[實用新型]一種用于測量異型薄壁類零部件的裝置有效
| 申請號: | 201720651044.X | 申請日: | 2017-06-07 |
| 公開(公告)號: | CN207050624U | 公開(公告)日: | 2018-02-27 |
| 發明(設計)人: | 韓梅;劉海軍;陳少新 | 申請(專利權)人: | 中國航空工業集團公司西安飛行自動控制研究所 |
| 主分類號: | G01B5/06 | 分類號: | G01B5/06 |
| 代理公司: | 中國航空專利中心11008 | 代理人: | 俞曉祥 |
| 地址: | 710065 陜*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 測量 異型 薄壁 零部件 裝置 | ||
1.一種用于測量異型薄壁類零部件的裝置,包括外徑千分尺,其特征在于:該裝置還包括第一帽型測頭和第二帽形測頭,這兩種測頭均為帶盲孔的圓柱體,分別套裝在所述外徑千分尺的測桿上,其中所述第一帽型測頭在端面具有向外伸出的頂桿。
2.根據權利要求1所述的用于測量異型薄壁類零部件的裝置,其特征在于:所述第一帽型測頭和第二帽形測頭具有相同的外徑和內徑,且外徑根據被測零部件的結構進行調整。
3.根據權利要求1或2所述的用于測量異型薄壁類零部件的裝置,其特征在于:偏心的所述頂桿在所述第一帽型測頭端面的最外沿。
4.根據權利要求1或2所述的用于測量異型薄壁類零部件的裝置,其特征在于:偏心的所述頂桿的長度根據被測零部件的結構進行調整。
5.根據權利要求1或2所述的用于測量異型薄壁類零部件的裝置,其特征在于:所述第一帽型測頭和第二帽形測頭與測桿過盈配合。
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