[實用新型]用于化學發光檢測的探測單元、電子暗盒壓片裝置有效
| 申請號: | 201720692364.X | 申請日: | 2017-06-14 |
| 公開(公告)號: | CN206945543U | 公開(公告)日: | 2018-01-30 |
| 發明(設計)人: | 淳潔 | 申請(專利權)人: | 淳潔 |
| 主分類號: | G01N21/76 | 分類號: | G01N21/76 |
| 代理公司: | 上海光華專利事務所(普通合伙)31219 | 代理人: | 張新鑫,許亦琳 |
| 地址: | 200042 上海市靜*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 化學 發光 檢測 探測 單元 電子 暗盒 壓片 裝置 | ||
技術領域
本實用新型涉及一種用于化學發光檢測的探測單元、電子暗盒壓片裝置。
背景技術
將生物大分子從凝膠轉移到一種固定基質膜上的過程稱為印跡技術,己廣泛用于DNA、RNA、蛋白質的檢測。蛋白質印跡法(Western Blot)是分子生物學、生物化學和免疫遺傳學中常用的一種實驗方法。其基本原理是通過特異性抗體對凝膠電泳分離過的細胞或生物組織樣品進行著色。通過分析著色的位置和著色深度獲得特定蛋白質在所分析的細胞或組織中表達情況的信息。
蛋白印跡膜化學發光檢測是生物化學實驗中最為常用的蛋白分析技術手段之一,可以對蛋白進行定性和定量分析。目前的化學發光印跡膜的檢測方法有兩種:暗盒壓片(膠片感光)和電子CCD影像生成。暗盒壓片的原理是利用照相膠片對印跡膜發光信號進行直接感光,從而獲得印跡膜上的化學發光信號強度。電子CCD檢測技術則是使用電感耦合電子器件捕捉印跡膜上的發光信號,光信號在CCD芯片上被轉化為電子信號,從而實現檢測。以上兩種方法各有其優缺點:膠片暗盒壓片裝置簡單且靈敏度高,但需手工定影顯影,顯影液中含有劇毒氰化物,最大劣勢是不能直接獲得數字化檢測結果(結果保存在膠片上);電子CCD技術可直接獲得數字化檢測結果,但靈敏度不及暗盒壓片,并且裝置較大較復雜。所以,暗盒壓片蛋白印跡膜檢測技術雖然有20年以上的使用歷史,但仍未被電子CCD技術所取代,依然是該領域的主流技術。
多種基于半導體集成材料的平板探測器都可將光信號轉換為電信號,在光電二極管或晶體管自身的電容上形成存儲電荷,其存儲電荷量與入射光線強度成正比,在控制電路的作用下,掃描讀出像元的存儲電荷,經A/D轉換后輸出數字信號,傳送給計算機生成對應數字影像。平板探測器檢測技術具有空間分辨率高、可常溫操作、感光面積大等優點,該技術已廣泛應用于醫療DR設備及工業探傷設備(均為X射線檢測),但未見其用于化學發光(即可見光)檢測的裝置報道。
實用新型內容
鑒于以上所述現有技術的缺點,本實用新型的目的在于提供一種用于化學發光檢測的探測單元、電子暗盒壓片裝置,用于解決現有技術中的問題。
為實現上述目的及其他相關目的,所述暗盒中設置平板探測單元,所述平板探測單元平置在暗盒中,所述暗盒包括上盒體和下盒體,所述上盒體和所述下盒體匹配,所述平板探測單元位于上盒體或者下盒體中;當所述平板探測單元位于上盒體中時,所述下盒體內還設有檢測平臺,所述檢測平臺平置于平板探測單元下方1~2mm處;當所述平板探測單元位于下盒體中時其本身作為檢測平臺。
所述上盒體和所述下盒體匹配是指上盒體蓋在下盒體上時,可以形成一個密閉的空間。
當平板探測單元位于上盒體,所述檢測平臺用于放置被檢測物,例如印跡膜;當所述平板檢測單元自身作為檢測平臺時,其自身即可以用來放置和支撐被檢測物,同時可以用來檢測被檢測物。
所述平置可以是水平的或者具有微小傾斜度的放置,最優選方案是水平放置。
在本實用新型中,所述平板探測器則不帶有碘化銫涂層,可直接檢測化學發光對應波長。
優選地,所述平板探測單元選自非晶硅光電晶體管陣列探測器、非晶硅光電二極管陣列探測器、低溫多晶硅光電晶體管陣列探測器或晶體硅光電晶體管陣列探測器中的任意一種。
非晶硅光電晶體管陣列探測器,是采用非晶硅TFT(a-Si Thin Film Transistor)制作工藝制成,具有PIN結構。
非晶硅光電二極管陣列探測器是采用非晶硅TFD(a-Si Thin Film Diode)制作工藝制成的。
低溫多晶硅光電晶體管陣列探測器是采用低溫多晶硅LTPS(Low Temperature Poly-Silicon,p-Si)制作工藝制成的。
晶體硅光電晶體管陣列探測器是采用整塊硅單晶作為材料使用集成電路工藝制作的。
更優選地,所述平板探測單元采用光電二極管陣列探測器。
優選地,所述探測單元還包括信號讀出模塊,所述信號讀出模塊連接平板探測單元。信號讀出模塊可以采用低功耗數字集成電路,將列脈沖信號轉換為串行脈沖信號。
優選地,所述平板探測單元封裝在透明保護層中。更優選地,所述透明保護層可以選用石英玻璃、或經表面鈍化處理的玻璃、經表面鈍化處理的硬質塑料。
優選地,所述平板探測單元的像元間距為50um~300um。
優選地,所述平板探測單元為矩形,更優選地,所述矩形的形狀為6cm x 8cm;
優選地,所述暗盒的長10~20cm,寬8~15cm,高2~8cm;
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