[實用新型]一種USB端口測試系統

有效

• 申請號: 201720641839.2
• 申請日: 2017-06-05
• 公開（公告）號: CN206920530U
• 公開（公告）日: 2018-01-23
• 發明（設計）人: 余松
• 申請（專利權）人: 廣州視源電子科技股份有限公司;廣州視睿電子科技有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京知元同創知識產權代理事務所(普通合伙)11535
• 代理人: 劉元霞,張祖萍

技術領域

本實用新型涉及一種電源測試系統，具體涉及一種USB端口測試系統。

背景技術

USB(通用串行總線)是一種外部總線標準，用于規范計算機與外部設備的連接和通訊。目前，越來越多的電子設備設計有USB端口，為了保證USB端口能夠正常工作，在電子設備出廠檢驗以及日常檢查時都需要測試USB端口是否滿足行業標準，例如USB端口的供電電壓以及供電電流是否符合規范，數據傳輸性能是否良好。通常的測試方法是將一USB負載插入電子設備的USB端口，再通過電子設備的自動測試程序，檢查是否能夠正常檢測到USB負載的存在。對于電子設備存在多個USB端口的情況，需要對每個USB端口進行一一測試，由于相鄰USB端口之間有干涉，干涉時插拔容易造成被測產品及測試負載的損壞。并且USB負載在測試時會發熱，當發熱量過大時，可能會燙傷測試者，或者融化與USB負載接觸的塑料件，因此存在較大的安全隱患。另外，目前的USB端口測試一般只能做單一的加載測試，沒有兼容其他測試項；如果需要測試其他項，需要借助其他手段來完成。

實用新型內容

為了解決上述技術問題，本實用新型提供了一種USB端口測試系統。

本實用新型提出的技術方案如下。

一種USB端口測試系統，包括N個USB負載模塊和M個測試電路，其中，每個USB負載模塊包括能夠與待測電子設備的USB端口的相應端子通過線纜連接的第一端子和第二端子，每個USB負載模塊還包括與第一端子和第二端子對應的模擬負載，N為大于等于2的整數；每個測試電路分別與N個模擬負載連接，M為大于等于1的整數。

優選地，所述M個測試電路包括負載接入測試電路、衰減測試電路、倒灌測試電路和/或短路測試電路。

優選地，所述負載接入測試電路包括連接在每組的第一端子和對應模擬負載之間的第一可控開關；所述短路測試電路包括連接在每組的第一端子和第二端子之間的第二可控開關；所述衰減測試電路包括連接在第一端子和第二端子之間的測試探頭。

優選地，所述模擬負載包括第三電阻、第四電阻和第三可控開關，第一可控開關和第四電阻串聯連接，第一可控開關和第四電阻組成的串聯電路連接在第一端子和第二端子之間，第三電阻和第三可控開關串聯連接，第三電阻和第三可控開關組成的串聯電路與第四電阻相并聯。

優選地，所述USB端口測試系統還包括選擇控制電路。

優選地，所述第一可控開關、第二可控開關和/或第三可控開關的控制端連接選擇控制電路的相應輸出控制信號端口。

優選地，所述衰減測試電路還包括衰減測試控制電路和方波發生器，方波發生器通過第四可控開關或手動開關連接至USB端口測試系統的供電電路；方波發生器與衰減測試控制電路連接，衰減測試控制電路對方波發生器輸出的脈沖信號進行放大后經開關輸出至各個第一可控開關的控制端。

優選地，所述USB端口測試系統還包括倒灌測試電路，倒灌測試電路包括連接至USB端口測試系統的供電電路的多個串聯電阻，串聯電阻之間的連接點能夠連接至多個可控開關的一端，多個可控開關的另一端連接各USB負載模塊的第一端子。

優選地，所述選擇控制電路由多個手動開關、多個可控開關或由單片機構成；其中可控開關由繼電器或半導體開關構成。

優選地，所述USB端口測試系統還包括散熱裝置。

本實用新型的有益效果：本實用新型提出的USB端口測試系統采用USB線纜連接USB端口與USB負載，能夠消除插拔干涉。并且USB端口測試系統可以同時對多個USB端口進行測試。再者，本實用新型整合了USB Power相關的測試項，如負載接入測試、衰減(Droop)、短路、倒灌等，可以對待測電子設備的USB端口進行多種測試，降低成本的同時也提升了效率。另外本實用新型加入了散熱裝置，能夠保護人身財產安全。

附圖說明

圖1為本實用新型提出的USB端口測試系統的結構示意圖；

圖2為本實用新型提出的USB端口測試系統中的USB負載模塊電路圖；

圖3為本實用新型提出的USB端口測試系統中的衰減測試控制電路圖；

圖4為本實用新型提出的用于衰減測試控制電路的方波發生器；

圖5為本實用新型提出的USB端口測試系統中的倒灌測試電路圖；

圖6為本實用新型提出的USB端口測試系統中的各測試功能手動開關選擇控制電路圖。

具體實施方式