[實(shí)用新型]一種Type-C接口及其連接檢測(cè)電路

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201720597502.6
• 申請(qǐng)日: 2017-05-25
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN207281214U
• 公開(kāi)（公告）日: 2018-04-27
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉小靈;楊禹
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 深圳市樂(lè)得瑞科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01R31/02
• 分類(lèi)號(hào): G01R31/02
• 代理公司: 深圳中一聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司44414
• 代理人: 張全文

技術(shù)領(lǐng)域

本實(shí)用新型屬于接口連接檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種Type-C接口及其連接檢測(cè)電路。

背景技術(shù)

Type-C接口是USB接口的一種連接介面，其不分正反兩面均可插入，支持USB標(biāo)準(zhǔn)的充電、數(shù)據(jù)傳輸、顯示輸出等功能。

目前，Type-C接口都包含一顆接口控制芯片來(lái)對(duì)外部設(shè)備的插入進(jìn)行檢測(cè)，現(xiàn)有的Type-C接口的連接檢測(cè)分為UFP(Upstream Facing Port)設(shè)備的連接檢測(cè)(如圖1a所示)和DFP(Downstream Facing Port)設(shè)備的連接檢測(cè)(如圖1b所示)。在圖1a所示的UFP設(shè)備的連接檢測(cè)中，當(dāng)無(wú)UFP設(shè)備連接時(shí)，CC(Configuration Channel)線(xiàn)上A節(jié)點(diǎn)的電平是高電平；當(dāng)有UFP設(shè)備連接時(shí)，CC線(xiàn)上A節(jié)點(diǎn)的電壓約為1.7V，而在數(shù)字邏輯中，1.7V電壓既非邏輯0又非邏輯1，因此，接口控制芯片無(wú)法通過(guò)數(shù)字邏輯來(lái)判別A節(jié)點(diǎn)電平的變化，只能通過(guò)其采樣端采集A節(jié)點(diǎn)的電壓值，根據(jù)電壓值的變化來(lái)判斷是否有外部設(shè)備連接，即當(dāng)有外部設(shè)備連接至Type-C接口時(shí)，A節(jié)點(diǎn)電壓值便發(fā)生變化，通過(guò)檢測(cè)A節(jié)點(diǎn)電壓值的變化來(lái)實(shí)現(xiàn)Type-C接口的連接檢測(cè)。DFP設(shè)備的連接檢測(cè)原理亦如此。在實(shí)際應(yīng)用中，接口控制芯片無(wú)法預(yù)知何時(shí)會(huì)有外部設(shè)備插入，所以接口控制芯片不能休眠，需要一直開(kāi)啟來(lái)采集A節(jié)點(diǎn)的電壓值，因而導(dǎo)致接口控制芯片的功耗較高。因此，現(xiàn)有的Type-C接口中的接口控制芯片因一直開(kāi)啟檢測(cè)CC線(xiàn)上某節(jié)點(diǎn)的電壓值而存在功耗較高的問(wèn)題。

實(shí)用新型內(nèi)容

本實(shí)用新型的目的在于提供一種Type-C接口的連接檢測(cè)電路，旨在解決現(xiàn)有的Type-C接口中的接口控制芯片因一直開(kāi)啟檢測(cè)CC線(xiàn)上某節(jié)點(diǎn)的電壓值而存在功耗較高的問(wèn)題。

本實(shí)用新型是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種Type-C接口的連接檢測(cè)電路，包括接口控制模塊、第一檢測(cè)模塊及第二檢測(cè)模塊；

所述接口控制模塊的第一控制端和第二控制端分別與所述第一檢測(cè)模塊的受控端和第二檢測(cè)模塊的受控端相連接，所述第一檢測(cè)模塊的檢測(cè)輸出端與所述第二檢測(cè)模塊的檢測(cè)輸出端共接于所述接口控制模塊的外部中斷端；

當(dāng)檢測(cè)是否有UFP設(shè)備與Type-C接口相連接時(shí)，所述接口控制模塊輸出第一使能信號(hào)以使第一檢測(cè)模塊執(zhí)行檢測(cè)，當(dāng)UFP設(shè)備連接至所述Type-C接口時(shí)，所述第一檢測(cè)模塊的檢測(cè)輸出端的電平發(fā)生變化以觸發(fā)所述接口控制模塊的外部中斷；

當(dāng)檢測(cè)是否有DFP設(shè)備與Type-C接口相連接時(shí)，所述接口控制模塊輸出第二使能信號(hào)以使第二檢測(cè)模塊執(zhí)行檢測(cè)，當(dāng)DFP設(shè)備連接至所述Type-C接口時(shí)，所述第二檢測(cè)模塊的檢測(cè)輸出端的電平發(fā)生變化以觸發(fā)所述接口控制模塊的外部中斷。

在本實(shí)用新型中，Type-C接口的連接檢測(cè)電路包括接口控制模塊、第一檢測(cè)模塊及第二檢測(cè)模塊，當(dāng)UFP設(shè)備連接至Type-C接口時(shí)，第一檢測(cè)模塊的檢測(cè)輸出端的電平發(fā)生變化以觸發(fā)接口控制模塊的外部中斷；當(dāng)DFP設(shè)備連接至Type-C接口時(shí)，第二檢測(cè)模塊的檢測(cè)輸出端的電平發(fā)生變化以觸發(fā)接口控制模塊的外部中斷。當(dāng)外部設(shè)備連接至Type-C接口時(shí)，電平發(fā)生變化以觸發(fā)接口控制模塊的外部中斷，外部中斷喚醒接口控制模塊，因此，接口控制模塊無(wú)需一直處于工作狀態(tài)來(lái)檢測(cè)節(jié)點(diǎn)電壓值的變化，接口控制模塊的功耗得以降低。

附圖說(shuō)明

圖1a是現(xiàn)有技術(shù)提供的Type-C接口的UFP設(shè)備連接檢測(cè)電路的示例電路圖；

圖1b是現(xiàn)有技術(shù)提供的Type-C接口的DFP設(shè)備連接檢測(cè)電路的示例電路圖；

圖2是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的Type-C接口的連接檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)圖；

圖3是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的Type-C接口的連接檢測(cè)電路中第一檢測(cè)模塊的示例電路圖；

圖4是本實(shí)用新型另一實(shí)施例提供的Type-C接口的連接檢測(cè)電路中第一檢測(cè)模塊的示例電路圖；

圖5是本實(shí)用新型實(shí)施例提供的Type-C接口的連接檢測(cè)電路中第二檢測(cè)模塊的示例電路圖；

圖6是本實(shí)用新型另一實(shí)施例提供的Type-C接口的連接檢測(cè)電路中第二檢測(cè)模塊的示例電路圖。

具體實(shí)施方式

為了使本實(shí)用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對(duì)本實(shí)用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說(shuō)明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本實(shí)用新型，并不用于限定本實(shí)用新型。

圖2示出了本實(shí)用新型實(shí)施例提供的Type-C接口的連接檢測(cè)電路的結(jié)構(gòu)，為了便于說(shuō)明，僅示出了與本實(shí)用新型實(shí)施例相關(guān)的部分，詳述如下：