[實用新型]一種新型控制和偵測SD卡lock/unlock的電路有效
| 申請號: | 201720718697.5 | 申請日: | 2017-06-20 |
| 公開(公告)號: | CN206789307U | 公開(公告)日: | 2017-12-22 |
| 發明(設計)人: | 公維迎 | 申請(專利權)人: | 鄭州云海信息技術有限公司 |
| 主分類號: | G11C7/24 | 分類號: | G11C7/24 |
| 代理公司: | 濟南信達專利事務所有限公司37100 | 代理人: | 張靖 |
| 地址: | 450000 河南省鄭州市*** | 國省代碼: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 新型 控制 偵測 sd lock unlock 電路 | ||
技術領域
本實用新型涉及存儲產品設計技術領域,具體涉及一種新型控制和偵測SD卡lock/unlock的電路。
背景技術
SD卡(Secure Digital Memory Card)是一種基于半導體快閃記憶器的新一代記憶設備,大小猶如一張郵票的SD記憶卡,重量只有2克,但卻擁有高記憶容量、快速數據傳輸率、極大的移動靈活性以及很好的安全性。普遍用于相機,筆記本,工控設備和服務器上。但是我們在使用SD卡的時候,我們會遇到這樣的問題,當系統將SD卡設置為unlock后(此時lock還是unlock受SD卡本身lock開關控制),在工廠產線測試人員測試SD卡時,BIOS無法偵測SD卡有沒有lock,如果測試人員把SD卡lock住,用相關tool測試時不能寫信息到此卡,測試會報錯,引起測試人員不必要的麻煩。同時,當系統將SD卡設置為unlock而用戶lock SD卡,用戶無法寫數據到SD卡,引起用戶不必要的麻煩。
如圖1所示,當系統需要對SD卡寫保護時,把PCH GPIO0拉低,Q1不導通,SD controller U2的WP pin腳被拉高電平,高電平時SD卡寫保護,只能讀。
當PCH GPIO0拉高時,Q1導通,SD controller U2的WP pin腳受CONN1的WP_switch控制,當SD卡人為被設置lock時,此pin腳懸空,SD controller U2的WP pin腳高電平,SD卡寫保護,只能讀;當SD卡人為被設置unlock時,此pin腳接地,SD controller U2的WP pin腳低電平,SD卡既能讀也能寫。
但是一旦系統在BIOS下設置SD卡為unlock時(GPIO0高電平),BIOS下就無法知道SD卡是用戶自己設置的unlock還是lock。
實用新型內容
本實用新型要解決的技術問題是:本實用新型針對以上問題,提供一種新型控制和偵測SD卡lock/unlock的電路,通過線路改進后,產線測試時會方便偵測SD卡有沒有lock,如果lock住提示測試人員此卡unlock住,從而縮短產品研發測試周期。同時在電腦開機時提醒用戶SD卡寫保護了。
本實用新型所采用的技術方案為:
一種新型控制和偵測SD卡lock/unlock的電路,所述電路結構包括PCH芯片、三極管、controller芯片、CONN芯片,其中,三極管的G、S、D端分別連接高電平,PCH芯片的GPIO0端連接至三極管的G端,三極管的D端連接至controller芯片的WP端,三極管的S端連接至CONN芯片的WP_switch端,同時也連接至PCH芯片的GPIO1端。
所述PCH芯片的GPIO0信號控制三極管的導通:
1)GPIO0拉低時,三極管不導通,controller芯片的WP pin腳被拉高為高電平,SD卡寫保護,只能讀;
2)當PCH芯片的GPIO0拉高為高電平時,三極管導通,controller芯片的WP pin腳受CONN芯片的WP_switch控制:
a、當SD卡被設置為lock時,CONN芯片CONN1的WP_switch pin腳懸空,controller芯片的WP pin腳高電平,SD卡寫保護,只能讀;PCH芯片的GPIO1端偵測到高電平,BIOS中設置為SD卡lock;
b、當SD卡被設置為unlock時, CONN芯片的WP_switch pin腳接地,controller芯片的WP pin腳低電平,SD卡既能讀也能寫;PCH芯片的GPIO1端偵測到低電平,BIOS中設置為SD卡unlock。
所述三極管為2N7002電源控制芯片。
所述三極管2N7002電源控制芯片的G、S、D端分別通過一個10K電阻串聯到電源+3P3V端。
PCH:Platform Controller Hub,集成南橋;
2n7002芯片:一種電源控制芯片,晶體管極性:N溝道。
本實用新型的有益效果為:
本實用新型采用改善SD卡寫保護線路,實現系統對SD卡寫保護時,能通過BIOS PCH GPI01去偵測SD卡有沒有lock住,如果lock住提示測試工作人員拔下SD卡unlock此卡,再進行SD卡寫測試。通過改進后的線路設計,使得工廠產線測試方便,減少了因操作不當導致的debug時間,縮短了研發測試周期,同時還能系統開機界面時提醒用戶SD卡lock住,需要做相應解鎖才能使用,提高用戶體驗度。
附圖說明
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