[實用新型]一種透平機上測量軸瓦用微型鉑電阻探頭

有效

• 申請號: 201720656221.3
• 申請日: 2017-06-07
• 公開（公告）號: CN207019810U
• 公開（公告）日: 2018-02-16
• 發明（設計）人: 鄭英南
• 申請（專利權）人: 久茂自動化（大連）有限公司
• 主分類號: G01K7/18
• 分類號: G01K7/18;G01K1/08;G01K1/02
• 代理公司: 大連至誠專利代理事務所(特殊普通合伙)21242
• 代理人: 楊威,董彬

1.一種透平機上測量軸瓦用微型鉑電阻探頭，包括熱電阻元件(1)、保護套管(2)、信號導線Ⅰ(3)以及信號導線Ⅱ(4)；所述熱電阻元件(1)置于所述保護套管(2)中，所述信號導線Ⅰ(3)的一端置于所述保護套管(2)內并與所述熱電阻元件(1)的引腳電連接，所述信號導線Ⅰ(3)的另一端與所述信號導線Ⅱ(4)的一端電連接，所述熱電阻元件(1)與所述保護套管(2)之間置有環氧樹脂膠(5)，所述環氧樹脂膠(5)將所述熱電阻元件(1)密封固定在所述保護套管(2)中，其特征在于：還包括接線管(6)，所述信號導線Ⅰ(3)和所述信號導線Ⅱ(4)的連接端置于所述接線管(6)中，所述接線管(6)中注有密封膠，所述密封膠將所述信號導線Ⅰ(3)和所述信號導線Ⅱ(4)的連接端密封固定在所述接線管(6)內，所述接線管(6)包括一個中間管(61)和兩個壓接管(62)，所述兩個壓接管(62)的一端分別插入所述中間管(61)的兩端，所述兩個壓接管(62)分別與所述中間管(61)焊接連接，所述兩個壓接管(62)分別與所述信號導線Ⅰ(3)和所述信號導線Ⅱ(4)壓接。

2.根據權利要求1所述的透平機上測量軸瓦用微型鉑電阻探頭，其特征在于：所述熱電阻元件(1)上置有雙層熱縮管Ⅰ(7)，所述熱電阻元件(1)和與其連接的信號導線Ⅰ(3)的端部置于所述雙層熱縮管Ⅰ(7)內，所述雙層熱縮管Ⅰ(7)與所述信號導線Ⅰ(3)的外護套下端熔融連接，所述雙層熱縮管Ⅰ(7)的另一端加熱熔融將所述熱電阻元件(1)密封在所述雙層熱縮管Ⅰ(7)內。

3.根據權利要求1或2所述的透平機上測量軸瓦用微型鉑電阻探頭，其特征在于：所述保護套管(2)在與所述信號導線Ⅰ(3)的連接處通過壓接與所述信號導線Ⅰ(3)固定連接。

4.根據權利要求3所述的透平機上測量軸瓦用微型鉑電阻探頭，其特征在于：所述接線管(6)與所述信號導線Ⅱ(4)連接一端還置有熱縮管Ⅱ(8)，所述熱縮管Ⅱ(8)加熱固定在所述接線管(6)和所述信號導線Ⅱ(4)連接處。

5.根據權利要求1所述的透平機上測量軸瓦用微型鉑電阻探頭，其特征在于：所述熱電阻元件(1)為薄膜鉑電阻芯片，所述薄膜鉑電阻芯片的各引腳與所述信號導線Ⅰ(3)的連接處置有熱縮管。

6.根據權利要求1所述的透平機上測量軸瓦用微型鉑電阻探頭，其特征在于：所述熱電阻元件(1)為薄膜鉑電阻芯片，所述薄膜鉑電阻芯片的各引腳與所述信號導線Ⅰ的連接處涂有絕緣漆。

7.根據權利要求1所述的透平機上測量軸瓦用微型鉑電阻探頭，其特征在于：在所述保護套管(2)、所述熱電阻元件(1)和環氧樹脂膠(5)形成的腔體中還置有導熱膏(9)。