[實用新型]導引頭位標器綜合間隙測量儀有效
| 申請號: | 201720677510.1 | 申請日: | 2017-06-12 |
| 公開(公告)號: | CN206974314U | 公開(公告)日: | 2018-02-06 |
| 發明(設計)人: | 陳強;陳剛 | 申請(專利權)人: | 株洲耀輝光機電研究開發有限公司 |
| 主分類號: | G01B5/00 | 分類號: | G01B5/00;G01L5/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 412000 湖南省株洲市*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 導引 位標 綜合 間隙 測量儀 | ||
1.一種導引頭位標器綜合間隙測量儀,其特征在于:包括有機架、位移測量裝置、百分表、加力測量裝置以及推拉力計;該機架具有一開口朝上的容置腔,容置腔的內底部設置有端齒分度臺,端齒分度臺上設置有轉接盤,端齒分度臺帶動轉接盤旋轉;該位移測量裝置設置于機架上并位于容置腔之上端開口的側旁,該百分表固定于位移測量裝置上并位于轉接盤的上方;該加力測量裝置設置于機架上并位于容置腔之上端開口的側旁,該推拉力計固定于加力測量裝置上并位于轉接盤的上方。
2.如權利要求1所述的導引頭位標器綜合間隙測量儀,其特征在于:所述機架包括有底座和支架,支架設置于底座上并圍構形成前述容置腔,前述端齒分度臺設置于底座上。
3.如權利要求1所述的導引頭位標器綜合間隙測量儀,其特征在于:所述轉接盤的表面凹設有用于定位裝有位標器導引頭的凹位。
4.如權利要求1所述的導引頭位標器綜合間隙測量儀,其特征在于:所述位移測量裝置可水平來回移動調整地設置于機架上。
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