[實用新型]一種雙極型功率晶體管開關時間參數標準檢測裝置

有效

• 申請號: 201720641768.6
• 申請日: 2017-06-05
• 公開（公告）號: CN206788313U
• 公開（公告）日: 2017-12-22
• 發明（設計）人: 徐迎春;劉沖;闞勁松;王酣
• 申請（專利權）人: 中國電子技術標準化研究院
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26
• 代理公司: 北京世譽鑫誠專利代理事務所(普通合伙)11368
• 代理人: 孫國棟

技術領域

本實用新型涉及一種晶體管檢測裝置，具體涉及一種雙極型功率晶體管開關時間參數標準檢測裝置，屬于半導體技術領域。

背景技術

(1)雙極型功率晶體管特點

雙極型功率晶體管(Power Bipolar Junction switching Transistor簡稱PBJT)的優點是易于產生大功率、同時獲得高壓和大電流、飽和壓降低、模擬應用頻率較高等特點。

(2)雙極型功率晶體管開關時間參數的重要性

晶體開關管具有高頻高速的特點，廣泛地運用于航天航空、通訊、雷達和武器裝備等電子系統和民用電子設備中，其質量直接影響電子系統(設備)可靠性。開關時間是表征雙極型功率晶體管動態特性的特征參數，是評價晶體開關管的最重要的質量參數，也是電子器件生產和使用單位用于評價、驗收試驗雙極型功率晶體開關管的最重要技術參數指標。當晶體管用作開關時，其開關時間參數將直接影響電路的工作頻率和整機性能。

(3)雙極型功率晶體管開關時間參數測試系統

目前國內功率半導體器件生產量和使用量較大的單位，均配備一定數量的雙極型功率晶體管開關時間參數測試系統或者功率半導體器件動態參數測試設備(具備雙極型功率晶體管開關時間參數測試功能)。這些測試系統中，國內研發的典型代表為北京勵芯泰斯特生產的BC3193TM分立器件開關時間參數測試系統，目前應用較多的國外測試系統是ITC公司的ITC5730(新替代型號為：ITC57300)功率半導體器件動態參數測試系統。

(4)雙極型功率晶體管開關時間參數測試系統校準現狀

雙極型功率晶體管開關時間參數測試系統在組成框架上分為：計算機控制單元、偏置電壓源(直流或者脈沖)、偏置電流源(脈沖)、動態參數測量顯示單元、測量用脈沖/波形源、測試適配器、標準樣管以及其他輔助電路幾部分組成。對該測試系統的檢定可以參照“分項參數法”進行，即對該測試設備對測試結果有影響的單元進行一一檢定，從而保證功率半導體器件動態參數測試設備給出的數據準確、可靠。根據被檢測試設備的組成框架，偏置電壓源、偏置電流源、動態參數測量單元、測量用脈沖/波形源均可以參照已有的檢定規程進行檢定，目前不能夠實現檢定的為雙極型功率晶體管開關參數標準樣管，標準樣管開關時間范圍：10ns～1000ns，技術指標：±(15％～12％)，偏置電流I_B/I_C：0.1A/10A～1A/100A。

因此，研制一種雙極型功率晶體管開關時間參數標準檢測裝置是非常必要的，并且該裝置也有重要的應用前景。

發明內容

本實用新型針對上述現有技術存在的問題作出改進，提供一種雙極型功率晶體管開關時間參數標準檢測裝置，用于雙極型功率晶體管開關時間參數標準樣管的檢測和校準。

為了實現上述目標，本實用新型所采用的技術方案是：

一種雙極型功率晶體管開關時間參數標準檢測裝置，其特征在于，包括計算機控制單元(1)、時序控制單元(2)、集電極偏置電源(3)、基極脈沖源(4)、測量顯示單元(5)和測試適配器(6)，所述計算機控制單元(1)與所述時序控制單元(2)連接，所述時序控制單元(2)和所述集電極偏置電源(3)、所述基極脈沖源(4)和所述測量顯示單元(5)連接，所述集電極偏置電源(3)和所述基極脈沖源(4)與所述測試適配器(6)連接，所述測試適配器(6)與所述測量顯示單元(5)連接，工作時，待測雙極型功率晶體管與所述測試適配器(6)電氣連接，所述計算機控制單元(1)向時序控制單元(2)發送測試指令；所述時序控制單元(2)控制所述基極脈沖源(4)產生脈沖信號，驅動所述集電極偏置電源(3)產生脈沖電壓測試信號；所述測量顯示單元(5)通過所述測試適配器(6)采集被測雙極型功率晶體管的集電極和基極信號波形，分析后得到檢測數據。

前述的一種雙極型功率晶體管開關時間參數標準檢測裝置，其特征在于，所述時序控制單元(2)設定的測試周期為1μs至100μs。

前述的一種雙極型功率晶體管開關時間參數標準檢測裝置，其特征在于，所述基極脈沖源(4)還包括：基極脈沖發生器(41)、基極儲能單元(42)和超高速基極驅動器(43)，工作時，所述基極脈沖發生器(41)產生脈沖信號對所述基極儲能單元(42)充放電，驅動所述超高速基極驅動器(43)輸出脈沖信號。