[實用新型]一種射頻識別標簽天線阻抗匹配連接裝置

有效

• 申請號: 201720657399.X
• 申請日: 2017-06-06
• 公開（公告）號: CN206922015U
• 公開（公告）日: 2018-01-23
• 發明（設計）人: 邢榮欣;王文峰;闞勁松;王酣;趙昭;王壯
• 申請（專利權）人: 中國電子技術標準化研究院
• 主分類號: H01Q1/50
• 分類號: H01Q1/50;H01Q1/22
• 代理公司: 北京慧智興達知識產權代理有限公司11615
• 代理人: 韓龍

技術領域

本實用新型涉及天線測試技術領域，尤其涉及一種射頻識別標簽天線阻抗匹配連接裝置。

背景技術

無線射頻識別技術(RFID)是從二十世紀90年代興起的一項非接觸式自動識別技術。它是利用射頻方式進行非接觸雙向通信，以達到自動識別目標對象并獲取相關數據，具有精度高、適應環境能力強、抗干擾強、操作快捷等許多優點。RFID目前已廣泛應用于物流管理、智能交通、生產自動化等領域，特別是(840-960)MHz、2.45GHz、5.8GHz超高頻/微波射頻識別系統得到了廣泛的應用。

基本的射頻識別系統包括讀寫器和射頻識別標簽，射頻識別標簽是數據載體，讀寫器以非接觸方式讀取射頻識別標簽中的數據信息或向射頻識別標簽寫入數據信息。射頻識別標簽天線和讀寫器天線輻射性能直接影響射頻識別通信的通信質量和通信距離，因此如何準確測量和評價天線的性能變得異常關鍵。

對于讀寫器天線的輻射性能參數，目前都有成熟的解決方案，利用近場、遠場、緊縮場等方式都可以實現其輻射電磁場等輻射性能的測量。對于射頻識別標簽天線的輻射性能測量，不能直接采用現有的天線測量系統。其原因是射頻識別芯片由于生產工藝的限制無法做成標準的50歐姆阻抗，而是非標的復阻抗，與之匹配的射頻識別標簽天線也是復阻抗的，而標準的天線測量系統是50歐姆阻抗，直接測量會導致輸入到被測標簽天線的射頻微波功率會遠遠小于施加功率，導致測量結果無法真實反映標簽天線的輻射性能，因此需要一種用于阻抗匹配和轉換的專用阻抗匹配裝置。

RFID標簽天線由于材質與制造工藝不同，分為金屬蝕刻天線、印刷天線、鍍銅天線等幾種，復阻抗約為[(6---40)+j(30--100)]歐姆，因此標簽天線不能直接連接50歐姆標準阻抗的測試系統進行測試。同時，標簽天線為電小天線，在普通的天線暗室測試系統中，通用的天線支架相對于標簽天線來說過大，將會造成天線諧振點偏移、輻射電磁場變形、增益變化，使天線測試結果不精確。因此需要一種用于射頻識別標簽天線的阻抗匹配連接裝置。

實用新型內容

鑒于上述問題，本實用新型提供一種克服上述問題或者至少部分地解決上述問題的射頻識別標簽天線阻抗匹配連接裝置，以實現標簽天線在阻抗匹配條件下的方向圖測試。

本實用新型實施例提供的射頻識別標簽天線阻抗匹配連接裝置，包括：平衡傳輸線饋電引出結構、阻抗匹配單元和平衡/不平衡轉換結構；

所述平衡傳輸線饋電引出結構的一端與待測射頻識別標簽天線連接，另一端與所述阻抗匹配單元的一端連接，所述阻抗匹配單元的另一端通過所述平衡/不平衡轉換結構與天線測量系統連接，以實現所述待測射頻識別標簽天線與所述天線測量系統的阻抗匹配。

其中，所述平衡傳輸線饋電引出結構采用特性阻抗為50歐姆的雙線傳輸線實現。

其中，所述雙線傳輸線為微帶結構的雙線傳輸線。

其中，所述平衡/不平衡轉換結構輸入輸出端口的特性阻抗均為50歐姆。

其中，所述待測射頻識別標簽天線的中部開設有縫隙，所述縫隙一側設有天線接口，所述平衡傳輸線饋電引出結構與所述天線接口通過焊接或粘合的方式進行連接。

其中，所述阻抗匹配單元兩端均采用SMA接頭進行連接。

其中，所述裝置還包括夾具平臺，所述平臺基座用于對所述平衡傳輸線饋電引出結構、所述阻抗匹配單元、所述平衡/不平衡轉換結構以及所述待測射頻識別標簽天線進行支撐。

其中，所述夾具平臺，包括平臺基座、設置于所述平臺基座圓心處且與所述平臺基座相垂直的支撐結構以及可拆卸地設置于所述平臺基座和支撐結構的吸波材料，所述平衡傳輸線饋電引出結構布置于所述支撐結構上，設置于所述支撐結構的所述吸波材料用于包裹所述平衡傳輸線饋電引出結構。

其中，所述支撐結構為介電常數材料低于預設閾值的材料。

其中，所述支撐結構為泡沫。

本實用新型實施例提供的射頻識別標簽天線阻抗匹配連接裝置，通過在待測試射頻識別標簽天線與天線測量系統之間加入阻抗匹配單元，使得射頻識別標簽天線可以與現有的天線測量系統實現阻抗匹配，進而能對射頻識別標簽天線的性能進行準確測量和評價。

上述說明僅是本實用新型技術方案的概述，為了能夠更清楚了解本實用新型的技術手段，而可依照說明書的內容予以實施，并且為了讓本實用新型的上述和其它目的、特征和優點能夠更明顯易懂，以下特舉本實用新型的具體實施方式。

附圖說明