端阻抗線的結構一致，所述第一差分阻抗線、第二差分阻抗線以及第二過孔的結構用于與PCB拼版的圖形內的帶過孔的待測差分阻抗線的結構一致。

10.一種電路板，其特征在于，包括權利要求1-9任一項所述的阻抗測試條以及PCB拼版，所述阻抗測試條設置在所述PCB拼版的板邊或PCB拼版的相鄰圖形單元之間。