[實用新型]一種蒸發光散射檢測器

有效

• 申請號: 201720593305.7
• 申請日: 2017-05-25
• 公開（公告）號: CN206818610U
• 公開（公告）日: 2017-12-29
• 發明（設計）人: 姚冬;徐曉東
• 申請（專利權）人: 蘇州賽德福科學儀器有限公司
• 主分類號: G01N21/51
• 分類號: G01N21/51;G01N21/01
• 代理公司: 南京天華專利代理有限責任公司32218
• 代理人: 夏平

技術領域

本實用新型涉及一種蒸發光散射檢測器。

背景技術

蒸發光散射檢測器屬于質量檢測器，理論上可以檢測到揮發性低于流動相的任何物質，但對有紫外吸收的樣品組份檢測靈敏度比較底，重現性比較差(出廠要求重現性RSD<6％即可)，現常用于檢測沒有紫外吸收的物質。

現有的蒸發光散射檢測器，包括機箱，如圖1所示，機箱中設有依次連接的霧化管1'、漂移管2'、檢測室。漂移管2'包括依次連接在一起的進液段、呈拉伸開的彈簧狀的本體、出液段，進口段和出口段呈垂直布置。漂移管上繞設有加熱帶(圖中未示出)。檢測室包括豎直布置的檢測室主體3'，檢測室主體3'下端設有與漂移管2'相連接的檢測物進口，檢測室主體3'側壁上設有激發光源4'，檢測室側壁3'上在激發光源4'對面設有光源吸收光阱5'，檢測室主體3'上設有探測器鏡筒6'，探測器鏡筒6'另一端連接有光電傳感器7'，探測器鏡筒6'包括設置在檢測室主體3'上的筒體、以及固定設置在筒體上遠離檢測室主體一端上的光欄；檢測室主體3'側壁上在探測器鏡筒6'對面還設有一個光源吸收光阱8'。

這種結構的檢測器，當檢測物蒸發不充分時，或者蒸發失效的時候，所有冷凝的溶劑全部沿著漂移管流回霧化管。造成兩個問題，一方面加大了溶劑對漂移管的腐蝕，另一方面，增加了霧化管排液的壓力。

另外，由于漂移管本體呈拉伸開的彈簧狀，加熱帶纏繞采用單根模式，工作十分繁瑣，并且溫度均勻性不好。

檢測器使用時從光源發出的光線，全部會穿過樣品，在樣品中產生散射，部分散射光會進入光電傳感器中(這是用戶需要的)；穿過樣品入射光線，會照射在光源對面的檢測室壁上，形成漫反射，部分漫反射光會進入光電傳感器中，這就是檢測室中雜散光。檢測器雖然具有兩個光阱，都是用于減少漫反射的，但是，由于光源光阱開口過大，漫反射水平還是很高，且使得設備光路復雜，體積大，成本高。

這種結構的檢測器，由于檢測器中的探測器鏡筒無法很好地適應各種不同樣品，使儀器在對一些樣品測量時的基線噪聲與測量線性范圍不能維持在一個比較好的狀態下。

實用新型內容

本實用新型所要解決的技術問題是：提供一種漂移管使用壽命長的蒸發光散射檢測器。

為解決上述技術問題，本實用新型所采用的技術方案為：一種蒸發光散射檢測器，包括機箱，機箱上設有檢測門，檢測門上設有觀察窗，機箱中設有依次連接的霧化管、漂移管、檢測室，霧化管設于機箱中的檢測門的觀察窗處，漂移管包括依次連接在一起的進液段、呈壓縮到底的彈簧狀的本體、出液段，進液段與出液段平行，進液段與霧化管連接，出液段與檢測室相連接，本體上包覆有加熱帶，檢測室主體軸線位于水平狀態，所述檢測室主體側壁上設有漏液口，漏液口處設有漏液接頭，漏液口位于檢測室主體側壁上豎直方向的低點處。

作為一種優選的方案，所述檢測室包括檢測室主體，檢測室主體軸向端部設有與漂移管連接的檢測物進口，檢測室主體側壁上設有激發光源，檢測室側壁上在激發光源對面設有光源吸收光阱，光源吸收光阱靠近檢測室一端設有端板，端板上設有直徑小于光源吸收阱內徑的三分之一的吸收孔，檢測室主體上設有探測器鏡筒，探測器鏡筒另一端連接有光電傳感器，探測器鏡筒包括設置在檢測室主體上的筒體、以及可拆卸地設置在筒體上遠離檢測室主體一端上的光欄；

作為一種優選的方案，所述機箱中在漂移管底部設有散熱風機。

本實用新型的有益效果是：由于漂移管包括依次連接在一起的進液段、呈壓縮到底的彈簧狀的本體、出液段，進液段與出液段平行，進液段與霧化管連接，出液段與檢測室相連接，本體上包覆有加熱帶，不僅體積上大幅度減小，使得檢測器內部結構更為合理、緊湊。而且這種結構的漂移管使得檢測室主體可以水平放置，檢測室主體側壁上設有漏液口，漏液口位于檢測室主體側壁上豎直方向的低點處，冷凝的溶劑大部分通過漏液口排出，由于檢測室主體內壁都是設有防護涂層的，不會受腐蝕；冷凝的溶劑只有極小部分通過漂移管流回霧化管，減小了漂移管的腐蝕風險，提高了儀器的安全性。

而且加熱帶纏繞可采用并排模式，將幾層漂移管緊緊壓在一起，以提高漂移管內的溫度均勻性，進一步減少溶劑的冷凝；

霧化管設于機箱中的檢測門的觀察窗處，便于用戶觀察霧化效果。

由于檢測室側壁上在激發光源對面設有光源吸收光阱，光源吸收光阱靠近檢測室一端設有端板，端板上設有直徑小于光源吸收阱內徑的三分之一的吸收孔，這樣可將檢測室內光源光第一次漫反射降到很低的水平，也就是系統雜散光降低很多，使得檢測結果更為準確；同時也減少了制造成本。