[實(shí)用新型]測(cè)量金屬表面微噴射物質(zhì)的同軸雙極式電探針及測(cè)試電路

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201720609017.6
• 申請(qǐng)日: 2017-05-27
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN206945593U
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-01-30
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 文雪峰;范誠(chéng);張茹;張宇紅;李英;蒲國(guó)紅
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 中國(guó)工程物理研究院流體物理研究所
• 主分類號(hào): G01N27/00
• 分類號(hào): G01N27/00;G01N27/04
• 代理公司: 四川省成都市天策商標(biāo)專利事務(wù)所51213
• 代理人: 秦華云,李潔

1.一種測(cè)量金屬表面微噴射物質(zhì)的同軸雙極式電探針，其特征在于：包括放電極(1)、陶瓷管(2)和地極(3)，所述放電極(1)與地極(3)均由導(dǎo)電材料制造而成，所述陶瓷管(2)由絕緣陶瓷材料制造而成，所述放電極(1)外部緊密包裹有陶瓷管(2)，所述陶瓷管(2)外部緊密包裹有地極(3)；所述放電極(1)具有檢測(cè)端A和連接端A，所述地極(3)具有檢測(cè)端B和連接端B，所述陶瓷管(2)靠近放電極(1)檢測(cè)端A的一端端部為檢測(cè)端C，所述陶瓷管(2)遠(yuǎn)離放電極(1)檢測(cè)端A的另一端端部為連接端C；所述放電極(1)的連接端A電連接有第一連接電纜(4)，所述地極(3)的連接端B電連接有第二連接電纜(5)，所述放電極(1)的檢測(cè)端A、地極(3)的檢測(cè)端B、陶瓷管(2)的檢測(cè)端C三者相對(duì)應(yīng)設(shè)置。

2.按照權(quán)利要求1所述的測(cè)量金屬表面微噴射物質(zhì)的同軸雙極式電探針，其特征在于：所述放電極(1)的檢測(cè)端A、地極(3)的檢測(cè)端B、陶瓷管(2)的檢測(cè)端C三者端面平齊；所述放電極(1)為漆包線，所述地極(3)為銅管。

3.按照權(quán)利要求1所述的測(cè)量金屬表面微噴射物質(zhì)的同軸雙極式電探針，其特征在于：所述陶瓷管(2)的長(zhǎng)度大于放電極(1)的長(zhǎng)度；所述陶瓷管(2)的長(zhǎng)度大于地極(3)的長(zhǎng)度。

4.按照權(quán)利要求1所述的測(cè)量金屬表面微噴射物質(zhì)的同軸雙極式電探針，其特征在于：所述放電極(1)、陶瓷管(2)、地極(3)均呈圓柱體形狀。

5.一種由權(quán)利要求1～4任一項(xiàng)所述的同軸雙極式電探針?biāo)鶚?gòu)成的測(cè)試電路，其特征在于：包括同軸雙極式電探針和信號(hào)形成電路(6)，所述第一連接電纜(4)、第二連接電纜(5)分別通過(guò)導(dǎo)線與信號(hào)形成電路(6)電連接，所述第二連接電纜(5)還通過(guò)導(dǎo)線接地；所述信號(hào)形成電路(6)包括電壓源(E)、第一電阻(R_E)、第二電阻(R_p)、第一電容(C₁)、第二電容(C₂)、第三電阻(R_s)，所述第一電阻(R_E)的一端與電壓源(E)連接，所述第二電阻(R_p)的一端分別與第一連接電纜(4)連接，所述第二電阻(R_p)的另一端、第一電容(C₁)的一端、第二電容(C₂)的一端與第一電阻(R_E)的另一端連接，所述第一電容(C₁)的另一端、第二電容(C₂)的另一端與第三電阻(R_s)的一端連接，所述第三電阻(R_s)的另一端接地，所述第三電阻(R_s)的另一端還與第二連接電纜(5)電連接。

6.按照權(quán)利要求5所述的測(cè)試電路，其特征在于：所述第一電容(C₁)的電容值大于第二電容(C₂)的電容值。

7.按照權(quán)利要求6所述的測(cè)試電路，其特征在于：所述第一電容(C₁)的電容值C按照下式進(jìn)行計(jì)算：

上式中，T_恒壓為預(yù)設(shè)的第一電容(C₁)的恒壓時(shí)間，R_RP為第二電阻(R_p)的阻值，R_RS為第三電阻(R_s)的阻值，R_RX為被測(cè)物質(zhì)(R_X)的阻值，ΔV_C1/V_C1始為恒壓時(shí)間內(nèi)的第一電容(C₁)的電壓變化需求值，其中ΔV_C1為恒壓時(shí)間內(nèi)第一電容(C₁)電壓的變化值，V_C1始為恒壓時(shí)間內(nèi)第一電容(C₁)電壓的初始值。

8.按照權(quán)利要求7所述的測(cè)試電路，其特征在于：恒壓時(shí)間內(nèi)的第一電容(C₁)的電壓變化需求值小于等于1％。

9.按照權(quán)利要求5所述的測(cè)試電路，其特征在于：所述第二電阻(R_p)的阻值和第三電阻(R_s)的阻值均為50Ω。