[實用新型]一種光電材料與器件多場耦合測試系統有效
| 申請號： | 201720724384.0 | 申請日： | 2017-06-21 |
| 公開（公告）號： | CN206832912U | 公開（公告）日： | 2018-01-02 |
| 發明（設計）人： | 梁坤;章天金;周鵬 | 申請（專利權）人： | 湖北大學 |
| 主分類號： | G01R31/00 | 分類號： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 武漢天力專利事務所42208 | 代理人： | 吳曉穎 |
| 地址： | 430062 湖北*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 光電 材料 器件 耦合 測試 系統 | ||
【權利要求書】：
1.一種光電材料與器件多場耦合測試系統，其特征在于：包括測試平臺，所述測試平臺上設有6個探針通道，分別為2個交流通道、2個直流通道、1個光纖通道和1個微波通道，所述測試平臺下方設有低溫超導磁體，所述測試平臺旁設有變溫系統，測試系統通過交流通道/直流通道外接AC/DC電壓源，測試系統通過光纖通道外接紅外-可見-紫外光源，測試系統通過微波通道外接微波系統。
2.根據權利要求1所述的光電材料與器件多場耦合測試系統，其特征在于：所述變溫系統由液氦壓縮機、低溫冷頭和高溫加熱裝置組成。
3.根據權利要求1所述的光電材料與器件多場耦合測試系統，其特征在于：所述微波系統由半導體器件和電真空器件組成。
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